Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019International round-robin experiment for angle-resolved light scattering measurement
Finck, A. von; Herffurth, T.; Duparre, A.; Schröder, S.; Lequime, M.; Zerrad, M.; Liukaityte, S.; Amra, C.; Achour, S.; Chalony, M.; Kuperman, Q.; Cornil, Y.; Bialek, A.; Goodman, T.; Greenwell, C.; Gur, B.; Brinkers, S.; Otter, G.; Vosteen, A.; Stover, J.; Vink, R.; Deep, A.; Doyle, D.
Zeitschriftenaufsatz
2019New light absorbing material for grazing angles
Yevtushenko, A.; Finck, A. von; Katsir, D.; Duparré, A.
Konferenzbeitrag
2018Characterization of Large-Area Crystalline Coatings for Next-Generation Gravitational Wave Detectors
Cole, G.D.; Deutsch, C.; Follman, D.; Heu, P.; Zederbauer, T.; Rai, A.; Bachmann, D.; Finck, A. von; Schröder, S.; Koch, P.; Lück, H.
Konferenzbeitrag
2018New light absorbing material for grazing angles
Yevtushenko, A.; Finck, A. von; Katsir, D.; Duparré, A.
Konferenzbeitrag
2017Light scattering techniques for the characterization of optical components
Hauptvogel, M.; Schröder, S.; Herffurth, T.; Trost, M.; Finck, A. von; Duparré, A.; Weigel, T.
Konferenzbeitrag
2017Reducing light scattering from surface contaminations by thin film design
Finck, A. von; Wilbrandt, S.; Stenzel, O.; Schröder, S.
Zeitschriftenaufsatz
2017Vane-free design for star trackers and telescopes
Yevtushenko, A.; Finck, A. von; Katsir, D.; Shfaram, H.; Duparré, A.
Konferenzbeitrag
2015Parallelized multichannel BSDF measurements
Finck, A. von; Trost, M.; Schröder, S.; Duparré, A.
Zeitschriftenaufsatz
2015Standardization of light scattering measurements
Schröder, S.; Finck, A. von; Duparré, A.
Zeitschriftenaufsatz
2014Characterization of optical coatings using a multisource table-top scatterometer
Finck, A. von; Herffurth, T.; Schröder, S.; Duparre, A.; Sinzinger, S.
Zeitschriftenaufsatz
2014Table top system for angle resolved light scattering measurement
Finck, A. von
Dissertation
2013Estimating hemispherical scatter from incident plane measurements of isotropic samples scattering from both bulk and surface irregularities
Stover, J.C.; Schroeder, S.; Finck, A. von; Unglaub, D.; Duparré, A.
Konferenzbeitrag
2011Instrument for close-to-process light scatter measurements of thin film coatings and substrates
Finck, A. von; Hauptvogel, M.; Duparre, A.
Zeitschriftenaufsatz
2011Table-Top Streulichtmesssystem ALBATROSS-TT
Finck, A. von; Hauptvogel, M.; Duparré, A.; Notni, G.; Tünnermann, A.
Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag
2009Makyoh-Imaging zur Charakterisierung reflektierender Oberflächen
Finck, A. von; Duparre, A.; Pfeffer, M.
Zeitschriftenaufsatz