Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
1995An approach to a liquid crystal voltage contrast testsystem
Wieberneit, M.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1995Kontaktloses Testverfahren von digitalen integrierten Schaltungen mit dem Flüssigkeitskristall-Potentialkontrast
Wieberneit, M.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1995Time-resolved liquid crystal voltage contrast. A new method for testing of digital integrated circuits
Wieberneit, M.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1995Verfahren zum beruehrungslosen Messen von Spannungen innerhalb von integrierten Schaltungen
Lackmann, R.
Patent
1994Anwendung von Flüssigkristallen zum kontaktlosen Test integrierter Schaltungen
Wieberneit, M.; Lackmann, R.
Aufsatz in Buch
1994Contactless testing of digital integrated circuits using crystal potential contrast
Wieberneit, M.; Lackmann, R.
Aufsatz in Buch
1994Eine neue Methode zum Elektronenstrahltest passivierter integrierter Schaltungen
Hellwig, D.; Lackmann, R.
Aufsatz in Buch
1994Verfahren zur kontaktlosen Messung elektrischer Spannungen in einem Messobjekt mit einer Isolatoroberflaeche und Vorrichtung zum Durchfuehren des Verfahrens
Lackmann, R.; Weichert, G.
Patent
1993New results of field-induced deformation of nematic liquid crystals for testing of digital integrated circuits
Wieberneit, M.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1992KUSET, knowledge based user support for electron beam testing
Lackmann, R.; Weichert, G.
Konferenzbeitrag
1992Methods for the determination of the static accuracy and linearity of electron-beam test systems
Lackmann, Rainer; Weichert, Gerhard
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
1992Progen, a program generator to generate conversion programs for test patterns
Lackmann, R.; Rennett, T.; Schmitz, C.
Konferenzbeitrag
1991A charge compensation method for measuring passivated devices with high extraction voltage
Lackmann, R.; Weichert, G.
Konferenzbeitrag
1991A charge compensation method for measuring passivated devices with high extraction voltage
Lackmann, R.; Weichert, G.
Konferenzbeitrag
1991Definition and measurement rule for voltage resolution of contactless testing systems based on electron-beam or photoemission methods
Clauberg, R.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1991Manipulator
Lackmann, R.; Slotkowski, J.
Patent
1991Methods for the determination of the static accuracy and linearity of electron-beam test systems
Lackmann, R.; Weichert, G.
Konferenzbeitrag
1990A CAD coupled laser beam test system for digital circuit failure analysis
Fritz, J.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1990The capacative coupling error and the capacitive coupling cross talk in electron beam testing of passivated IC and measures for their reduction
Herrmann, K.D.; Kubalek, E.; Lackmann, R.; Mertin, W.; Zimmer, G.; Weichert, G.
Konferenzbeitrag
1990Einsatz des Laser-Raster-Mikroskops zum Test hochintegrierter CMOS-Schaltungen
Fritz, J.; Lackmann, R.
Zeitschriftenaufsatz
1990Elektronenstrahltesten
Lackmann, R.; Weichert, G.; Wieberneit, M.
Aufsatz in Buch
1990IC failure analysis using the laser scanning microscope
Fritz, J.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1990Modular CAD environment for contactless test systems
Fritz, J.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1990Observation of IC operation using nematic liquid crystals and the laser scanning microscope
Fritz, J.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1990Optical beam induced currents in MOS transistors
Fritz, J.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1990Trends in VLSI technologies
Lackmann, R.; Vogt, H.; Zimmer, G.
Konferenzbeitrag
1990Verfahren zum beruehrungslosen Messen von Spannungen innerhalb von integrierten Schaltungen
Lackmann, R.
Patent
1990Vorrichtung zum Messen von Spannungen in integrierten Schaltungen
Fritz, J.; Lackmann, R.
Patent
1989Automatischer Test
Lackmann, R.; Schmitz, C.
Aufsatz in Buch
1989A CAD coupled laser beam test system for digital circuit failure analysis
Fritz, J.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1989Optischer Test hochintegrierter Schaltungen
Fritz, J.; Lackmann, R.
Aufsatz in Buch
1989Test analoger und digitaler VLSI-Schaltungen
Lackmann, R.; Zimmer, G.
Buch
1989A VMEbus based laser beam test system for IC failure analysis
Fritz, J.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag
1988An automated latch-up measurement system using a laserscanning microscope
Fritz, J.; Lackmann, R.; Rix, B.
Konferenzbeitrag
1988Kopplung des Laser-Raster-Mikroskops und der CAD-Entwurfsdatenbasis
Fritz, J.; Lackmann, R.
Konferenzbeitrag