Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2020Toroidal multilayer mirrors for laboratory soft X-ray grazing emission X-ray fluorescence
Baumann, J.; Jonas, A.; Reusch, R.; Szwedowski-Rammert, V.; Spanier, M.; Grötzsch, D.; Bethke, K.; Pollakowski-Herrmann, B.; Krämer, M.; Holz, T.; Dietsch, R.; Mantouvalou, I.; Kanngießer, B.
Zeitschriftenaufsatz
2019Cybersecurity Research: Challenges and Course of Action
Holz, Thorsten; Müller-Quade, Jörn; Raabe, Oliver; Waidner, Michael; Bardin, Sébastien; Debar, Hervé; Dinger, Jochen; Fahl, Sascha; Faust, Sebastian; Gonzalez Fuster, Gloria; Gro, Stjepan; Hallett, Joseph; Harlander, Magnus; Houdeau, Detlef; Kirchner, Claude; Klasen, Wolfgang; Lotz, Volkmar; Markatos, Evangelos; Möhring, Peter; Posch, Reinhard; Ritter, Steve; Schallbruch, Martin; Schunter, Matthias; Volkamer, Melanie; Wespi, Andreas; Engelbrecht, Adrian; Fuchs, Andreas; Geiselmann, Willi; Grensing, Anna-Louise; Heidt, Margareta; Heyszl, Johann; Hiller, Matthias; Jäger, Lukas; Kawohl, Claudia; Koch, Alexander; Krämer, Annika; Marnau, Ninja; Noack, Kathrin; Rieke, Roland; Senf, Daniel; Springer, Markus; Steinbrück, Anne; Strefler, Mario; Tatang, Dennis; Backes, Michael; Buxmann, Peter; Eckert, Claudia
: Müller-Quade, Jörn
Bericht
2016A dedicated illumination for full-field X-ray microscopy with multilayer Laue lenses
Niese, Sven; Braun, Stefan; Dietsch, Reiner; Gluch, Jürgen; Holz, Thomas; Huber, Norman; Kubec, Adam; Zschech, Ehrenfried
Konferenzbeitrag
2014Dynamic Hooks: Hiding Control Flow Changes within Non-Control Data
Vogl, Sebastian; Gawlik, Robert; Garmany, Behrad; Kittel, Thomas; Pfoh, Jonas; Eckert, Claudia; Holz, Thorsten
Konferenzbeitrag
2012Reliable quantification of inorganic contamination by TXRF
Müller, M.; Nutsch, A.; Altmann, R.; Borionetti, G.; Holz, T.; Mantler, C.; Hönicke, P.; Kolbe, M.; Beckhoff, B.
Konferenzbeitrag
2010Botzilla: Detecting the "phoning home" of malicious software
Rieck, K.; Schwenk, G.; Limmer, T.; Holz, T.; Laskov, P.
Konferenzbeitrag
2008Learning and classification of malware behavior
Rieck, K.; Holz, T.; Düssel, P.; Willems, C.; Laskov, P.
Konferenzbeitrag
2008Measuring and detecting fast-flux service networks
Holz, T.; Gorecki, C.; Rieck, K.; Freiling, F.
Konferenzbeitrag
2006Untersuchung dünner Schichten mittels Röntgenreflektometrie
Dietsch, R.; Holz, T.
Zeitschriftenaufsatz
2005Analytical application of x-ray optical systems
Dietsch, R.; Holz, T.; Braun, S.; Leisegang, T.; Meyer, D.C.
Konferenzbeitrag
2005Analytische Anwendungen röntgenoptischer Systeme
Dietsch, R.; Holz, T.; Braun, S.; Leisegang, T.; Meyer, D.
Konferenzbeitrag
2005ROENTGENOPTISCHE ANORDNUNG
Holz, T.
Patent
2005Vorrichtung zur Roentgenfluoreszenzanalyse
Holz, T.
