Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2002ToF-SIMS and XPS-investigations of ion-implanted single- crystal 1b-diamonds
Schlett, V.; Fladung, T.; Dieckhoff, S.; Stock, R.
Zeitschriftenaufsatz
2001Characterization and mechanical properties of ion-implanted diamond surfaces
Stock, H.R.; Schlett, V.; Kohlscheen, J.; Mayr, P.
Zeitschriftenaufsatz
1997Characterisation of the VG ESCALAB intstrumental broadening functions by XPS measurements at the femi edge of silver
Mähl, S.; Neumann, M.; Dieckhoff, S.; Schlett, V.; Baalmann, A.
Zeitschriftenaufsatz
1997Characterization of vapor phase deposited organic molecules on silicon surfaces
Dieckhoff, S.; Höper, R.; Schlett, V.; Gesang, T.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.; Günster, J.; Kempter, V.
Zeitschriftenaufsatz
1997Innovative methods for a deconvolution of XPS spectra from plasma-oxidized polyethylene
Mähl, S.; Lachnitt, J.; Niemann, R.; Neumann, M.; Baalmann, A.; Kruse, A.; Schlett, V.
Zeitschriftenaufsatz
1997Spectral noise distortion in photoelectron spectroscopy by acquiring data with multidetector systems
Mähl, S.; Neumann, M.; Schlett, V.; Baalmann, A.
Zeitschriftenaufsatz
1996Adhesion and film structure of cyanurates on solids
Possart, W.; Dieckhoff, S.; Gesang, T.; Schlett, V.; Hennemann, O.-D.
Konferenzbeitrag
1996The analysis of surface-adsorbed organic molecules by alkali-assisted MIES combined with UPS(Hel)
Günster, J.; Ochs, D.; Dieckhoff, S.; Schlett, V.
Zeitschriftenaufsatz
1996Characterization of triazine derivatives on silicon wafers studied by photoelectron spectroscopy (XPS, UPS) and metastable impact electron spectroscopy (MIES)
Dieckhoff, S.; Schlett, V.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.; Günster, J.; Kempter, V.
Zeitschriftenaufsatz
1996Innovative Methoden zur XPS-Spektren Entfaltung von plasmaoxidiertem Polyethylene
Mähl, S.; Lachnitt, J.; Niemann, R.; Neumann, M.; Baalmann, A.; Kruse, A.; Schlett, V.
Zeitschriftenaufsatz
1996Studies on the interphase of a model adhesive joint
Possart, W.; Fanter, D.; Dieckhoff, S.; Gesang, T.; Hartwig, A.; Höper, R.; Schlett, V.; Hennemann, O.-D.
Zeitschriftenaufsatz
1995Adsorption of cyanurate films on silicon wafers and aluminium substrated studied by XPS
Dieckhoff, S.; Schlett, V.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Konferenzbeitrag
1995Analysis of thin cyanurate prepolymer films on solids as a model of the adhesive interphase
Possart, W.; Dieckhoff, S.; Fanter, D.; Gesang, T.; Hartwig, A.; Höper, R.; Schlett, V.; Hennemann, O.-D.
Konferenzbeitrag
1995Organic film formation investigated by atomic force microscopy on the nanometer scale
Gesang, T.; Höper, R.; Dieckhoff, S.; Schlett, V.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Zeitschriftenaufsatz
1995XPS of the interphase between PMMA and metals. A study of degradation and interaction
Possart, W.; Schlett, V.
Zeitschriftenaufsatz
1995XPS studies of thin polycyanurate films on silicon wafers
Dieckhoff, S.; Schlett, V.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Zeitschriftenaufsatz
1995XPS studies of thin polycyanurate films on silicon wafers and aluminium substrates
Dieckhoff, S.; Schlett, V.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Konferenzbeitrag
1994Adsorption and growth of polycyanurate films on silicon wafers and aluminium substrates
Dieckhoff, S.; Schlett, V.; Possart, W.; Hennemann, O.-D.
Konferenzbeitrag
1994Der Laser als Vorbehandlungswerkzeug für Faserverbundwerkstoffe
Schröder, A.; Breuer, J.; Schlett, V.
Zeitschriftenaufsatz
1993Structure investigations of electrical conducting plasmapolymerized films from 2-iodothiophene
Kruse, A.; Schlett, V.; Baalmann, A.; Hennecke, M.
Zeitschriftenaufsatz
1993Thin conductive coatings formed by plasmapolymerization of 2-iodothiophene
Kruse, A.; Baalmann, A.; Budden, W.; Schlett, V.; Hennecke, M.
Zeitschriftenaufsatz
1992Kleben von Titan mit trockenchemischer Vorbehandlung
Hennemann, O.-D.; Krüger, G.; Schlett, V.
Zeitschriftenaufsatz
1992Oberflächenanalytik mit Augerelektronenspektroskopie -AES- und Photoelektronenspektroskopie -XPS,ESCA-
Schlett, V.
Aufsatz in Buch
1991AES and XPS investigations for the topochemical characterization of dope elements on WC powders
Baalmann, A.; Schlett, V.
Zeitschriftenaufsatz
1991Bindungsstruktur in plasmapolymerisierten Schichten aus Vinyltrimethylsilan
Kruse, A.; Hennecke, M.; Baalmann, A.; Stuke, H.; Schlett, V.
Zeitschriftenaufsatz
1990Influence of normal and LOVA propellant charges on 20-mm-gun-tube erosion
Zimmermann, K.; Seiler, F.; Schedlbauer, F.; Schlett, V.
Tagungsband
1989Auger studies on the segregation of trace elements in cemented carbides and their basic powders
Schlett, V.; Weiss, H.
Konferenzbeitrag
1989Erosion inside a 20 mm gun barrel for pressure up to 5000 bars
Seiler, F.; Zimmermann, K.; Schlett, V.
Konferenzbeitrag
1988Influence of phosphorus and sulphur segregation on stress relief chracking
Horn, H.; Pintat, T.; Schlett, V.; Weiss, H.
Zeitschriftenaufsatz
1987AES-Untersuchungen an erodierten Eisen-Chrom-PVD-Schichten
Schlett, V.; Stuke, H.
Zeitschriftenaufsatz
1987Bruchflächenuntersuchungen an relaxationsgeschädigten warmfesten Stählen
Horn, H.; Pintat, T.; Schlett, V.
Konferenzbeitrag
1986Morphology and erosive wear of Fe-Cr coatings for gun bores deposited by physical vapor deposition
Schlett, V.; Stuke, H.; Weiss, H.
Zeitschriftenaufsatz
1986Surface analysis of ultrafine copper powders
Baalmann, A.; Schlett, V.
Konferenzbeitrag
1985Resistance of tantalum and columbium coatings to propellant gas erosion
Schlett, V.; Stuke, H.; Weiss, H.; Grabatin, H.
Zeitschriftenaufsatz
1985Untersuchung der Relaxationsversprödung schweisßbarer Feinkornbaustähle
Schlett, V.; Horn, H.
Konferenzbeitrag