Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2012Fabry-Perot tunable infrared filter based on structured reflectors
Kurth, S.; Hiller, K.; Neumann, N.; Seifert, M.; Ebermann, M.; Specht, H.; Meinig, M.; Gessner, T.
Konferenzbeitrag
2011Method for characterizing movable micro-mirror for projector used in e.g. digital camera, involves determining function parameters of micro-mirror by evaluating device, based on detected portions of test image of micro-mirror
Specht, H.; Kurth, S.; Gessner, T.; Fiess, R.; Krayl, O.; Krueger, M.; Wiest, G.; Hilberath, T.
Patent
2011Neuartiger frequenz- und amplitudenabstimmbarer Infrarotfilter
Specht, H.; Meinig, M.; Kurth, S.; Hiller, K.; Ebermann, M.; Neumann, N.; Gittler, E.; Gessner, T.
Konferenzbeitrag
2010Image based test methodology for laser display scanners
Specht, H.; Kurth, S.; Billep, D.; Kaufmann, C.; Gessner, T.
Konferenzbeitrag
2009Analysis of image quality for laser display scanner test
Specht, H.; Kurth, S.; Billep, D.; Gessner, T.
Konferenzbeitrag
2009Exploring microsystems - measurement and test in fabrication and R&D
Kurth, S.; Faust, W.; Specht, H.; Meinig, M.; Fernholz, G.
Zeitschriftenaufsatz
2009Novel test structures for characterization of microsystems parameters at wafer level
Shaporin, A.; Streit, P.; Specht, H.; Mehner, J.; Dötzel, W.
Konferenzbeitrag
2009Performance and reliability test of MEMS optical scanners
Kurth, S.; Kaufmann, C.; Hahn, R.; Specht, H.; Gessner, T.
Zeitschriftenaufsatz
2007enversys - Towards a Competence Center for Advanced Engineering and Verification Techniques for Heterogeneous Systems
Specht, H.; Mehner, J.; Otto-Adamczak, T.; Cristiano, D.; Winkler, T.; Neugebauer, R.; Gessner, T.
Abstract
2007Laser-Display-System auf Basis von MEMS-Scannern
Specht, H.; Kurth, S.; Kaufmann, C.; Hahn, R.; Dötzel, W.; Gessner, T.; Mehner, J.
Konferenzbeitrag
2007MEMS based laser display system
Specht, H.; Kurth, S.; Kaufmann, C.; Gessner, T.; Dötzel, W.
Konferenzbeitrag
2006MEMS based micro scanners: Components, technologies and applications
Geßner, T.; Bonitz, J.; Kaufmann, C.; Kurth, S.; Specht, H.
Konferenzbeitrag
2005Entwicklung und Implementierung einer Standard-Busschnittstelle für Hochtemperaturanwendungen in Verilog
Specht, H.
Diplomarbeit
1999Welches Reinigungssystem ist das richtige?
Specht, H.; Eckardt, T.
Zeitschriftenaufsatz