Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Very-Thin System-in-Package Technology for Structural Analysis
Hopsch, Fabian; Heinig, Andy; Böttcher, Mathias
Konferenzbeitrag
2018Electrical Characterization of a High Speed HBM Interface for a Low Cost Interposer
Dittrich, M.; Heinig, A.; Hopsch, F.
Konferenzbeitrag
2017Heterogeneous Interposer Based Integration of Chips with Copper Pillars and C4 Balls to Achieve High Speed Interfaces for ADC Application
Dittrich, Michael; Heinig, Andy; Hopsch, Fabian; Trieb, Robert
Konferenzbeitrag
2017Interposer-based smartcard system with active wireless communication
Hopsch, Fabian; Heinig, Andy; Böttcher, Mathias
Konferenzbeitrag
2016Advanced System Integration für hochintegrierte Sensoren im Umfeld von Industrie-4.0-Anwendungen
Heinig, Andy; Dietrich, Michael; Hopsch, Fabian
Konferenzbeitrag
2016Guest Editors Introduction: Robust 3-D Stacked ICs
Khursheed, S.; Vivet, P.; Hopsch, F.; Marinissen, E.J.
Zeitschriftenaufsatz
2015An approach to generate test signals for analog circuits – a control-theoretic perspective
Vermeiren, Wolfgang; Hopsch, Fabian; Jancke, Roland
Konferenzbeitrag
2015Ein regelungstechnischer Ansatz zur Testsignalgenerierung für Analogschaltungen
Vermeiren, Wolfgang; Hopsch, Fabian; Jancke, Roland
Konferenzbeitrag
2013Testkonzept für ein interposerbasiertes 3D-System
Heinig, Andy; Hopsch, Fabian
Konferenzbeitrag
2012Path-based statistical gate-level analyses considering timing and energy
Lange, André; Hopsch, Fabian; Haase, Joachim
Konferenzbeitrag
2012Testentwicklung für digitale Schaltungen unter Verwendung von elektrischer Fehlersimulation
Hopsch, Fabian; Straube, Bernd; Vermeiren, Wolfgang; Vierhaus, Heinrich Theodor
Konferenzbeitrag
2011Characterization of digital cells for statistical test
Hopsch, F.; Lindig, M.; Straube, B.; Vermeiren, W.
Konferenzbeitrag
2011Characterization of digital cells for statistical test
Hopsch, Fabian; Lindig, Michael; Straube, Bernd; Vermeiren, Wolfgang
Konferenzbeitrag
2011Variation-aware fault modeling
Hopsch, F.; Becker, B.; Hellebrand, S.; Polian, I.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Wunderlich, H.-J.
Zeitschriftenaufsatz
2010Applying electric fault simulation for deriving tests for through-silicon vias
Gulbins, Matthias; Hopsch, Fabian; Schneider, Peter; Straube, Bernd; Vermeiren, Wolfgang
Konferenzbeitrag
2010Combining time resolved emission and analog simulation for fault localization
Burmer, C.; Hopsch, F.; Vermeiren, W.
Konferenzbeitrag
2010Developing digital test sequences for through-silicon vias within 3D structures
Gulbins, M.; Hopsch, F.; Schneider, P.; Straube, B.; Vermeiren, W.
Konferenzbeitrag
2010Elektrische Fehlersimulation digitaler Grundgatter unter Parameterschwankungen
Hopsch, F.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Lindig, M.; Haase, J.
Konferenzbeitrag
2010Ermitteln der Häufigkeitsverteilungen von Verzögerungszeiten digitaler Grundgatter infolge von Parameterschwankungen
Hopsch, F.; Straube, B.; Vermeiren, W.
Konferenzbeitrag
2010Variation-aware fault modeling
Hopsch, F.; Becker, B.; Hellebrand, S.; Polian, I.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Wunderlich, H.-J.
Konferenzbeitrag
2009Fehleranalyse von Kurzschlüssen in DRAM Wortleitungstreibern durch Extraktion von Layout Parasitics und DeltaIDD3N Messungen
Versen, M.; Ertl, F.; Diaconescu, D.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Hopsch, F.
Konferenzbeitrag