Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2021Comparison of Analog and Noise Performance between Buried Channel versus Surface Devices in HKMG I/O Devices
Pirro, L.; Jayakumar, A.; Zimmerhackl, O.; Lipp, D.; Illgen, R.; Muehlhoff, A.; Pfuetzner, R.; Zaka, A.; Otto, M.; Hoentschel, J.; Raffel, Y.; Seidel, K.; Olivo, R.
Konferenzbeitrag
2021Ferroelectric Field Effect Transistors as a Synapse for Neuromorphic Application
Lederer, M.; Kämpfe, T.; Ali, T.; Müller, F.; Olivo, R.; Hoffmann, R.; Laleni, N.; Seidel, K.
Zeitschriftenaufsatz
2021Impact of the Nonlinear Dielectric Hysteresis Properties of a Charge Trap Layer in a Novel Hybrid High-Speed and Low-Power Ferroelectric or Antiferroelectric HSO/HZO Boosted Charge Trap Memory
Ali, T.; Mertens, K.; Olivo, R.; Rudolph, M.; Oehler, S.; Kuhnel, K.; Lehninger, D.; Muller, F.; Hoffmann, R.; Schramm, P.; Biedermann, K.; Metzger, J.; Binder, R.; Czernohorsky, M.; Kampfe, T.; Muller, J.; Seidel, K.; Houdt, J. Van; Eng, L.M.
Zeitschriftenaufsatz
2021Impact of the SiO2 interface layer on the crystallographic texture of ferroelectric hafnium oxide
Lederer, M.; Reck, A.; Mertens, K.; Olivo, R.; Bagul, P.; Kia, A.; Volkmann, B.; Kämpfe, T.; Seidel, K.; Eng, L.M.
Zeitschriftenaufsatz
2021On the Origin of Wake-Up and Antiferroelectric-Like Behavior in Ferroelectric Hafnium Oxide
Lederer, M.; Olivo, R.; Lehninger, D.; Abdulazhanov, S.; Kämpfe, T.; Kirbach, S.; Mart, C.; Seidel, K.; Eng, L.M.
Zeitschriftenaufsatz
2020Back-End-of-Line Compatible Low-Temperature Furnace Anneal for Ferroelectric Hafnium Zirconium Oxide Formation
Lehninger, D.; Olivo, R.; Ali, T.; Lederer, M.; Kämpfe, T.; Mart, C.; Biedermann, K.; Kühnel, K.; Roy, L.; Kalkani, M.; Seidel, K.
Zeitschriftenaufsatz
2020Charge Pumping and Flicker Noise-based Defect Characterization in Ferroelectric FETs
Raffel, Y.; Lederer, M.; Olivo, R.; Müller, F.; Hoffmann, R.; Ali, T.; Kämpfe, T.; Seidel, K.; Heitmann, J.
Konferenzbeitrag
2020Efficient FeFET crossbar accelerator for binary neural networks
Soliman, T.; Olivo, R.; Kirchner, T.; Parra, C. de la; Lederer, M.; Kämpfe, T.; Guntoro, A.; Wehn, N.
Konferenzbeitrag
2020Furnace annealed HfO2-Films for the Integration of Ferroelectric Functionalities into the BEoL
Lehninger, D.; Ali, T.; Olivo, R.; Lederer, M.; Kämpfe, T.; Mertens, K.; Seidel, K.
Konferenzbeitrag
2020Heavy Ion Irradiation Effects on Structural and Ferroelectric Properties of HfO2 Films
Kämpfe, T.; Vogel, T.; Olivo, R.; Lederer, M.; Kaiser, N.; Petzold, S.; Ali, T.; Lehninger, D.; Trautmann, C.; Alff, L.; Seidel, K.
Konferenzbeitrag
2020Impact of Channel Implant Variation on RTN and Flicker Noise
Raffel, Y.; Seidel, K.; Pirro, L.; Lehmann, S.; Hoffmann, R.; Olivo, R.; Kämpfe, T.; Heitmann, J.
