Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2018Maintenance Scheduling for an End-Effector of an Industrial Robot with the Aid of Influence Diagrams
Kempf, Michael; Madsen, Anders L.; Sondberg-Jeppesen, Nicolaj; Rocher, Paulino; Thompson, Ian
Konferenzbeitrag
2017Degradation model constructed with the aid of dynamic Bayesian networks
Lorenzoni, Anselm; Kempf, Michael; Mannuß, Oliver
Zeitschriftenaufsatz
2017Nahfeldlokalisierung von Systemen in Produktionslinien - Hardware und Systemintegration
Fritzsch, Thomas; Gulden, Peter; Lipka, Melanie; Muharemovic, Nedim; Meinel, David; Vehring, Sönke; Böck, Georg; Kempf, Markus; Pavlovic, Boban; Schmückle, Fanz-Josef; Phung, Gia Ngoc; Huhn, Max
Konferenzbeitrag
2015Degradation processes modelled with Dynamic Bayesian Networks
Lorenzoni, Anselm; Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
2015Monitoring the degradation of a linear axis with the aid of a dynamic bayesian network model
Kempf, Michael; Moser, Ulrich; Lorenzoni, Anselm
Konferenzbeitrag
2014Degradation model constructed with the aid of dynamic Bayesian networks
Lorenzoni, Anselm; Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
2013Optimization of customer satisfaction using Bayesian networks
Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
2012A Bayesian logistic regression model for binomial failure data
Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
201116th Annual International Conference on Industrial Engineering - Theory, Applications and Practice 2011. CD-ROM
: Kempf, Michael (Ed.); Rommel, Steve (Ed.); Fernandez, Jeffrey (Ed.); Subramanian, Anand (Ed.)
Tagungsband
2011Effiziente Bestimmung von Zuverlässigkeitskennwerten durch Integration von Expertenwissen
Kempf, Michael
Zeitschriftenaufsatz
2010A Bayesian reliability model for failure count data
Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
2010Entwickungsbegleitendes, domänenübergreifendes Zuverlässigkeitsmodell
Kempf, Michael; Rauschenbach, Matthias
Konferenzbeitrag
2009A Bayesian hierarchical model for reliability analyses
Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
2008Ein Bayes'scher Ansatz zur Bewertung technischer Risiken im Entwicklungsprozess
Kempf, Michael
Zeitschriftenaufsatz
2008A Bayesian approach for estimating survival probabilities
Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
2008Reducing availability risks within production systems
Mannuß, Oliver; Schloske, Alexander; Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
2008Reduzierung von Verfügbarkeitsrisiken in Produktionssystemen
Mannuß, Oliver; Schloske, Alexander; Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
2007Bewertung technischer Risiken im Entwicklungsprozess
Kempf, Michael
Zeitschriftenaufsatz
2007Qualitätsmanagement im Rapid Prototyping
Becker, Ralf; Grzesiak, Andrzej; Henning, Axel; Kempf, Michael; Westkämper, Engelbert
Aufsatz in Buch
2007Reliabilty prediction with the aid of bayesian statistics
Kempf, Michael
Konferenzbeitrag
2007Vernetztes Entwicklungswissen durchgehend nutzen
Becker, Ralf; Graf, Heiko; Grzesiak, Andrzej; Henning, Axel; Kempf, Michael
Aufsatz in Buch
2007Vernetztes Wissen für die interaktive Entwicklung von Prototypen
Becker, Ralf; Graf, Heiko; Grzesiak, Andrzej; Henning, Axel; Kempf, Michael
Aufsatz in Buch
2006A bayesian approach assessing the availability of technical systems under different operating conditions throughout their life cycle
Mannuß, O.; Schneider, S.; Kempf, M.; Westkämper, E.
Konferenzbeitrag
2006Bayesian nets for life cycle cost forecasting
Janz, D.; Schneider, S.; Kempf, M.; Westkämper, E.
Konferenzbeitrag
2005Making reliability statements for technical systems under different environmental conditions - an application of Bayesian networks
Schneider, S.; Kempf, M.
Konferenzbeitrag
2004Quality prediction in complex product development processes
Kempf, M.
Konferenzbeitrag
2004Quality prognosis in rapid product development
Grzesiak, A.; Kempf, M.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2003Context-sensitive selection of methods during product design
Kempf, M.
Konferenzbeitrag
2003Entscheidungsunterstützung in der Produktentwicklung
Kempf, M.; Grzesiak, A.
Zeitschriftenaufsatz
2002Imaging and measurement of local mechanical material properties by atomic force acoustic microscopy
Rabe, U.; Amelio, S.; Kopycinska, M.; Hirsekorn, S.; Kempf, M.; Göken, M.; Arnold, W.
Zeitschriftenaufsatz
2001Anlaufzeit verkürzen durch Einsatz von Virtual Reality Technologien
Borgmann, C.; Scheffter, D.; Kempf, M.
Konferenzbeitrag
2001Failure analysis with the aid of bayesian networks
Kempf, M.
Konferenzbeitrag
1997Integration von Zeit, Kosten und Qualität
Kempf, M.; Dittmar, J.; Scholl, K.; Marx, P.; Kopsch, J.; Koch, K.U.; Wörner, K.
Zeitschriftenaufsatz
1996Ein bereichsübergreifendes Modell für Qualitätsdaten
Kempf, M.
Zeitschriftenaufsatz
1996Der Kausalprozessor
Warnecke, H.-J.; Kempf, M.
Aufsatz in Buch
1996Qualitätsmanagement im Rapid Prototyping
Westkämper, E.; Englert, E.; Kempf, M.; Koch, K.U.
Zeitschriftenaufsatz
1995Informationsmanagementsystem im Qualitätsinterface
Englert, E.; Kempf, M.; Gücker, A.; Schmidt, H.
Aufsatz in Buch
1995Das Qualitätsinterface
Englert, E.; Gücker, A.; Kempf, M.; Schmidt, H.
Zeitschriftenaufsatz
1994Bereichsübergreifendes Qualitätsmanagement in der flexiblen Montage
Heusel, K.; Lehle, P.; Bantel, T.; Englert, E.; Grau, R.; Gücker, A.; Hirschmann, K.H.; Kempf, M.; Kille, K.; Oestreich, B.S.; Schmidt, H.; Vay, P.
Konferenzbeitrag
1993System und Entwicklungstendenzen zur wissensbasierten Unterstützung in der Produktdatenentwicklung
Krause, F.-L.; Kempf, M.; Koch, S.
Aufsatz in Buch
1992Fehlerdiagnose und Fehlermöglichkeits- und -einflußanalyse
Kempf, M.; Wahl, V.
Zeitschriftenaufsatz
1989Fehler-Möglichkeits- und Einfluß-Analyse
Kempf, M.
Konferenzbeitrag