Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2017Material limits of multicrystalline silicon from state-of-the-art photoluminescence imaging techniques
Schindler, F.; Giesecke, J.; Michl, B.; Schön, J.; Krenckel, P.; Riepe, S.; Warta, W.; Schubert, M.C.
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
2016Improving the material quality of silicon ingots by aluminum gettering during crystal growth
Schön, J.; Krenckel, P.; Karches, B.; Schindler, F.; Giesecke, J.; Stieghorst, C.; Wiehl, N.; Schubert, M.C.; Riepe, S.
Zeitschriftenaufsatz
2016Material limits of silicon from state-of-the-art photoluminescence imaging techniques
Schindler, F.; Giesecke, J.; Michl, B.; Schön, J.; Krenckel, P.; Riepe, S.; Warta, W.; Schubert, M.C.
Konferenzbeitrag
2015Harmonically modulated luminescence: Bridging gaps in carrier lifetime metrology across the PV processing chain
Giesecke, J.; Schubert, M.C.; Schindler, F.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2015Interaction of ultrashort laser pulses and silicon solar cells under short circuit conditions
Mundus, M.; Giesecke, J.A.; Fischer, P.; Hohl-Ebinger, J.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2015Iron related solar cell instability: Imaging analysis and impact on cell performance
Schubert, M.C.; Padilla, M.; Michl, B.; Mundt, L.; Giesecke, J.; Hohl-Ebinger, J.; Benick, J.; Warta, W.; Tajima, M.; Ogura, A.
Zeitschriftenaufsatz
2015On the implication of spatial carrier density non-uniformity on lifetime determination in silicon
Heinz, F.D.; Giesecke, J.; Mundt, L.E.; Kasemann, M.; Warta, W.; Schubert, M.C.
Zeitschriftenaufsatz
2014Efficiency-limiting recombination in multicrystalline silicon solar cells
Schubert, M.C.; Schön, J.; Abdollahinia, A.; Michl, B.; Kwapil, W.; Schindler, F.; Heinz, F.; Padilla, M.; Giesecke, J.; Breitwieser, M.; Riepe, S.; Warta, W.
Konferenzbeitrag
2014Quantitative Recombination and Transport Properties in Silicon from Dynamic Luminescence
Giesecke, J.
Dissertation
2014Towards a unified low-field model for carrier mobilities in crystalline silicon
Schindler, F.; Forster, M.; Broisch, J.; Schön, J.; Giesecke, J.; Rein, S.; Warta, W.; Schubert, M.C.
Zeitschriftenaufsatz
2014Understanding carrier lifetime measurements at nonuniform recombination
Giesecke, J.A.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2014Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Materialparametern, insbesondere der Ladungsträgerlebensdauer eines Halbleitersubstrates durch Messung von Lumineszenzstrahlung
Giesecke, Johannes; Schubert, Martin; Warta, Wilhelm
Patent
2014Verfahren zur Bestimmung der tatsächlichen Ladungsträger-Lebensdauer eines Halbleitersubstrates aus einer dynamischen und differentiellen Messung der Relaxationszeit freier Ladungsträger
Giesecke, Johannes; Warta, Wilhelm; Glunz, Stefan
Patent
2013Accurate determination of minority carrier mobility in silicon from quasi-steady-state photoluminescence
Giesecke, J.; Schindler, F.; Bühler, M.; Schubert, M.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2013Carrier lifetime from dynamic electroluminescence
Giesecke, J.A.; Schubert, M.C.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2013Determination of actual carrier lifetime from differential measurements
Giesecke, J.A.; Glunz, S.W.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
2013Determination of bulk lifetime and surface recombination velocity of silicon ingots from dynamic photoluminescence
Giesecke, J.A.; Sinton, R.A.; Schubert, M.C.; Riepe, S.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2013Understanding and resolving the discrepancy between differential and actual minority carrier lifetime
Giesecke, J.A.; Glunz, S.W.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2012Broad Range Injection-Dependent Minority Carrier Lifetime from Photoluminescence
Giesecke, J.; Niewelt, T.; Rüdiger, M.; Rauer, M.; Schubert, M.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2012Efficiency limiting bulk recombination in multicrystalline silicon solar cells
Michl, B.; Rüdiger, M.; Giesecke, J.A.; Hermle, M.; Warta, W.; Schubert, M.C.
Zeitschriftenaufsatz
2012Measurement of net dopant concentration via dynamic photoluminescence
Giesecke, J.A.; Schubert, M.C.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2012Microsecond carrier lifetime measurements in silicon via quasi-steady-state photoluminescence
Giesecke, J.A.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2012Passivation layers for indoor solar cells at low irradiation intensities
Rühle, K.; Rauer, M.; Rüdiger, M.; Giesecke, J.; Niewelt, T.; Schmiga, C.; Glunz, S.W.; Kasemann, M.
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
2012Self-sufficient minority carrier lifetime in silicon from quasi-steady-state photoluminescence
Giesecke, J.A.; Schubert, M.C.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2012Separation of front and backside surface recombination by photoluminescence imaging on both wafer sides
Michl, B.; Giesecke, J.A.; Warta, W.; Schubert, M.C.
Zeitschriftenaufsatz
2011From Injection Dependent Lifetime to Solar Cell Efficiency
Michl, B.; Rüdiger, M.; Giesecke, J.A.; Hermle, M.; Warta, W.; Schubert, M.C.
