Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2000Verfahren der Roentgenfluoreszenzmikroskopie
Neff, W.; Rothweiler, D.; Lebert, R.; Bergmann, K.; Boebel, F.G.; Hanke, R.F.
Patent
1998Vorrichtung und Verfahren zur Bilderzeugung bei der digitalen dentalen Radiographie
Schmitt, P.; Kostka, G.; Scholz, O.; Bauer, N.; Hanke, R.F.
Patent
1997Planar computer tomography (PCT)
Wennmacher, C.; Schröpfer, S.; Bauscher, I.; Kostka, G.; Hanke, R.F.
Konferenzbeitrag
1996Ein Verfahren zur Bestimmung von Lage und Umfang von Volumendefekten in Echtzeit am Beispiel der Gußteileprüfung
Hanke, R.F.
Dissertation
1995Industrial image processing for non-destructive testing in the field of quality assurance
Kostka, G.; Hanke, R.F.
Konferenzbeitrag
1995Three dimensional analysis of growing casting effects
Feiste, K.; Stegemann, D.; Reimcke, W.; Hanke, R.F.
Konferenzbeitrag
1994Automatisierung zerstörungsfreier Prüfprozesse
Hanke, R.F.
Zeitschriftenaufsatz
1994Fast automatic x-ray image processing by means of a new multistage filter for background modeling
Hassler, U.; Heil, K.; Hanke, R.F.
Konferenzbeitrag
1994X-ray inspection of solder joints by planar tomography (PCT)
Neubauer, C.; Schröpfer, S.; Hanke, R.F.
Konferenzbeitrag
1993Improving X-ray inspection of printed circuit boards by integration of neural network classifiers
Neubauer, C.; Hanke, R.F.
Konferenzbeitrag
1992Automated 3D X-ray inspection of fine pitch PCB's
Hanke, R.F.; Weiss, T.; Petsch, N.
Konferenzbeitrag
1992Determination of material flaw size by intensity evaluation of polychromatic X-ray transmission
Böbel, F.G.; Hanke, R.F.
Zeitschriftenaufsatz
1992Intelligentes Röntgenprüfsystem. Defekte in Werkstoffen schnell und exakt bestimmen
Bauer, N.; Hanke, R.F.
Zeitschriftenaufsatz
1991Intelligentes Röntgenprüfsystem
Bauer, N.; Hanke, R.F.
Konferenzbeitrag
1990Exact 3D-defect localisation in Al-castings by X-ray inspection
Wang, Y.; Hanke, R.F.
Konferenzbeitrag