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| 2012 | Stress chip measurements of the internal package stress for process characterization and health monitoring
Schindler-Saefkow, F.; Rost, F.; Otto, A.; Faust, W.; Wunderle, B.; Michel, B.; Rzepka, S. | Konferenzbeitrag |
| 2011 | Reliability enhancement of Ohmic RF MEMS switches
Kurth, S.; Leidich, S.; Bertz, A.; Nowack, M.; Frömel, J.; Kaufmann, C.; Faust, W.; Gessner, T.; Akiba, A.; Ikeda, K. | Konferenzbeitrag |
| 2011 | Three-dimensional deformation analysis of MEMS/NEMS by means of X-ray computer-tomography
Hammacher, J.; Dost, M.; Faust, W.; Scheiter, L.; Erb, R.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2010 | A detailed investigation of the failure formation of copper trace cracks during drop tests
Kraemer, F.; Wiese, S.; Rzepka, S.; Faust, W.; Lienig, J. | Konferenzbeitrag |
| 2009 | Exploring microsystems - measurement and test in fabrication and R&D
Kurth, S.; Faust, W.; Specht, H.; Meinig, M.; Fernholz, G. | Zeitschriftenaufsatz |
| 2008 | Effective thermal modelling evaluation and non-destructive tests for thermal via-structures in organic multi layer PCBs
Schacht, R.; Wunderle, B.; May, D.; Abo Ras, M.; Faust, W.; Michel, B.; Reichel, H. | Konferenzbeitrag |
| 2008 | Insitu-Measurement System for Analysis of Thermaly Caused Deformation
Hammacher, J.; Noack, E.; Faust, W. | Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag |
| 2008 | Investigations of Reliability of Lead-Free Solder Joints
Faust, W.; Poller, T.; Dudek, R.; Michel, B. | Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag |
| 2008 | Material characterization and non-destructive failure analysis by transient pulse generation and IR-thermography
May, D.; Wunderle, B.; Abo Ras, M.; Faust, W.; Gollhard, A.; Schacht, R.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2008 | Nano-Computertomographie - ein wertvolles Hilfsmittel bei metallographischen Untersuchungen zur Schadensanalyse mikroelektronischer und mikrotechnischer Komponenten
Faust, W.; Noack, E.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2008 | Reliability of Several Sn-Based Solders under Test- and Field Fatigue Loadings
Dudek, R.; Ratchev, R.; Faust, W.; Michel, B. | Zeitschriftenaufsatz, Konferenzbeitrag |
| 2008 | Thermal test- and field cycling induced degradation and its Fe-based prediction for different SAC solders
Dudek, R.; Faust, W.; Ratchev, R.; Roellig, M.; Albrecht, H.-J.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2007 | Design for reliability with AuSn interconnects
Dudek, R.; Wittler, O.; Faust, W.; Brämer, B.; Klein, M.; Jun, W.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2007 | In-situ Microscopic Studies on Microstructural Degradation and FE Analyses for Miniaturized SAC Solder Joints under Thermal Test- and Field Cycling
Dudek, R.; Faust, W.; Döring, R.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2007 | Low-cycle fatigue of Ag-based solders dependent on alloying composition and thermal cycle conditions
Dudek, R.; Faust, W.; Wiese, S.; Röllig, M.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2007 | Microstucture of Damaged Solder
Faust, W.; Dudek, R.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2007 | Schadensanalyse in der AVT am Beispiel bleifreier Lotverbindungen
Faust, W.; Dudek, R.; Michel, B.; Poller, T. | Konferenzbeitrag |
| 2006 | Deformation and fatigue behaviour of AuSn interconnects
Wittler, O.; Walter, H.; Dudek, R.; Faust, W.; Jun, W.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2006 | Experimental investigation for fracture analysis of solder joints in microelectronic and mems applications