Patent
2004Konzeption und Erprobung eines Labor-Reflektometersystems für Röntgenoptiken
Beyer, E.; Loyen, L. van; Mai, H.; Holz, T.; Böttger, T.; Friedrich, W.
Bericht
2004Verfahren und Vorrichtung zum synchronen und mobilen Pruefen von Materialien, insbesondere Prueflingen groesserere Dicke und/oder komplizierter Geometrie, mittels Roentgenstrahlen
Kaempfe, B.; Petrick, H.; Holz, T.; Scheel, W.; Halser, K.
Patent
2003Carbon / Carbon multilayer - A new approach in the development of nanometer-multilayer x-ray optics
Dietsch, R.; Böttger, T.; Braun, S.; Holz, T.; Weißbach, D.
Konferenzbeitrag
2003Improving tracking capabilities in AR through dynamic sensor combination
Holz, T.; Kretschmer, U.
Konferenzbeitrag
2003Using learning games to raise cultural awareness
Kretschmer, U.; Holz, T.; Krenzel, R.; Orozco Ochoa, M.S.; Holweg, D.
Konferenzbeitrag
2002Anordnung fuer roentgenanalytische Anwendungen
Dietsch, R.; Holz, T.
Patent
2002Application of nanometer-multilayer optics for x-ray analysis
Dietsch, R.; Braun, S.; Holz, T.; Leson, A.
Konferenzbeitrag
2002High-precision nm-multilayers for EUV and x-ray optical application
Braun, S.; Dietsch, R.; Foltyn, T.; Holz, T.; Mai, H.; Moss, M.; Weißbach, D.; Leson, A.
Konferenzbeitrag
2002High-resolution Carbon/Carbon Multilayers
Baranov, Alexander M.; Dietsch, Reiner; Holz, Thomas; Menzel, Maik; Weißbach, Danny; Scholz, Roland; Melov, Valeri; Schreiber, Jürgen
Konferenzbeitrag
2002Large area PLD of nanometer-multilayers
Dietsch, R.; Holz, T.; Weißbach, D.; Scholz, R.
Zeitschriftenaufsatz
2001Evolution of stress and microstructure in Ni/C multilayers used as X-ray optics in a wide energy range
Dietsch, R.; Holz, T.; Weißbach, D.; Melov, V.; Schreiber, J.; Scholz, R.
Konferenzbeitrag
2001Mo/Si-multilayers for EUV applications prepared by pulsed laser deposition (PLD)
Braun, S.; Dietsch, R.; Haidl, M.; Holz, T.; Mai, H.; Müllender, S.; Scholz, R.
Zeitschriftenaufsatz
2001Nanometer multilayer coatings for applications in the X-ray range
Leson, A.; Braun, S.; Dietsch, R.; Holz, T.; Mai, H.
Konferenzbeitrag
2001Nanometer-Multischichten für die Röntgenanalytik
Dietsch, R.; Holz, T.; Leson, A.; Mai, H.; Bahr, D.; Brügemann, L.; Lange, J.; Hofmann, A.; Pink, F.
Zeitschriftenaufsatz
2001Ultrapräzise nm-Schichtstapel als Grundlagen moderner Röntgentechnologien
Mai, H.; Dietsch, R.; Holz, T.
Zeitschriftenaufsatz
2000Application of Ni/C Goebel mirrors
Holz, T.; Dietsch, R.; Mai, H.; Brügemann, L.
Zeitschriftenaufsatz
2000Multilayer x-ray optics for energies E greater than 8 keV and their application in x-ray analysis
Dietsch, R.; Braun, S.; Holz, T.; Mai, H.; Scholz, R.; Brügemann, L.
Konferenzbeitrag
2000Ultrapräzise nm-Schichtstapel als Grundlage moderner Röntgentechnologien
Mai, H.; Dietsch, R.; Holz, T.
