Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2021Inverse Design Strategies for Large Passive Waveguide Structures
Perestjuk, M.; Boerma, H.; Schindler, A.; Runge, P.; Schell, M.
Zeitschriftenaufsatz
2020Optic-Electronic-Optic Interferometer: A First Experimental Demonstration
Mahmud, M.S.; Kemal, J.N.; Adib, M.; Fullner, C.; Schindler, A.; Runge, P.; Schell, M.; Freude, W.; Koos, C.; Randel, S.
Konferenzbeitrag
2019Photodetector with Monolithically Integrated SOA for Pre-Amplification of High-Speed Signals with 56GBd and Above
Runge, P.; Keyvaninia, S.; Grüner, M.; Schindler, A.; Schröder, F.; Kaiser, R.; Ganzer, F.; Mutschall, S.; Seeger, A.; Stephan, J.; Unterborsch, G.
Konferenzbeitrag
2018Novel Concept for Heterogeneously Integrated High-Speed III-V Photodetector on Silicon Nitride Waveguide
Keyvaninia, S.; Runge, P.; Schindler, A.; Beckerwerth, T.; Schell, M.
Konferenzbeitrag
2018PriMa-X: A reference model for realizing prescriptive maintenance and assessing its maturity enhanced by machine learning
Nemeth, Tanja; Ansari, Fazel; Sihn, Wilfried; Haslhofer, Bernhard; Schindler, Alexander
Zeitschriftenaufsatz
2015Plasma deposited silicon oxide films for controlled permeation of copper as antimicrobial agent
Lehmann, Antje; Rupf, Stefan; Schubert, Andreas; Zylla, Isabella-Maria; Seifert, Hans Jürgen; Schindler, Axel; Arnold, Thomas
Zeitschriftenaufsatz
2011Removing biofilms from microstructured titanium Ex Vivo
Rupf, S.; Idlibi, A.N.; Marrawi, F.A.; Hannig, M.; Schubert, A.; Mueller, L. von; Spitzer, W.; Holtmann, H.; Lehmann, A.; Rueppell, A.; Schindler, A.
Zeitschriftenaufsatz
2010Killing of adherent oral microbes by a non-thermal atmospheric plasma jet
Rupf, S.; Lehmann, A.; Hannig, M.; Schäfer, B.; Schubert, A.; Feldmann, U.; Schindler, A.
Zeitschriftenaufsatz
2004Realization and metrological characterization of thickness standards below 100 nm
Thomsen-Schmidt, P.; Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stümpel, J.; Busch, I.; Schädlich, S.; Schindler, A.; Frank, W.; Hirsch, D.; Procop, M.; Beck, U.
Zeitschriftenaufsatz
2002About the calibration of thickness standards on the nanometre scale
Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stümpel, J.; Busch, I.; Thomsen-Schmidt, P.; Schädlich, S.; Schindler, A.; Frank, W.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag
2002Ein Beitrag zu kalibrierten Nanometerschichten für unterschiedliche Anwendungsbereiche
Hasche, K.; Herrmann, K.; Thomsen-Schmidt, P.; Krumrey, M.; Ulm, G.; Ade, G.; Pohlenz, F.; Stümpel, J.; Busch, I.; Schädlich, S.; Frank, W.; Hirsch, D.; Schindler, A.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag
2002Film thickness standards on the nanometer scale
Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stümpel, J.; Busch, I.; Thomsen-Schmidt, P.; Schädlich, S.; Schindler, A.; Frank, W.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag
1994Charakterisierung ultrapräzisionsbearbeiteter Materialien mittels Rastersonden-Mikroskopie (ASPE)
Rabe, U.; Arnold, W.; Scherer, V.; Fechner, R.; Schindler, A.; Riemer, O.; Preuß, W.; Brinksmeier, E.
Konferenzbeitrag