Konferenzbeitrag
2020Impact of Ferroelectric Wakeup on Reliability of Laminate based Si-doped Hafnium Oxide (HSO) FeFET Memory Cells
Ali, T.; Kühnel, K.; Czernohorsky, M.; Rudolph, M.; Pätzold, B.; Olivo, R.; Lehninger, D.; Mertens, K.; Müller, F.; Lederer, M.; Hoffmann, R.; Mart, C.; Kalkani, M.N.; Steinke, P.; Kämpfe, T.; Müller, J.; Houdt, J. van; Seidel, K.; Eng, L.M.
Konferenzbeitrag
2020Integration of Hafnium Oxide on Epitaxial SiGe for p-type Ferroelectric FET Application
Lederer, M.; Müller, F.; Kühnel, K.; Olivo, R.; Mertens, K.; Trentzsch, M.; Dünkel, S.; Müller, J.; Beyer, S.; Seidel, K.; Kämpfe, T.; Eng, L.M.
Zeitschriftenaufsatz
2020A novel hybrid high-speed and low power antiferroelectric HSO boosted charge trap memory for high-density storage
Ali, T.; Mertens, K.; Olivo, R.; Rudolph, M.; Oehler, S.; Kühnel, K.; Lehninger, D.; Müller, F.; Lederer, M.; Hoffmann, R.; Schramm, P.; Biedermann, K.; Kia, A.M.; Metzger, J.; Binder, R.; Czernohorsky, M.; Kämpfe, T.; Müller, J.; Seidel, K.; Houdt, J.V. van; Eng, L.M.
Konferenzbeitrag
2020A scalable design of multi-bit ferroelectric content addressable memory for data-centric computing
Li, C.; Müller, F.; Ali, T.; Olivo, R.; Imani, M.; Deng, S.; Zhuo, C.; Kämpfe, T.; Yin, X.; Ni, K.
Konferenzbeitrag
2020Structural and Electrical Comparison of Si and Zr Doped Hafnium Oxide Thin Films and Integrated FeFETs Utilizing Transmission Kikuchi Diffraction
Lederer, M.; Kämpfe, T.; Vogel, N.; Utess, D.; Volkmann, B.; Ali, T.; Olivo, R.; Müller, J.; Beyer, S.; Trentzsch, M.; Seidel, K.; Eng, L.M.
Zeitschriftenaufsatz
2020A Study on the Temperature-Dependent Operation of Fluorite-Structure-Based Ferroelectric HfO2 Memory FeFET: Pyroelectricity and Reliability
Ali, T.; Kühnel, K.; Czernohorsky, M.; Mart, C.; Rudolph, M.; Pätzold, B.; Lehninger, D.; Olivo, R.; Lederer, M.; Müller, F.; Hoffmann, R.; Metzger, J.; Binder, R.; Steinke, P.; Kämpfe, T.; Müller, J.; Seidel, K.; Eng, L.M.
Zeitschriftenaufsatz
2020A Study on the Temperature-Dependent Operation of Fluorite-Structure-Based Ferroelectric HfO2 Memory FeFET: A Temperature-Modulated Operation
Ali, T.; Kühnel, K.; Czernohorsky, M.; Mart, C.; Rudolph, M.; Pätzold, B.; Lederer, M.; Olivo, R.; Lehninger, D.; Müller, F.; Hoffmann, R.; Metzger, J.; Binder, R.; Steinke, P.; Kämpfe, T.; Müller, J.; Seidel, K.; Eng, L.M.
Zeitschriftenaufsatz
2019Local crystallographic phase detection and texture mapping in ferroelectric Zr doped HfO2 films by transmission-EBSD
Lederer, M.; Kämpfe, T.; Olivo, R.; Lehninger, D.; Mart, C.; Kirbach, S.; Ali, T.; Polakowski, P.; Roy, L.; Seidel, K.
Zeitschriftenaufsatz
2019A Multilevel FeFET Memory Device based on Laminated HSO and HZO Ferroelectric Layers for High-Density Storage
Ali, T.; Olivo, R.; Lederer, M.; Hoffmann, R.; Steinke, P.; Zimmermann, K.; Mühle, U.; Seidel, K.; Müller, J.; Polakowski, P.; Kühnel, K.; Czernohorsky, M.; Kämpfe, T.; Rudolph, M.; Pätzold, B.; Lehninger, D.; Müller, F.
Konferenzbeitrag