Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2016Google - das Schweizer Messer zur Verwundbarkeitsanalyse?
Simon, Kai; Moucha, Cornelius
Zeitschriftenaufsatz
2016Klassifizierung und Evaluation verschiedener Datensammler zur Schwachstellenermittlung
Sedlmeier, Maximilian
: Keller, Jörg (Supervisor); Kubek, Mario (Supervisor); Simon, Kai (Supervisor); Schwarz, Reinhard (Supervisor)
Master Thesis
2016Verwundbarkeitsprüfungen mit Shodan
Simon, Kai; Moucha, Cornelius
Zeitschriftenaufsatz
2015Erschließung, Optimierung und Bewertung von Verwundbarkeitsanalysen mit öffentlich zugänglichen Datensammlern
Simon, Kai; Moucha, Cornelius
Bericht
2015Purification and immunodetection of the complete recombinant HER-2[neu] receptor produced in yeast
Chamas, Alexandre; Giersberg, Martin; Friedrich, Katrin; Sonntag, Frank; Kunze, Dietmar; Uhlig, Steffen; Simon, Kirsten; Baronian, Keith; Kunze, Gotthard
Zeitschriftenaufsatz
2015Verwendung von Google Dorks zur Durchführung von anonymisierten und personalisierten Massensuchanfragen
Oswald, Martin
: Keller, Jörg (Supervisor); Schwarz, Reinhard (Supervisor); Simon, Kai (Supervisor)
Master Thesis
2015Verwundbarkeitsanalyse mittels themenfeldorientierten Suchmaschinen
Schmidt, Olaf
: Keller, Jörg (Supervisor); Simon, Kai (Supervisor)
Master Thesis
2014Schwachstellenanalyse mittels klassischer Internet-Suchmaschinen
Opp, Axel
: Diehl, Norbert (Supervisor); Simon, Kai (Supervisor)
Master Thesis
2006Security design patterns for ambient systems
Schwarz, R.; Simon, K.
Bericht
2005Entwurf und Implementierung eines Syslog-Modules für NeMoS
Zeng, X.
: Diehl, N. (Prüfer); Simon, K. (Prüfer)
Diplomarbeit
2004CROCODILE® user manual
Peine, H.; Schwenkler, T.; Schwarz, R.; Simon, K.
Bericht
2004Improving IP accounting for secure border routers
Simon, K.; Schwenkler, T.; Groß, S.
Bericht
2004Improving IP accounting for secure border routers
Simon, K.; Schwenkler, T.; Groß, S.
Konferenzbeitrag
2004Planung und Aufbau einer Netzwerküberwachungsstation für das Fraunhofer IESE
Foe, G.
: Diehl, N. (Prüfer); Simon, K. (Prüfer)
Diplomarbeit
2004Sichere modulbasierte Zugriffslisten für Perimeter-Router
Simon, K.; Schwenkler, T.; Groß, S.
Konferenzbeitrag
2004Zentralisierte Netzwerküberwachung durch vereinheitlichte Kombination von OpenSource-Werkzeugen
Simon, K.; Schwenkler, T.; Foe, G.
Konferenzbeitrag
2003CROCODILE Benutzerhandbuch
Peine, H.; Schwenkler, T.; Schwarz, R.; Simon, K.
Bericht
2003Entwurf und Implementierung eines Moduls für ein Netzwerk-Synthesetool unter Sicherheitsaspekten
Terörde, M.
: Knauber, P. (Prüfer); Simon, K. (Prüfer)
Diplomarbeit
2003Erarbeitung einer Netzwerk IDS Lösung für das Fraunhofer IESE
Dörr, M.
: Simon, K. (Prüfer); Poller, J. (Prüfer)
Diplomarbeit
2003IT-Sicherheit durch konsequente Aggregation von Analysewerkzeugen
Groß, S.; Schwenkler, T.; Simon, K.
Bericht
2003IT-Sicherheit durch konsequente Aggregation von Analysewerkzeugen
Schwenkler, T.; Groß, S.; Simon, K.
Konferenzbeitrag
2003Sichere modulbasierte Zugriffslisten für Perimeter-Router
Simon, K.; Schwenkler, T.; Groß, S.
Bericht
2002CRACE Benutzerhandbuch. Das Cisco Router Audit & Checking Environment
Groß, S.; Peine, H.; Schwenkler, T.; Schwarz, R.; Simon, K.
Bericht
2001Entwurf und Realisierung einer Werkzeugunterstützung für die Sicherheitsüberprüfung von Cisco-Routern
Simon, K.
: Urbansky, R. (Prüfer); Schwarz, R. (Prüfer)
Diplomarbeit
1994Impact of chuck flatness on wafer distortion and stepper overlay - comparison of experimental and FEM results
Stauch, H.; Simon, K.; Scheunemann, H.U.; Huber, H.-L.
Zeitschriftenaufsatz
1993Impact of chuck flatness on wafer distortion and stepper overlay
Simon, K.; Huber, H.-L.; Gabeli, F.; Scheunemann, H.U.
Konferenzbeitrag
1992Complete X-ray lithography processing of an 8-level 0.4 micron CMOS test device
Staudt-Fischbach, P.; Windbracke, W.; Bernt, H.; Zwicker, G.; Friedrich, D.; Hemicker, P.; Lange, P.; Schliwinski, H.-J.; Huber, H.-L.; Scheunemann, U.; Simon, K.
Konferenzbeitrag
1992Overlay performance of an advanced X-ray stepper (XRS 200)
Gabeli, F.; Kucinski, A.; Simon, K.; Scheunemann, H.U.
Konferenzbeitrag
1991Evaluation of an advanced submicron X-ray stepper -XRS200- pattern transfer and alignment accuracy
Simon, K.; Gabeli, F.
Konferenzbeitrag