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| 2011 | Magnetic properties of asymmetric double-wire structures
Pshenay-Severin, E.; Chipouline, A.; Petschulat, J.; Hübner, U.; Eilenberger, F.; Setzpfandt, F.; Pertsch, T.; Tünnermann, A. | Konferenzbeitrag |
| 2011 | Optical properties of metamaterials based on asymmetric double-wire structures
Pshenay-Severin, E.; Chipouline, A.; Petschulat, J.; Hübner, U.; Tünnermann, A.; Pertsch, T. | Zeitschriftenaufsatz |
| 2010 | Doubly resonant optical nanoantenna arrays for polarization resolved measurements of surface-enhanced Raman scattering
Petschulat, J.; Cialla, D.; Janunts, N.; Rockstuhl, C.; Huebner, U.; Moeller, R.; Schneidewind, H.; Mattheis, R.; Popp, J.; Tünnermann, A.; Lederer, F.; Pertsch, T. | Zeitschriftenaufsatz |
| 2010 | Experimental determination of the dispersion relation of light in metamaterials by white-light interferometry
Pshenay-Severin, E.; Setzpfandt, F.; Helgert, C.; Hübner, U.; Menzel, C.; Chipouline, A.; Rockstuhl, C.; Tünnermann, A.; Lederer, F.; Pertsch, T. | Zeitschriftenaufsatz |
| 2010 | Tailoring the properties of optical metamaterials
Helgert, C.; Pertsch, T.; Rockstuhl, C.; Pshenay-Severin, E.; Menzel, C.; Kley, E.-B.; Chipouline, A.; Etrich, C.; Hübner, U.; Tünnermann, A.; Lederer, F. | Zeitschriftenaufsatz |
| 2009 | Double-element metamaterial with negative index at near-infrared wavelengths
Pshenay-Severin, E.; Hübner, U.; Menzel, C.; Helgert, C.; Chipouline, A.; Rockstuhl, C.; Tünnermann, A.; Lederer, F.; Pertsch, T. | Zeitschriftenaufsatz |
| 2009 | Ultrafast plasmon dynamics and evanescent field distribution of reproducible surface-enhanced Raman-scattering substrates
Cialla, D.; Siebert, R.; Hübner, U.; Möller, R.; Schneidewind, H.; Mattheis, R.; Petschulat, J.; Tünnermann, A.; Pertsch, T.; Dietzek, B.; Popp, J. | Zeitschriftenaufsatz |
| 2007 | A double cell metamaterial for independent tuning of the magnetic and electric response
Pshenay-Severin, E.; Garwe, F.; Petschulat, J.; Rockstuhl, C.; Hübner, U.; Helgert, C.; Kley, E.-B.; Pertsch, T.; Tünnermann, A.; Lederer, F. | Konferenzbeitrag |
| 2006 | Evaluation of gold nanowire pairs as a potential negative index material
Garwe, F.; Rockstuhl, C.; Etrich, C.; Hübner, U.; Bauerschäfer, U.; Setzpfandt, F.; Augustin, M.; Pertsch, T.; Tünnermann, A.; Lederer, F. | Zeitschriftenaufsatz |
| 2004 | Photonic crystal optical circuits in moderate index materials
Augustin, M.; Böttger, G.; Eich, M.; Etrich, C.; Fuchs, H.; Iliew, R.; Hübner, U.; Kessler, M.; Kley, E.-B.; Lederer, F.; Liguda, C.; Nolte, S.; Meyer, H.G.; Morgenroth, W.; Peschel, U.; Petrov, A.; Schelle, D.; Schmidt, M.; Tünnermann, A.; Wischmann, W. | Aufsatz in Buch |
| 1994 | Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level Testgenerierung
Hübner, U. | Dissertation |
| 1993 | Efficient communication in mixed-level hierarchical test pattern generation
Gläser, U.; Hübner, U.; Vierhaus, H.T.; Camposano, R. | Bericht |
| 1993 | Partitioning and analysis of static digital CMOS-circuits
Hübner, U.; Camposano, R. | Bericht |
| 1992 | Analyse und lokale Testmustergenerierung für irreguläre Transistorstrukturen
Hübner, U. | Konferenzbeitrag |
| 1992 | CMOS transistor faults and bridging faults: Testability by delay effects and overcurrents
Hübner, U.; Meyer, W.; Vierhaus, H. | Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz |
| 1992 | Efficient partitioning and analysis of digital CMOS-circuits
Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Konferenzbeitrag |
| 1992 | Mixed level hierarchical test generation for transition faults and overcurrent related defects
Gläser, U.; Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Konferenzbeitrag |
| 1990 | Ein Konzept zur Top-Down Kommunikation eines hierarchischen Testmustergenerators
Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Konferenzbeitrag |
| 1989 | Testmustergenerierung für kombinatorische CMOS-Schaltungen mit einem Ausgang
Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Konferenzbeitrag |
| 1989 | Testmustergenerierung mit hoher Fehlerüberdeckung für CMOS-Schaltungen
Hübner, U. | Diplom-Arbeit |
| 1988 | CMOS fault modeling, test generation and design for testability
Matthäus, C.; Krüger-Sprengel, B.; Glowacz, C.; Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Konferenzbeitrag |
| 1987 | Fault modeling and test pattern generation for static CMOS circuits
Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Konferenzbeitrag |