Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2000Verfahren der Roentgenfluoreszenzmikroskopie
Neff, W.; Rothweiler, D.; Lebert, R.; Bergmann, K.; Boebel, F.G.; Hanke, R.F.
Patent
1996Pinch plasma source for X-ray microscopy with nanosecond exposure time
Lebert, R.; Neff, W.; Rothweiler, D.
Zeitschriftenaufsatz
1996Pinch plasmas as intensive EUV sources for laboratory applications
Lebert, R.; Rothweiler, D.; Engel, A.; Bergmann, K.; Neff, W.
Zeitschriftenaufsatz
1995Verfahren und Vorrichtung zum dosierten Zerstaeuben von Fluessigkeiten sowie deren Verwendung
Herziger, G.; Neff, W.; Rothweiler, D.; Lebert, R.
Patent
1994Criteria for maximizing the single-line emission of the pinch plasma in plasma focus devices
Lebert, R.; Bergmann, K.; Rothweiler, D.; Neff, W.
Konferenzbeitrag
1994Influence of device parameters of the number of N VII Lyman-Alpha photons emitted during one single pinch event
Rothweiler, D.; Hannawald, J.; Lebert, R.; Neff, W.; Tusche, A.
Konferenzbeitrag
1994Investigations on the transition between colomn and micropinch mode of plasma focus operation
Lebert, R.; Engel, A.; Gäbel, K.; Rothweiler, D.; Förster, E.; Neff, W.
Konferenzbeitrag
1994Laser and pinch plasma X-ray sources for microscopy and lithography
Neff, W.; Rothweiler, D.; Eidmann, K.; Lebert, R.; Richter, F.; Winhart, G.
Konferenzbeitrag
1992Investigation of pinch plasmas with plasma parameters promising ASE
Lebert, R.; Neff, W.; Rohe, T.; Rothweiler, D.; Seelig, W.; Herziger, G.
Konferenzbeitrag
1992Pinch plasmas as intense X-ray sources for laboratory applications
Rothweiler, D.; Neff, W.; Lebert, R.; Richter, F.; Diehl, M.
Konferenzbeitrag
1991Soft-X-ray diagnostics of a nitrogen pinchplasma source for imaging X-ray microscopy
Holz, R.; Rothweiler, D.; Neff, W.; Lebert, R.
Konferenzbeitrag
1990A plasma source for an imaging X-ray microscope
Holz, R.; Rothweiler, D.; Richter, F.; Neff, W.; Lebert, R.
Aufsatz in Buch