Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Gradients of microstructure, stresses and mechanical properties in a multi-layered diamond thin film revealed by correlative cross-sectional nano-analytics
Gruber, David P.; Todt, Juraj; Wöhrl, Nicolas; Zalesak, Jakub; Tkadletz, Michael; Kubec, Adam; Niese, Sven; Burghammer, Manfred; Rosenthal, Martin; Sternschulte, Hadwig; Pfeifenberger, Manuel J.; Sartory, Bernhard; Keckes, Jozef
Zeitschriftenaufsatz
201830 nm X-ray focusing correlates oscillatory stress, texture and structural defect gradients across multilayered TiN-SiOx thin film
Keckes, Jozef; Daniel, Rostislav; Todt, Juraj; Zalesak, Jakub; Sartory, Bernhard; Braun, Stefan; Gluch, Jürgen; Rosenthal, Martin; Burghammer, Manfred; Mitterer, C.; Niese, S.; Kubec, Adam
Zeitschriftenaufsatz
2018A laboratory X-ray microscopy study of cracks in on-chip interconnect stacks of integrated circuits
Kutukova, Kristina; Niese, Sven; Sander, Christoph; Standke, Yvonne; Gluch, Jürgen; Gall, Martin; Zschech, Ehrenfried
Zeitschriftenaufsatz
2018Multilayer Laue Lenses (MLL) with 45 mm focal length as optics for in-situ nanoindentation experiments
Kubec, Adam; Niese, Sven; Gluch, Jürgen; Rosenthal, Martin; Todt, Juraj; Keckes, Jozef; Gawlitza, Peter
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
2018A novel micro-double cantilever beam (micro-DCB) test in an X-ray microscope to study crack propagation in materials and structures
Kutukova, Kristina; Niese, Sven; Gelb, Jeff; Dauskardt, Reinhold; Zschech, Ehrenfried
Zeitschriftenaufsatz
2018Sub 25 nm focusing with a long working distance using multilayer Laue lenses
Kubec, Adam; Niese, Sven; Rosenthal, M.; Gluch, Jürgen; Burghammer, M.; Gawlitza, Peter; Keckes, J.; Leson, Andreas
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
2017Point focusing with flat and wedged crossed multilayer Laue lenses
Kubec, Adam; Melzer, Kathleen; Gluch, Jürgen; Niese, Sven; Braun, Stefan; Patommel, Jens; Burghammer, Manfred; Leson, Andreas
Zeitschriftenaufsatz
2016A dedicated illumination for full-field X-ray microscopy with multilayer Laue lenses
Niese, Sven; Braun, Stefan; Dietsch, Reiner; Gluch, Jürgen; Holz, Thomas; Huber, Norman; Kubec, Adam; Zschech, Ehrenfried
Konferenzbeitrag
2016FIB sample preparation for X-ray microscopy and ROI target cross-sectioning
Zschech, Ehrenfried; Gluch, Jürgen; Rosenkranz, Rüdiger; Standke, Yvonne; Niese, Sven
Abstract
2015Adhesive distribution and global deformation between hybrid joints
Landgrebe, Dirk; Mayer, Bernd; Niese, Stephan; Fricke, Holger; Neumann, Ivo; Ahnert, Maik; Falk, Tobias
Konferenzbeitrag
2015Anwendungen der Röntgenmikroskopie in der Mikroelektronik und Energietechnik
Zschech, Ehrenfried; Gluch, Jürgen; Niese, Sven; Lewandowska, Anna; Wolf, Jürgen M.; Röntzsch, Lars; Löffler, Markus
Konferenzbeitrag
2015Lab-based in-situ X-ray microscopy - methodical developments and applications in materials science and microelectronics
Niese, Sven
: Schmeißer, Dieter (Gutachter); Zschech, Ehrenfried (Gutachter); Schneider, Gerd (Gutachter)
Dissertation
2015Taschenbildung und Klebstoffverdrängung zwischen Hybridfügepunkten
Landgrebe, Dirk; Niese, Stephan; Mayer, Bernd; Fricke, Holger
Bericht
2014Advanced methods for mechanical and structural characterization of nanoscale materials for 3D IC integration
