Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2005Test circuits for fast and reliable assessment of CDM robustness of I/O stages
Stadler, W.; Esmark, K.; Reynders, K.; Zubeidat, M.; Graf, M.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Qu, N.; Mettler, S.; Etherton, M.; Nuernbergk, D.; Wolf, H.; Gieser, H.; Soppa, W.; Heyn, V. de; Natarajan, M.; Groeseneken, G.; Morena, E.; Stella, R.; Andreini, A.; Litzenberger, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Foss, C.; Konrad, A.; Frank, M.
Zeitschriftenaufsatz
2004Characterization and modeling of transient device behavior under CDM ESD stress
Willemen, J.; Andreini, A.; Heyn, V. de; Esmark, K.; Etherton, M.; Gieser, H.; Groeseneken, G.; Mettler, S.; Morena, E.; Qu, N.; Soppa, W.; Stadler, W.; Stella, R.; Wilkening, W.; Wolf, H.; Zullino, L.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2003Impact of layer thickness variations of SOI-wafer on ESD-robustness
Graf, M.; Dietz, F.; Dudek, V.; Bychikhin, S.; Pogany, D.; Gornik, E.; Soppa, W.; Wolf, H.
Konferenzbeitrag
2003Test Circuits for Fast and Reliable Assessment of CDM Robustness of I/O stages
Stadler, W.; Esmark, K.; Reynders, K.; Zubeidat, M.; Graf, M.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Qu, N.; Mettler, S.; Etherton, M.; Nuernbergk, D.; Wolf, H.; Gieser, H.; Soppa, W.; Heyn, M. de; Natarajan, M.I.; Groeseneken, G.; Morena, E.; Stella, R.; Andreini, A.; Litzenberger, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Foss, C.; Konrad, A.; Frank, M.
Konferenzbeitrag