Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2005Active area of GaAs pad detector tested by X-ray beam
Perdochová, A.; Melov, V.G.; Besse, I.; Dubecky, F.; Necas, V.; Haupt, L.
Konferenzbeitrag
2005Performance study of monolithic line radiation detector based on semi-insulating GaAs using X-ray source
Zatko, B.; Dubecky, F.; Scepko, P.; Melov, V.; Herms, M.; Haupt, L.
Konferenzbeitrag
2005Radiotracertechnik - eine Möglichkeit zur probenahmefreien Prozessanalyse
Jentsch, T.; Melov, V.
Konferenzbeitrag
2005Zerstörungsfreie Prüfverfahren für die Elektronik, mikrobearbeitete Strukturen und Baugruppen
Köhler, B.; Schreiber, J.; Bendjus, B.; Herms, M.; Melov, V.G.; Krüger, P.; Meyendorf, N.
Zeitschriftenaufsatz
2004Materials characterization of micro-devices
Schreiber, J.; Bendjus, B.; Köhler, B.; Melov, V.; Baumbach, T.
Konferenzbeitrag
2004Micro- and nano-NDE in the laboratory for acoustic diagnosis and quality assurance EADQ Dresden
Köhler, B.; Schreiber, J.; Bendjus, B.; Herms, M.; Melov, V.; Helfen, L.; Mikulik, P.; Baumbach, T.
Konferenzbeitrag
2004Test of 24 strip line radiation detector based on semi-insulating GaAs using X-ray source
Zatko, B.; Dubecky, F.; Perdochova, A.; Epko, P.; Melov, V.; Kriniarova, J.; Haupt, L.
Konferenzbeitrag
2003Qualitative new mechanical properties of microstructured metallic systems
Schreiber, J.; Melov, V.G.
Konferenzbeitrag
2002High-resolution Carbon/Carbon Multilayers
Baranov, Alexander M.; Dietsch, Reiner; Holz, Thomas; Menzel, Maik; Weißbach, Danny; Scholz, Roland; Melov, Valeri; Schreiber, Jürgen
Konferenzbeitrag
2002Improvement of Ta-based thin-film barriers on copper by ion- implantation of nitrogen and oxygen
Wieser, E.; Peikert, M.; Wenzel, C.; Schreiber, J.; Bartha, J.W.; Bendjus, B.; Melov, V.V.; Reuther, H.; Mucklich, A.; Adolphi, B.; Fischer, D.
Zeitschriftenaufsatz
2002Stress development in Ni/C-multilayers on Si-substrates with increasing period number
Schreiber, J.; Melov, V.; Dietsch, R.
Zeitschriftenaufsatz
2001Evolution of stress and microstructure in Ni/C multilayers used as X-ray optics in a wide energy range
Dietsch, R.; Holz, T.; Weißbach, D.; Melov, V.; Schreiber, J.; Scholz, R.
Konferenzbeitrag
20003D-Analyse von Eigenspannungen in einkristallinen Halbleiterwafern mittels Infrarot-Raster-Polariskopie und hochaufgelöster Röntgenbeugung
Herms, M.; Melov, V.G.; Schreiber, J.; Fukuzawa, M.; Yamada, M.
Konferenzbeitrag
2000Breakdown of Elasticity in Copper and Aluminium Interconnects
Schreiber, J.; Melov, V.G.; Herms, M.
Konferenzbeitrag
2000Residual strain in annealed GaAs single crystal wafers measured by scanning infrared polariscopy and x-ray diffraction
Herms, M.; Fukuzawa, M.; Melov, V.G.; Schreiber, J.; Yamada, M.
Konferenzbeitrag
2000Residual strain in annealed GaAs single crystal wafers measured by scanning infrared polariscopy and x-ray diffraction and topography
Herms, M.; Fukuzawa, M.; Melov, V.G.; Schreiber, J.; Möck, P.; Yamada, M.
Zeitschriftenaufsatz
2000Studies on phase transformations of Cu-phthalocyanine thin films
Berger, O.; Fischer, W.-J.; Adolphi, B.; Tierbach, S.; Melov, V.G.; Schreiber, J.
Zeitschriftenaufsatz
1999Characterization of GaAs(1-x) Bi(x) Epilayers by Raman Scattering and X-ray Diffraction
Herms, M.; Melov, V.G.; Verma, P.; Irmer, G.; Okamoto, H.; Fukuzawa, M.; Oe, K.; Yamada, M.
Konferenzbeitrag
1997Innere Spannungen und Relaxionseffekte in metallischen Leitbahnen mikroelektronischer Bauelemente
Schreiber, J.; Köhler, B.; Meissner, O.; Melov, V.G.
Konferenzbeitrag
1997Investigations of relaxation effects in Cu-lines on Si-substrates
Köhler, B.; Meissner, O.; Melov, V.G.; Schreiber, J.
Konferenzbeitrag