Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2006HBM tester parasitic effects on high pin count devices with multiple power and ground pins
Chaine, M.; Meuse, T.; Ashton, R.; Henry, L.G.; Natarajan, M.I.; Barth, J.; Ting, L.; Gieser, H.; Voldman, S.; Farris, M.; Grund, E.; Ward, S.; Kelly, M.; Gross, V.; Narayan, R.; Johnson, L.; Gaertner, R.; Peachey, N.
Konferenzbeitrag
2003Test Circuits for Fast and Reliable Assessment of CDM Robustness of I/O stages
Stadler, W.; Esmark, K.; Reynders, K.; Zubeidat, M.; Graf, M.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Qu, N.; Mettler, S.; Etherton, M.; Nuernbergk, D.; Wolf, H.; Gieser, H.; Soppa, W.; Heyn, M. de; Natarajan, M.I.; Groeseneken, G.; Morena, E.; Stella, R.; Andreini, A.; Litzenberger, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Foss, C.; Konrad, A.; Frank, M.
Konferenzbeitrag
2003A traceable method for the arc-free characterization and modeling of CDM-testers and pulse metrology chains
Gieser, H.; Wolf, H.; Soldner, W.; Reichl, H.; Andreini, A.; Natarajan, M.I.; Stadler, W.
Konferenzbeitrag