Konferenzbeitrag
2000X-ray absorption fine structure study of short-range order of iron in Fe/Al multilayers
Meyer, D.C.; Richter, K.; Paufler, P.; Gawlitza, P.; Holz, T.
Zeitschriftenaufsatz
1999Laterally graded multilayer optics for X-ray analysis
Bahr, D.; Brügemann, L.; Burgäzy, F.; Dietsch, R.; Göbel, H.; Holz, T.; Mai, H.; Michaelsen, C.; Ricardo, P.; Schuster, M.; Strömmer, M.
Konferenzbeitrag
1999Pulsed laser deposition of laterally graded Ni/C-multilayers and their application in parallel beam X-ray optics
Holz, T.; Dietsch, R.; Mai, H.; Brügemann, L.; Hopfe, S.; Scholz, R.; Krawietz, R.; Wehner, B.
Konferenzbeitrag
1999Reflectivity of Ni/C Multilayer X-Ray Mirrors in the Energy Range 8-70 keV
Falkenberg, G; Holz, T.; Franz, H.
Aufsatz in Buch
1999Self-organized structuring of W/C multilayers on Si substrate
Meyer, D.C.; Klingner, A.; Holz, T.; Paufler, P.
Zeitschriftenaufsatz
1998Characterization of pulsed laser deposited Ni/C-multilayers with hard and soft X-rays
Holz, T.; Dietsch, R.; Mai, H.; Meyer, C.F.; Scholz, R.
Aufsatz in Buch
1998High precision large area PLD of x-ray optical multilayers
Dietsch, R.; Holz, T.; Mai, H.; Meyer, C.F.; Scholz, R.; Wehner, B.
Konferenzbeitrag
1995Characterization of a Ni/C multilayer with Fluorescence XAFS experiments at fixed standing wave field positions
Meyer, D.C.; Holz, T.; Krawietz, R.; Richter, K.; Wehner, B.; Paufler, P.
Zeitschriftenaufsatz
1995Characterization of ultra smooth interfaces in Mo/Si-multilayers
Dietsch, R.; Holz, T.; Hopfe, S.; Kallis, N.; Mai, H.; Scholz, R.; Schöneich, B.; Wendrock, H.
Zeitschriftenaufsatz
1995Large-area pulsed laser deposition -PLD-
Dietsch, R.; Holz, T.; Mai, H.; Panzner, M.; Völlmar, S.
Konferenzbeitrag
1995Pulsed laser deposition - an advanced state for technical applications
Dietsch, R.; Holz, T.; Mai, H.; Panzner, M.; Völlmar, S.
Zeitschriftenaufsatz
1995Pulsed laser deposition of laterally graded X-ray optical multilayers on substrates of technical relevance
Dietsch, R.; Holz, T.; Krawietz, R.; Mai, H.; Schöneich, B.; Scholz, R.; Völlmar, S.; Wehner, B.
Konferenzbeitrag
1995Scale-up of pulsed laser deposition -PLD- for 4-wafer coating
Panzner, M.; Dietsch, R.; Holz, T.; Mai, H.; Völlmar, S.
Zeitschriftenaufsatz
1995X-ray optical properties of C/C-multilayers prepared by pulsed laser deposition -PLD-
Dietsch, R.; Holz, T.; Mai, H.; Hopfe, S.; Scholz, R.; Wehner, B.; Wendrock, H.
Konferenzbeitrag
1994Integration of a pulsed laser deposition source into a conventional MBE-system to produce multilayersystems on a NM-scale
Dietsch, R.; Holz, T.; Mai, H.; Völlmar, S.
Tagungsband
1994Pulsed laser deposition of x-Ray optical layer stacks with atomically flat interfaces
Mai, H.; Dietsch, R.; Holz, T.; Völlmar, S.; Hopfe, S.; Scholz, R.; Weißbrodt, P.; Krawietz, R.; Wehner, B.; Eichler, H.; Wendrock, H.
Konferenzbeitrag