Walter, H.; Bombach, C.; Dudek, R.; Faust, W.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2006 | A FE-study of solder fatigue compared to microstructural damage evaluation by in-situ laser scanning and FIB microscopy
Dudek, R.; Faust, W.; Gollhard, A.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2005 | A comparative study of solder fatigue evaluated by microscopic in-situ analysis, on-line resistance measurement and FE calculations
Dudek, R.; Faust, W.; Vogel, J.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2005 | Damage and failure analysis of lead-free solder interconnects in automotive electronics
Faust, W.; Kreyßig, K.; Michel, B. | Abstract |
| 2005 | Die Möglichkeiten der FIB-Technik bei der Schadensanalyse bleifreier Lote
Faust, W.; Gollhardt, A.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2005 | Thermal Lap Shear Tests on MEMS Interconnect Solder joints
Vogel, J.; Dudek, R.; Faust, W.; Dost, M.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2004 | Application of micromirror arrays for Hadamard transform optics
Hanf, M.; Kurth, S.; Billep, D.; Hahn, R.; Faust, W.; Heinz, S.; Dötzel, W.; Gessner, T. | Konferenzbeitrag |
| 2004 | In-situ solder fatigue studies using a thermal lap shear test
Dudek, R.; Faust, W.; Vogel, J.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2004 | Mechanische Charakterisierung membranartiger Sonsorstrukturen
Winkler, T.; Seiler, B.; Dost, M.; Brokmann, G.; Übensee, H.; Rümmler, N.; Faust, W.; Sommer, J.-P. | Konferenzbeitrag |
| 2003 | Schadensanalyse an Komponenten der Mikrosystemtechnik und Mikroelektronik
Faust, W.; Dost, M.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2001 | Einsatz von Mikrospiegel-Arrays zur Lichtmodulation in einem Hadamard-Transformations-Spektrometer
Hanf, M.; Kurth, S.; Faust, W.; Hahn, R.; Heinz, S.; Dötzel, W.; Gessner, T. | Konferenzbeitrag |
| 2001 | In-situ-Messungen an Komponenten der Mikroelektronik und Mikrosystemtechnik mit optischen Methoden
Faust, W.; Bombach, C.; Pritzke, B.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2000 | Deformation behavior of micro mirror arrays under optical power
Kurth, S.; Kehr, K.; Kaufmann, C.; Faust, W.; Dötzel, W.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2000 | In situ measurement of deformations on microelectronic components by microscopic methods
Faust, W.; Bombach, C.; Michel, M.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2000 | Material Characterization and FE Analysis of Electroplated Microrelays
Vogel, J.; Sommer, J.-P.; Faust, W.; Kieselstein, E.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2000 | New investigations in materials research by confocal laser scanning microscopy
Kunath-Fandrei, G.; Faust, W.; Ullmann, P.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 2000 | Rapid prototyping of microcomponents and demonstrators in micro system technology
Fleischer, L.; Faust, W.; Dost, M.; Michel, B.; Vogel, J.; Zeidler, H. | Konferenzbeitrag |
| 2000 | Reliability investigations of vibration excited circuit boards
Rümmler, N.; Schnitzer, R.; Döring, R.; Kaulfersch, E.; Faust, W.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 1999 | Analysis of field coupling effects in fracture by combining infrared thermography and FE-calculation
Vogel, J.; Dost, M.; Auersperg, J.; Faust, W.; Michel, B. | Zeitschriftenaufsatz |
| 1999 | Facilities and results of micro deformation measurements
Faust, W.; Bombach, C.; Michel, B. | Aufsatz in Buch |
| 1999 | Investigation of thermomechanical field coupling effects near crack tips by combining thermal emission analysis and FE-simulation
Vogel, J.; Auersperg, J.; Dost, M.; Faust, W.; Michel, B. | Aufsatz in Buch |
| 1999 | Optical measurement methods for MEMS applications
