Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2003Characterization of a laser produced plasma source for a laboratory EUV reflectometer
Scholze, F.; Scholz, F.; Tümmler, J.; Ulm, G.; Legall, H.; Nickles, P.-V.; Sandner, W.; Stiel, H.; Loyen, L. van
Konferenzbeitrag
2003New laboratory EUV reflectometer for large optics using a laser plasma source
Loyen, L. van; Böttger, T.; Braun, S.; Mai, H.; Leson, A.; Scholze, F.; Tümmler, J.; Ulm, G.; Legall, H.; Nickles, P.-V.; Sandner, W.; Stiel, H.; Rempel, C.; Schulze, M.; Brutscher, J.; Macco, F.; Müllender, S.
Konferenzbeitrag
2001Preliminary results from key experiments on sources for EUV lithography
Lebert, R.; Aschke, L.; Bergmann, K.; Dusterer, S.; Gabel, K.; Hoffmann, D.; Loosen, P.; Neff, W.; Nickles, P.; Rosier, O.; Poprawe, R.; Rudolph, D.; Sandner, W.; Sauerbrey, R.; Schmahl, G.; Schwoerer, H.; Stiehl, H.; Will, I.; Ziener, C.
Zeitschriftenaufsatz
2000Extreme-ultraviolet source development: a comparison of different concepts
Schriever, G.; Rahe, M.; Rebhan, M.; Basting, D.; Walecki, W.J.; Lauth, H.; Lebert, R.; Bergmann, K.; Hoffmann, D.; Rosier, O.; Neff, W.; Poprawe, R.; Sauerbrey, R.; Schroerer, H.; Düsterer, S.; Ziener, C.; Nickles, P.; Stiehl, H.; Will, I.; Sandner, W.; Schahl, G.; Rudolph, D.
Konferenzbeitrag