Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2020Realization of a compact cross-grating spectrometer and validating experimental tests
Kraus, M.; Förster, E.; Bagusat, V.; Hönle, T.; Uwurukundo, X.; Bohnert, P.; Brüning, R.; Hillmer, H.; Brunner, R.
Zeitschriftenaufsatz
2019Combined ‘moth-eye’ structured and graded index-layer anti-reflecting coating for high index glasses
Kraus, Matthias; Diao, Zhaolu; Weishaupt, Klaus; Spatz, P. Joachim; Täschner, Kerstin; Bartzsch, Hagen; Schmittgens, Ralph; Brunner, Robert
Zeitschriftenaufsatz
2019Concept and optical design of a compact cross-grating spectrometer
Bagusat, V.; Kraus, M.; Förster, E.; Thomae, D.; Hönle, T.; Brüning, R.; Hillmer, H.; Brunner, R.
Zeitschriftenaufsatz
2019Out-of-Core Speicherverwaltung für die Visualisierung großer Modelle in Spiele Engines
Kraus, Maurice
: Kuijper, Arjan (1. Gutachter); Stein, Christian (2. Gutachter)
Bachelor Thesis
2018Compact echelle spectrometer employing a cross-grating
Thomae, D.; Hönle, T.; Kraus, M.; Bagusat, V.; Deparnay, A.; Brüning, R.; Brunner, R.
Zeitschriftenaufsatz
2016Variable diameter CO2 laser ring-cutting system adapted to a zoom microscope for applications on polymer tapes
Förster, E.; Bohnert, P.; Kraus, M.; Kilper, R.; Müller, U.; Buchmann, M.; Brunner, R.
Zeitschriftenaufsatz
2015Marktstudie 2015 Bestandsmanagement
Döbbeler, Frederik; Kraus, Mariell; Lücke, Michael
Studie
2012NäGeMo - Die nächste Generation der Montageplanung
Eisele, Michael; Weskamp, Markus; Kraus, Marcus
Zeitschriftenaufsatz
2012Projektionsdisplay und Verfahren zum Projizieren eines Gesamtbildes
Schreiber, Peter; Sieler, Marcel; Kraus, M.
Patent
2002Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen
Kraus, M.
Dissertation
2001Discrete Measurement Data Analysis: A new Method to Characterize Structured Surfaces on Atomic Scale
Kraus, M.
Konferenzbeitrag
2000Functional and depth-oriented characterization of technical surfaces
Westkämper, E.; Kraus, M.
Konferenzbeitrag
2000Industrial Nanometrology - Metrology for the next decade
Westkämper, E.; Kraus, M.
Konferenzbeitrag
1999Combining Practice-Based Engineering Education with Scientific Research
Sihn, W.; Kraus, M.
Konferenzbeitrag
1999Theoretical considerations for a new tolerance system to characterise technical surfaces in the micro- and nanometer scale
Westkämper, E.; Kraus, M.
Konferenzbeitrag
1998Theoretical considerations for a new tolerance system to characterise technical surfaces in the micro- and nanometer scale
Westkämper, E.; Kraus, M.
Konferenzbeitrag