Großer, V.; Bombach, C.; Faust, W.; Vogel, D.; Michel, B. | Aufsatz in Buch |
| 1998 | Investigation of a rigid carrier CSP with the microDAC method
Simon, J.; Vogel, D.; Faust, W.; Gollhardt, A.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 1998 | Thermomechanische Untersuchungen zur Zuverlässigkeitserhöhung von Mikrosystemen
Michel, B.; Faust, W.; Auersperg, J. | Konferenzbeitrag |
| 1997 | Confocal laser scanning microscopy for testing of microsystems
Faust, W.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 1997 | Laseroptical deformation measurements on SAA-materials
Faust, W.; Bombach, C.; Oehmigen, M.; Großer, V.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 1997 | Mechanical characterization of polymers in microelectronics
Walter, H.; Faust, W.; Schubert, A.; Grellmann, W.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 1996 | Mechanisch-thermische Zuverlässigkeit von Chipkarten
Schubert, A.; Dudek, R.; Faust, W.; Vogel, D.; Michel, B.; Reichl, H. | Aufsatz in Buch |
| 1996 | Zuverlässigkeitsuntersuchungen an AlN-Cu-Verbunden
Auerswald, E.; Kämpfe, B.; Dudek, R.; Faust, W. | Aufsatz in Buch |
| 1995 | Anwendungen der Laser Scanning Mikroskopie in der Mikrosystemtechnik
Faust, W.; Dudek, R.; Michel, B.; Dost, M. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Anwendungen der Laser Scanning Mikroskopie in der Mikrosystemtechnik
Faust, W.; Dudek, R.; Michel, B.; Dost, M. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Anwendungen der Laser Scanning Mikroskopie in der Mikrotechnik
Faust, W.; Dost, M. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Bruchmechanische Untersuchungen zur Zuverlässigkeitsbewertung mikrotechnischer Aufbauten
Michel, B.; Sommer, J.-P.; Krause, F.; Winkler, T.; Faust, W. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Experimentelle Untersuchungen zu Deformationen und Eigenspannungen an kunststoffabgedeckten mikroelektronischen Aufbauten
Krause, F.; Rehme, F.; Faust, W.; Voges, T. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Laseroptische Analysen von Miniaturbauelementen
Bombach, C.; Großer, V.; Faust, W.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Laseroptische Verformungsmessungen an Mikroaufbauten
Großer, V.; Lindemann, G.; Faust, W.; Bombach, C.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Lötstellenbewertung an SMD-Aufbauten
Dudek, R.; Sommer, J.-P.; Faust, W.; Döring, R. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Mechanisch-thermische Simulation und Lebensdauerbewertung von mikrotechnischen Komponenten
Sommer, J.-P.; Dudek, R.; Faust, W.; Michel, B. | Aufsatz in Buch |
| 1995 | Mechanisch-thermische Versagensdetektion an Leiterplatten mittel numerischer und laseroptischer Verfahren
Großer, V.; Sommer, J.-P.; Faust, W.; Bombach, C.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Thermomechanische Analysen mikrotechnischer Komponenten
Faust, W.; Dudek, R.; Michel, B. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Werkstoffmechanische Untersuchungen an Chipkarten
Vogel, D.; Schubert, A.; Faust, W.; Michel, B.; Reichl, H. | Konferenzbeitrag |
| 1995 | Zuverlässigkeitsuntersuchungen an AlN-Verbunden, angewendet auf die Mikrosystem-Modultechniken
Auerswald, E.; Dudek, R.; Faust, W.; Kämpfe, B. | Konferenzbeitrag |
| 1994 | Reliability of epoxy Globtop in microelectronic assemblies
Krause, F.; Voges, T.; Rehme, F.; Dudek, R.; Vogel, D.; Faust, W. | Konferenzbeitrag |
| 1993 | Beanspruchung von Lötverbindungen oberflächenmontierter ICs in Abhängigkeit von der Pin-Form
Dudek, R.; Faust, W.; Michel, B.; Hartmann, H.J. | Konferenzbeitrag |
| 1993 | Qualitätskontrolle an mikromechanischen Bauteilen
Faust, W.; Michel, B.; Winkler, T. | Zeitschriftenaufsatz |