Sander, Christoph; Standke, Yvonne; Niese, Sven; Rosenkranz, Rüdiger; Clausner, André; Gall, Martin; Zschech, Ehrenfried
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
2014Fabrication of customizable wedged multilayer Laue lenses by adding a stress layer
Niese, Sven; Krüger, Peter; Kubec, Adam; Laas, Roman; Gawlitza, Peter; Melzer, Kathleen; Braun, Stefan; Zschech, Ehrenfried
Zeitschriftenaufsatz
2014Full-field X-ray microscopy with crossed partial multilayer Laue lenses
Niese, Sven; Krüger, Peter; Kubec, Adam; Braun, Stefan; Patommel, Jens; Schroer, Christian G.; Leson, Andreas; Zschech, Ehrenfried
Zeitschriftenaufsatz
2014Multi-scale X-ray tomography for process and quality control in 3D TSV packaging
Zschech, Ehrenfried; Niese, Sven; Löffler, Markus; Wolf, M. Jürgen
Konferenzbeitrag
2014A new in situ microscopy approach to study the degradation and failure mechanisms of time-dependent dielectric breakdown: Set-up and opportunities
Liao, Zhongquan; Gall, Martin; Yeap, Kong Boon; Sander, Christoph; Aubel, Oliver; Mühle, Uwe; Gluch, Jürgen; Niese, Sven; Standke, Yvonne; Rosenkranz, Rüdiger; Löffler, Markus; Vogel, Norman; Beyer, Armand; Engelmann, Hans Jürgen; Guttmann, Peter; Schneider, Gerhard; Zschech, Ehrenfried
Zeitschriftenaufsatz
2014Ptychography with multilayer Laue lenses
Kubec, Adam; Braun, Stefan; Niese, Sven; Krüger, Peter; Patommel, Jens; Hecker, Michael; Leson, Andreas; Schroer, Christian G.
Zeitschriftenaufsatz
2014Taschenbildung und Klebstoffverdrängung zwischen Hybridfügepunkten
Drossel, Welf-Guntram; Kraus, Christian; Niese, Stephan; Mayer, Bernd; Fricke, Holger
Konferenzbeitrag
2014X-ray microscopy and tomography of hydrogen storage materials
Gluch, J.; Niese, S.; Röntzsch, L.; Zschech, E.
Zeitschriftenaufsatz
2013An experimental methodology for the in-situ observation of the time-dependent dielectric breakdown mechanism in Copper/low-k on-chip interconnect structures
Yeap, K.B.; Gall, M.; Sander, C.; Niese, S.; Liao, Z.; Ritz, Y.; Rosenkranz, R.; Mühle, U.; Gluch, J.; Zschech, E.; Aubel, O.; Beyer, A.; Hennesthal, C.; Hauschildt, M.; Talut, G.; Poppe, J.; Vogel, N.; Engelmann, H.-J.; Stauffer, D.; Major, R.; Warren, O.
Konferenzbeitrag
2013Multilayer laue lenses with focal length of 10 mm
Braun, S.; Kubec, Adam; Menzel, M.; Niese, S.; Krüger, P.; Seiboth, F.; Patommel, J.; Schroer, C.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2013Untersuchungen zur Punktausbildung und zur globalen Verformung beim kombinierten mechanischen Fügen und Kleben
Niese, Stephan
Diplomarbeit
20123D interconnect technology
Knickerbocker, J.U.; Kong, L.W.; Niese, S.; Diebold, A.; Zschech, E.
Aufsatz in Buch
2012Nanometer deformation of elastically anisotropic materials studied by nanoindentation
Yeap, K.B.; Kopycinska-Müller, M.; Hangen, U.D.; Zambaldi, C.; Hübner, R.; Niese, S.; Zschech, E.
Zeitschriftenaufsatz
2011Improved scanning geometry to collect 3D-geometry data in flat samples
Krüger, P.; Niese, S.; Zschech, E.; Gelb, J.; Feser, M.
Konferenzbeitrag
2011NanoXCT - A high-resolution technique for TSV characterization
Niese, S.; Krueger, P.; Zschech, E.
Konferenzbeitrag
2010Assessment of mechanical properties of nanoscale structures for microprocessor manufacturing
Niese, S.; Hecker, M.; Liske, R.; Ritz, Y.; Zschech, E.; Wojcik, H.; Bartha, J.; Wu, Z.; Ho, P.S.
Konferenzbeitrag