Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2006Microtribological behaviour of thin DLC films using different testing methods
Bandorf, R.; Lüthje, H.; Staedler, T.
Zeitschriftenaufsatz
2004Influencing factors on microtribology of DLC films for MEMS and microactuators
Bandorf, R.; Lüthje, H.; Staedler, T.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2003Influence of substrate material and topography on the tribological behaviour of submicron coatings
Bandorf, R.; Lüthje, H.; Wortmann, A.; Staedler, T.; Wittorf, R.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2003Microtribological behaviour of thin DLC films using different testing methods
Bandorf, R.; Lüthje, H.; Staedler, T.
Konferenzbeitrag
2002Sub-micron coatings with low friction and wear for micro actuators
Bandorf, R.; Lüthje, H.; Schiffmann, K.; Staedler, T.; Wortmann, A.
Zeitschriftenaufsatz
2001Correlation of nanomechanical and nanotribological behavior of thin DLC coatings on different substrates
Staedler, T.; Schiffmann, K.
Zeitschriftenaufsatz
2001Influence of tipradius and substrate on the nanotribological characterization of thin DLC coatings
Staedler, T.; Schiffmann, K.I.
Konferenzbeitrag
2001Mechanische und tribologische Charakterisierung dünner Schichten mit Hilfe rastersondenbasierter Verfahren
Staedler, T.
Dissertation
2001Micromechanical and microtribological properties of thin CNx and DLC coatings
Staedler, T.; Schiffmann, K.
Zeitschriftenaufsatz
2001Sub-micron coatings with low friction and wear for micro actuators
Bandorf, R.; Lüthje, H.; Schiffmann, K.; Staedler, T.; Wortmann, A.
Konferenzbeitrag
2000Mikrotribologische und mikromechanische Eigenschaften dünner CNX- und DLC-Schichten
Staedler, T.; Schiffmann, K.I.
Konferenzbeitrag
2000Mikrotribologische und mikromechanische Eigenschaften dünner CNx‐ und DLC‐Schichten
Staedler, T.; Schiffmann, K.I.
Zeitschriftenaufsatz
1999Ex situ and in situ spectroscopic ellipsometry of MF and DC-sputtered TiO2 and SiO2 films for process control
Vergöhl, M.; Malkomes, N.; Staedler, T.; Matthee, T.; Richter, U.
Konferenzbeitrag
1999Ex situ and in situ spectroscopic ellipsometry of MF and DC-sputtered TiO2 and SiO2 films for process control
Vergöhl, M.; Malkomes, N.; Staedler, T.; Matthee, T.; Richter, U.
Zeitschriftenaufsatz