Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2021Automatisierte Rockwell-Schichthaftungsprüfung - AUROS
Gäbler, Jan; Bethke, Reinhold; Rauhut, Markus; Hatic, Damjan; Eder, Michael; Eder, Stephan; Bastürk, Serhan
Bericht
2021Rockwell-Schichthaftungstest - der maschinelle Blick
Gäbler, Jan; Bethke, Reinhold; Hatic, Damjan; Rauhut, Markus; Weibel, Thomas; Cheng, Xiaoyin; Eder, Michael; Eder, Stephan; Bagcivan, Nazlim; Bastürk, Serhan
Zeitschriftenaufsatz
2021Use of machine learning for automatic Rockwell adhesion test classification based on descriptive and quantitative features
Hatic, Damjan; Cheng, Xiaoyin; Stephani, Thomas; Rauhut, Markus; Gäbler, Jan; Bethke, Reinhold; King, Hunter; Hagen, Hans
Zeitschriftenaufsatz
2020An automated evaluation for the Rockwell indentation test
Bethke, Reinhold; Gäbler, Jan; Rauhut, Markus; Hatic, Damjan; Moghiseh, Ali; Weibel, Thomas; Eder, Michael; Eder, Stephan; Bastürk, Serhan; Bagcivan, Nazlim
Konferenzbeitrag
2020Automated Rockwell indentation test for the evaluation of coating adhesion
Bethke, Reinhold; Gäbler, Jan; Rauhut, Markus; Hatic, Damjan; Moghiseh, Ali; Weibel, Thomas; Eder, Michael; Eder, Stephan; Bastürk, Serhan; Bagcivan, Nazlim; Thomalla, Markus; Kirchner, Christian; Becker, Jürgen; Zimmermann, Katja; Büchel, Christian; Dannappel, Kai
Poster
2018Image based surface microgeometry modelling for complex surfaces
Gospodnetic, Petra; Spies, Martin; Rauhut, Markus
Konferenzbeitrag
2015Simulation von Oberflächenveränderungen und -defekten zur Bestimmung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit (POD)
Rauhut, Markus; Hirschenberger, Falco; Spies, Martin
Konferenzbeitrag
2014Simulation von Oberflächendefekten mittels Raytracing zur Bestimmung der Fehlerauffindwahrscheinlichkeit
Rauhut, Markus; Spies, Martin; Jablonski, Andreas
Konferenzbeitrag
2013Ein Multi-Sensor-Verfahren zur umfassenden Zerstörungsfreien Prüfung gegossener Großbauteile am Beispiel von Schiffsantriebskomponenten
Rieder, Hans; Dillhöfer, Alexander; Kreier, Peter; Rauhut, Markus; Spies, Martin
Konferenzbeitrag
2012Auslegung und Performance von berührungslosen Verfahren zur Inline-Oberflächeninspektion
Rauhut, Markus; Spies, Martin; Taeubner, Kai
Konferenzbeitrag
2012Erweiterte Modelle für die ZfP zur Ermittlung der Auffindwahrscheinlichkeit (POD) von Oberflächen- und Volumenfehlern
Spies, Martin; Jablonski, Andreas; Rauhut, Markus; Rieder, Hans
Konferenzbeitrag
2011Verbesserung der Auffindwahrscheinlichkeit (POD) von Oberflächenfehlern in Metallerzeugnissen mittels optischer Inspektionsverfahren und Bildverarbeitung
Rauhut, Markus; Spies, Martin; Taeubner, Kai
Konferenzbeitrag