Konferenzbeitrag
2011Micro-spectroscopy on silicon wafers and solar cells
Gundel, P.; Schubert, M.C.; Heinz, F.D.; Woehl, R.; Benick, J.; Giesecke, J.A.; Suwito, D.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2011Minority carrier lifetime imaging of silicon wafers calibrated by quasi-steady-state photoluminescence
Giesecke, J.A.; Schubert, M.C.; Michl, B.; Schindler, F.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2011Minority carrier lifetime of silicon solar cells from quasi-steady-state photoluminescence
Giesecke, J.A.; Michl, B.; Schindler, F.; Schubert, M.C.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2011Spatially resolved carrier lifetime calibrated via quasi-steady-state photoluminescence
Giesecke, J.A.; Michl, B.; Schindler, F.; Schubert, M.C.; Warta, W.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2010Conductivity mobility and hall mobility in compensated multicrystalline silicon
Schindler, F.; Geilker, J.; Kwapil, W.; Giesecke, J.; Schubert, M.C.; Warta, W.
Konferenzbeitrag
2010Minority carrier lifetime in silicon wafers from quasi-steady-state photoluminescence
Giesecke, J.A.; Schubert, M.C.; Walter, D.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2010Quantitative carrier lifetime measurement with micron resolution
Gundel, P.; Heinz, F.D.; Schubert, M.C.; Giesecke, J.A.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2010The role of material quality in EWT and standard solar cells on multicrystalline standard and UMG silicon material
Schubert, M.C.; Rüdiger, M.; Michl, B.; Schindler, F.; Kwapil, W.; Giesecke, J.; Hermle, M.; Warta, W.; Ferré, R.; Wade, R.; Petter, K.
Konferenzbeitrag
2010Separation of local bulk and surface recombination in crystalline silicon from luminescence reabsorption
Giesecke, J.A.; Kasemann, M.; Schubert, M.C.; Würfel, P.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2010Simultaneous determination of carrier lifetime and net dopant concentration of silicon wafers from photoluminescence
Giesecke, J.A.; Walter, D.; Kopp, F.; Rosenits, P.; Schubert, M.C.; Warta, W.
Konferenzbeitrag
2010Spatially resolved determination of dark saturation current and series resistance of silicon solar cells
Glatthaar, M.; Haunschild, J.; Kasemann, M.; Giesecke, J.; Warta, W.; Rein, S.
Zeitschriftenaufsatz
2010Verfahren zur Bestimmung von Materialparametern eines dotierten Halbleitersubstrates durch Messung von Photolumineszenzstrahlung
Giesecke, J.
Patent
2009Determination of local minority carrier diffusion lengths in crystalline silicon from luminescence images
Giesecke, J.A.; Kasemann, M.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2009Separation of recombination properties of silicon solar cells and wafers via luminescence imaging
Giesecke, J.A.; Kasemann, M.; Warta, W.
Konferenzbeitrag
2009Spatially resolved characterization of silicon as-cut wafers with photoluminescence imaging
Giesecke, J.A.; The, M.; Kasemann, M.; Warta, W.
Zeitschriftenaufsatz
2009Spatially resolved determination of the dark saturation current by electroluminescence imaging
Glatthaar, M.; Giesecke, J.; Kasemann, M.; Haunschild, J.; The, M.; Warta, W.; Rein, S.
Konferenzbeitrag
2009Spatially resolved determination of the dark saturation current of silicon solar cells from electroluminescence images
Glatthaar, M.; Giesecke, J.; Kasemann, M.; Haunschild, J.; The, M.; Warta, W.; Rein, S.
Zeitschriftenaufsatz
2008Application of luminescence imaging based series resistance measurement methods in an industrial environment
Michl, B.; Kasemann, M.; Giesecke, J.; Glatthaar, M.; Schütt, A.; Carstensen, J.; Föll, H.; Rein, S.; Warta, W.; Nagel, H.
Konferenzbeitrag
2008Determination of minority carrier diffusion lengths in silicon solar cells from photoluminescence images
Giesecke, J.; Kasemann, M.; Schubert, M.C.; Michl, B.; The, M.; Warta, W.; Würfel, P.
Konferenzbeitrag
2008Investigations on the pre-breakdown of multicrystalline silicon solar cells
Kwapil, W.; Kasemann, M.; Giesecke, J.; Michl, B.; Warta, W.
Konferenzbeitrag
2008Progress in silicon solar cell characterization with infrared imaging methods
Kasemann, M.; Kwapil, W.; Walter, B.; Giesecke, J.; Michl, B.; The, M.; Wagner, J.-M.; Bauer, J.; Schütt, A.; Carstensen, J.; Kampwerth, H.; Gundel, P.; Schubert, M.C.; Bardos, R.A.; Föll, H.; Nagel, H.; Würfel, P.; Trupke, T.; Breitenstein, O.; Warta, W.; Glunz, S.W.
Konferenzbeitrag
2008Spatially resolved characterisation of silicon as-cut wafers with photoluminescence imaging
The, M.; Giesecke, J.; Kasemann, M.; Warta, W.
Konferenzbeitrag
2008Verfahren zur Messung der Lumineszenzstrahlung einer Halbleiterstruktur
Giesecke, J.
Patent