Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung an Nassfilmen
Klier, Jens; Weber, Stefan; Molter, Daniel; Freymann, Georg von; Jonuscheit, Joachim
Zeitschriftenaufsatz
2018Interferometry-aided terahertz time-domain spectroscopy for robust measurements in reflection
Molter, Daniel; Weber, Stefan; Pfeiffer, Tobias; Klier, Jens; Bachtler, Sebastian; Ellrich, Frank; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von
Konferenzbeitrag
2018Leitfaden zur Bildverarbeitung in der zerstörungsfreien Prüfung
Aderhold, Jochen; Beran, Philip; Ernst, Jürgen; Getto, Sascha; Goetz, Jürgen; Hanke, Randolf; Hartrumpf, Matthias; Heinrich, Matthias; Hildenbrand, Markus; Hiller, Karl-Heinz; Jonuscheit, Joachim; Jungmann, Christian; König, Niels; Koster, Dirk; Krause, Julius; Lugin, Sergey; Meinlschmidt, Peter; Meyer, Johannes; Movahed, Ali; Mörchel, Philipp; Negara, Christian; Nüßler, Dirk; Oswald, Jan; Rabe, Ute; Rick, Rainer; Salamon, Michael; Schöberl, Michael; Henning, Schulte; Spies, Martin; Szielasko, Klaus; Tschuncky, Ralf; Valeske, Bernd; Waschkies, Thomas
: Sackewitz, Michael
Buch
2018Volume inspection of composite structures in aircraft radomes with FMCW terahertz radar at 100 and 150 GHz
Bauer, Maris; Keil, Andreas; Matheis, Carsten; Jonuscheit, Joachim; Moor, Michael; Denman, David; Bramble, Jamie; Savage, Nick; Friederich, Fabian
Konferenzbeitrag
2018Vorrichtung und Verfahren zum zeitaufgelösten Erfassen gepulster elektromagnetischer Hochfrequenzstrahlung
Jonuscheit, Joachim; Klier, Jens; Molter, Daniel; Freymann, Georg von
Patent
2017Thickness determination of wet coatings using self-calibration method
Weber, Stefan; Ellrich, Frank; Paustian, Stephan; Güttler, Nico; Tiedje, Oliver; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von
Konferenzbeitrag
2016Highly accurate thickness measurement of multi-layered automotive paints using terahertz technology
Krimi, Soufiene; Klier, Jens; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von; Urbansky, Ralph; Beigang, René
Zeitschriftenaufsatz
2016Illumination aspects of sparse line arrays for 3D terahertz imaging
Baccouche, Bessem; Mohammadzadeh, Shiva; Keil, Andreas; Kahl, Matthias; Haring Bolivar, Peter; Loeffler, Torsten; Jonuscheit, Joachim; Sauer-Greff, Wolfgang; Urbansky, Ralph; Friederich, Fabian
Konferenzbeitrag
2016Interferometry-aided delay lines for high-precision terahertz time-domain spectroscopy
Molter, Daniel; Trierweiler, Manuel; Ellrich, Frank; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von
Konferenzbeitrag
2016Self-calibrating approach for terahertz thickness measurements of ceramic coatings
Krimi, Soufiene; Klier, Jens; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von; Urbansky, Ralph; Beigang, René
Konferenzbeitrag
2016Terahertz time-domain technology for thickness determination of industrial relevant multi-layer coatings
Ellrich, Frank; Klier, Jens; Weber, Stefan; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von
Konferenzbeitrag
2016Terahertz waves for thickness analyses
Jonuscheit, Joachim
Zeitschriftenaufsatz
2016THz technology - from hype to market
Freymann, Georg von; Jonuscheit, Joachim
Zeitschriftenaufsatz
2016Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Schichtdicken einer mehrschichtigen Probe
Krimi, Soufiene; Klier, Jens; Jonuscheit, Joachim
Patent
2015Berührungslos und zerstörungsfrei - Keramiken charakterisieren mit Terahertz-Wellen
Jonuscheit, Joachim
Zeitschriftenaufsatz
2015Die Entwicklung der Terahertz-Technik - vom Hype zum Markt
Freymann, Georg von; Jonuscheit, Joachim
Zeitschriftenaufsatz
2015An evolutionary algorithm based approach to improve the limits of minimum thickness measurements of multilayered automotive paints
Krimi, Soufiene; Klier, Jens; Ellrich, Frank; Jonuscheit, Joachim; Urbansky, R.; Beigang, René; Freymann, Georg von
Konferenzbeitrag
2015High resolution terahertz volume inspection using a rectangular dielectric rod antenna in transceiver configuration
Baccouche, Bessem; Baktash, N.; Clemens, J.; Natale, A.; Jonuscheit, Joachim; Friederich, Fabian
Konferenzbeitrag
2015A sparse array based sub-terahertz imaging system for volume inspection
Baccouche, Bessem; Keil, A.; Kahl, M.; Haring Bolivar, P.; Loeffler, T.; Jonuscheit, Joachim; Friederich, Fabian
Konferenzbeitrag
2015A sparse multistatic imaging system for terahertz volume inspection
Baccouche, Bessem; Kahl, M.; Keil, A.; Bolivar, P.H.; Loeffler, T.; Jonuscheit, Joachim; Friederich, Fabian
Konferenzbeitrag
2015Zerstörungsfreie Mehrschichtanalyse
Jonuscheit, Joachim
Zeitschriftenaufsatz
2014Nondestructive testing potential evaluation of a terahertz frequency-modulated continuous-wave imager for composite materials inspection
Cristofani, Edison; Friederich, Fabian; Wohnsiedler, Sabine; Matheis, Carsten; Jonuscheit, Joachim; Vandewal, Marijke; Beigang, René
Zeitschriftenaufsatz
2014Strukturanalyse mittels Terahertz
Jonuscheit, Joachim
Zeitschriftenaufsatz
2014Zerstörungsfreie Analyse
Jonuscheit, Joachim
Zeitschriftenaufsatz
2014Zerstörungsfreie Prüfung von Verbundwerkstoffen mit Terahertz-Technik im Vergleich zu etablierten Prüfverfahren
Wohnsiedler, Sabine; Matheis, Carsten; Jonuscheit, Joachim; Beigang, René
Zeitschriftenaufsatz
2013Revealing the invisible - identifying concealed substances by means of terahertz spectroscopy
Jonuscheit, Joachim; Molter, Daniel; Ellrich, Frank; Beigang, René; Platte, Frank; Nalpantidis, Konstantinos
Zeitschriftenaufsatz
20123-D radar image processing methodology for Non-Destructive Testing of aeronautics composite materials and structures
Brook, A.; Cristofani, Edison; Vandewal, Marijke; Matheis, Carsten; Jonuscheit, Joachim
Konferenzbeitrag
2012Chemometric tools for analysing Terahertz fingerprints in a postscanner
Ellrich, Frank; Torosyan, Garik; Wohnsiedler, Sabine; Bachtler, Sebastian; Hachimi, A.; Jonuscheit, Joachim; Beigang, René; Platte, F.; Nalpantidis, K.; Sprenger, T.; Hübsch, D.
Konferenzbeitrag
2012In-depth high-resolution SAR imaging using Omega-k applied to FMCW systems
Cristofani, Edison; Vandewal, Marijke; Matheis, Carsten; Jonuscheit, Joachim
Konferenzbeitrag