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2010 | Cellular metals based on wire structures Studnitzky, T.; Kieselstein, E.; Hufenbach, W.; Weck, D.; Gottwald, R.; Stephani, G.; Kaina, S. | Konferenzbeitrag |
2010 | Joining technologies and mechanical properties for a new kind of 3D wire structures Kaina, S.; Kieback, B.; Hufenbach, W.; Gottwald, R.; Weck, D.; Kieselstein, E.; Studnitzky, T.; Stephani, G. | Konferenzbeitrag |
2005 | Optimierung der mechanischen und tribologischen Eigenschaften keramischer Schichten - Nutzen für die Kniegelenk-Endoprothetik Rahm, J.; Glien, W.; Kieselstein, E.; Kreyßig, K.; Sommer, J.-P.; Auerswald, E.; Kremling, U. | Zeitschriftenaufsatz |
2005 | Optimierung der mechanischen und tribologischen Eigenschaften keramischer Schichten Nutzen für die Kniegelenk-Endoprothetik Rahm, J.; Glien, W.; Kieselstein, E.; Kreyßig, K.; Sommer, J.-P.; Auerswald, E.; Kremling, U. | Zeitschriftenaufsatz |
2004 | Optimierung der mechanischen und tribologischen Eigenschaften keramischer Schichten für die Knie-Gelenkendoprothetik Glien, W.; Rahm, J.; Kieselstein, E.; Kreyßig, K.; Sommer, J.-P.; Auerswald, E.; Kremling, U. | Konferenzbeitrag |
2003 | Fluidic power modules for power electronics and stacked modules Kaulfersch, E.; Vogel, J.; Kieselstein, E. | Abstract |
2003 | How to detect Edgar Allan Poe's 'purloined letter' - Or: Cross correlation algorithms in digitised video images for object identification, movement evaluation and deformation analysis Dost, M.; Vogel, D.; Winkler, T.; Vogel, J.; Erb, R.; Kieselstein, E.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2003 | LONGLIFE - optical measuring techniques for reliability evaluation of MEMS Dost, M.; Kieselstein, E.; Winkler, T.; Noack, E. | Abstract |
2003 | Optimierung der mechanischen und tribologischen Eigenschaften keramischer Schichten - Nutzen für die Kniegelenk-Endoprothetik Rahm, J.; Glien, W.; Kieselstein, E.; Kreyßig, K.; Sommer, J.-P.; Auerswald, E.; Kremling, U. | Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag |
2002 | Delamination risk evaluation for plastic packages based on mixed mode fracture mechanics approaches Auersperg, J.; Kieselstein, E.; Schubert, A.; Michel, B. | Zeitschriftenaufsatz |
2001 | Application of electroplating in MEMS-micromachining exemplified by a microrelay Becker, M.; Notarp, D.L.; Vogel, J.; Kieselstein, E.; Sommer, J.P.; Brämer, K.; Grosser, V.; Benecke, W.; Michel, B. | Zeitschriftenaufsatz |
2001 | Experimentelle und numerische Methoden zur Charakterisierung von Mikrobauteilen Sommer, J.-P.; Kieselstein, E.; Seiler, B.; Dost, M.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2001 | Interfacial fracture toughness tests suited for reliability enhancements of advanced plastic packages Auersperg, J.; Kieselstein, E.; Schubert, A.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2001 | Mixed mode interfacial fracture toughness evaluation for flip chip assemblies and CSP based on fracture mechanics approaches Auersperg, J.; Kieselstein, E.; Schubert, A.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2001 | Mixed Mode Interfacial Fracture Toughness Evaluation for Flip-Chip Assemblies and CSP Based on Fracture Mechanics Approaches Auersperg, J.; Kieselstein, E.; Schubert, A.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2000 | Characterisation of micromaterials and microcomponents by combination of microbending test and UNIDAC Seiler, B.; Kieselstein, E.; Dost, M.; Wielage, B.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2000 | Characterization of Micro Materials and Micro Components by Combination of the Micro-Bending Test and UNIDAC Michel, B.; Seiler, B.; Dost, M.; Wielage, B.; Kieselstein, E.; Winkler, T.; Dudek, R.; Auersperg, J.; Schubert, A.; Schneider, W. | Konferenzbeitrag |
2000 | Evaluation of GlobTop materials for COB applications Walter, H.; Schubert, A.; Schneider, W.; Kieselstein, E.; Auerswald, E.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2000 | Experimental and numerical investigations of microelectroplated sensors Vogel, J.; Sommer, J.-P.; Noack, E.; Kieselstein, E.; Auerswald, E.; Gentzsch, S.; Großer, V.; Winkler, T.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2000 | Interface fracture investigations on micro components Auersperg, J.; Kieselstein, E.; Schubert, A.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2000 | Investigation of interface cracking in electronic packages Kieselstein, E.; Seiler, B.; Winkler, T.; Auersperg, J.; Dudek, R.; Schubert, A.; Schneider, W.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2000 | Material Characterization and FE Analysis of Electroplated Microrelays Vogel, J.; Sommer, J.-P.; Faust, W.; Kieselstein, E.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2000 | Mixed mode interfacial fracture toughness investigations for thermo-mechanical reliability enhancement of plastic packages Auersperg, J.; Kieselstein, E.; Schubert, A.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2000 | UNIDAC: Cross correlation based deformation analysis at digitised micrographs to study material behaviour and parameters in MST Dost, M.; Kieselstein, E.; Erb, R.; Seiler, B.; Vogel, J.; Bombach, C.; Großer, V.; Vogel, D.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
2000 | X-ray diffraction at elevated temperatures in microsystem technology Auerswald, E.; Anhöck, S.; Kieselstein, E.; Vogel, J.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
1999 | Charakterisierung galvanisch abgeschiedener Sensorstrukturen Auerswald, E.; Sommer, J.-P.; Michel, B.; Kieselstein, E.; Brämer, B. | Konferenzbeitrag |
1999 | Correlation analysis at grey scale patterns in an in-situ measuring module for microsystem technology Dost, M.; Rümmler, N.; Kieselstein, E.; Erb, R.; Hillmann, V.; Großer, V. | Aufsatz in Buch |
1999 | Determination of material properties by the optical measuring procedure UNIDAC Kieselstein, E.; Seiler, B.; Dost, M.; Michel, B. | Zeitschriftenaufsatz |
1997 | Characterization of composite materials by means of correlation analysis of grey scale patterns Kieselstein, E.; Penno, M.; Wielage, B.; Dost, M.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |