Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Optics developments for ATHENA
Bavdaz, Marcos; Wille, Eric; Ayre, Mark; Ferreira, Ivo; Shortt, Brian; Fransen, Sebastiaan H.J.A.; Collon, Maximilien J.; Vacanti, Giuseppe; Barrière, Nicolas M.; Landgraf, Boris; Start, Ronald; Baren, Coen V. van; Ferreira, Desiree Della Monica; Massahi, Sonny; Christensen, Finn E.; Krumrey, Michael K.; Burwitz, Vadim; Pareschi, Giovanni; Valsecchi, Giuseppe; Oliver, Paul; Seidel, André; Korhonen, Tapio
Konferenzbeitrag
2018Development of the ATHENA mirror
Bavdaz, Marcos; Wille, Eric; Ayre, Mark; Ferreira, Ivo; Shortt, Brian; Fransen, Sebastiaan H.J.A.; Collon, Maximilien J.; Vacanti, Giuseppe; Barrière, Nicolas M.; Landgraf, Boris; Sforzini, Jessica; Booysen, Karin; Baren, Coen V. van; Zuknik, Karl Heinz; Della Monica Ferreira, Desireé; Massahi, Sonny; Christensen, Finn E.; Krumrey, Michael K.; Müller, Peter; Burwitz, Vadim; Pareschi, Giovanni; Spiga, Daniele; Valsecchi, Giuseppe; Vernani, Dervis; Oliver, Paul; Seidel, André
Konferenzbeitrag
2018Influence of the electrode nano/microstructure on the electrochemical properties of graphite in aluminum batteries
Greco, G.; Tatchev, D.; Hoell, A.; Krumrey, M.; Raoux, S.; Hahn, R.; Elia, G.A.
Zeitschriftenaufsatz
2017The ATHENA telescope and optics status
Bavdaz, Marcos; Wille, Eric; Ayre, Mark; Ferreira, Ivo; Shortt, Brian; Fransen, Sebastiaan H.J.A.; Collon, Maximilien J.; Vacanti, Giuseppe; Barrière, Nicolas M.; Landgraf, Boris; Haneveld, Jeroen; Baren, Coen V. van; Zuknik, Karl Heinz; Della Monica Ferreira, Desireé; Massahi, Sonny; Christensen, Finn E.; Krumrey, Michael K.; Burwitz, Vadim; Pareschi, Giovanni; Spiga, Daniele; Valsecchi, Giuseppe; Vernani, Dervis; Oliver, Paul; Seidel, André
Konferenzbeitrag
2009Effects of dielectric barrier discharges on silicon surfaces: Surface roughness, cleaning, and oxidation
Michel, B.; Giza, M.; Krumrey, M.; Eichler, M.; Grundmeier, G.; Klages, C.-P.
Zeitschriftenaufsatz
2004Realization and metrological characterization of thickness standards below 100 nm
Thomsen-Schmidt, P.; Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stümpel, J.; Busch, I.; Schädlich, S.; Schindler, A.; Frank, W.; Hirsch, D.; Procop, M.; Beck, U.
Zeitschriftenaufsatz
2003Metrological characterization of nanometer film thickness standards for XRR and ellipsometry applications
Hasche, K.; Thomsen-Schmidt, P.; Krumrey, M.; Ade, G.; Ulm, G.; Stümpel, J.; Schädlich, S.; Frank, W.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag
2002About the calibration of thickness standards on the nanometre scale
Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stümpel, J.; Busch, I.; Thomsen-Schmidt, P.; Schädlich, S.; Schindler, A.; Frank, W.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag
2002Ein Beitrag zu kalibrierten Nanometerschichten für unterschiedliche Anwendungsbereiche
Hasche, K.; Herrmann, K.; Thomsen-Schmidt, P.; Krumrey, M.; Ulm, G.; Ade, G.; Pohlenz, F.; Stümpel, J.; Busch, I.; Schädlich, S.; Frank, W.; Hirsch, D.; Schindler, A.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag
2002Electron probe microanalysis (EPMA) measurement of thin-film thickness in the nanometre range
Procop, M.; Radtke, M.; Krumrey, M.; Hasche, K.; Schädlich, S.; Frank, W.
Zeitschriftenaufsatz
2002Film thickness standards on the nanometer scale
Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stümpel, J.; Busch, I.; Thomsen-Schmidt, P.; Schädlich, S.; Schindler, A.; Frank, W.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag
2001Calibrated reference standards for films in the nanometer range
Hasche, K.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ulm, G.; Schädlich, S.; Frank, W.; Procop, M.
Konferenzbeitrag
2001Thin layer measurements need reference standards
Hasche, K.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ulm, G.; Ade, G.; Thomsen-Schmidt, P.; Schädlich, S.; Frank, W.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag