Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2008Fehleranalyse für DRAM Teilschaltungen durch Extraktion von Layout Parasitics
Versen, M.; Knezevic, J.; Montoya, S.M.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2008Implementation of DC-fault diagnosis networks in standard circuit simulators
Coym, T.; Claus, M.
Konferenzbeitrag
2008Ein verfeinertes elektrisches Modell für Teilchentreffer und dessen Auswirkung auf die Bewertung der Schaltungsempfindlichkeit
Coym, T.; Hellebrand, S.; Ludwig, S.; Straube, B.; Wunderlich, H.-J.; Zöllin, C.G.
Konferenzbeitrag
2007Layout-oriented fault analysis for DRAM design components
Versen, M.; Knezevic, J.; Montoya, S.M.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2007A refined electrical model for particle strikes and its impact on SEU prediction
Coym, T.; Hellebrand, S.; Ludwig, S.; Straube, B.; Wunderlich, H.-J.; Zöllin, C.G.
Konferenzbeitrag
2007Testing and monitoring nanoscale systems - Challenges and strategies for advanced quality assurance
Hellebrand, S.; Zöllin, C.G.; Wunderlich, H.J.; Ludwig, S.; Coym, T.; Straube, B.
Zeitschriftenaufsatz
2007Verification-oriented behavioral modeling of nonlinear analog parts of mixed-signal circuits
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Ludwig, S.; Straube, B.; Kock, E.
Konferenzbeitrag
2006Ein Ansatz für die semi-formale Verifikation von Mixed-Signal-Schaltungen mit Hilfe von Bounded Model Checking
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Ludwig, S.; Fordran, E.; Straube, B.; Kock, E.
Konferenzbeitrag
2006Embedded self repair by transistor and gate level reconfiguration
Kothe, R.; Vierhaus, H.T.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Embedded self repair by transistor and gate level reconfiguration - possibilities and limitations
Kothe, R.; Vierhaus, H.T.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Fault diagnosis of analog integrated circuits using an analog fault simulator
Straube, B.; Vermeiren, W.; Coym, T.; Lindig, M.; Grobelny, L.; Lerch, A.
Konferenzbeitrag
2006Fehlerdiagnose von Analogschaltungen unter Verwendung eines analogen Fehlersimulators
Straube, B.; Vermeiren, W.; Lindig, M.; Coym, T.; Grobelny, L.; Lerch, A.
Konferenzbeitrag
2006Kennlinienmethode zur DC-Fehlerdiagnose integrierter Analogschaltungen
Claus, M.; Reibiger, A.; Coym, T.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Lokalisieren von Hardwarefehlern in Analogschaltungen mittels analoger Fehlersimulation
Coym, T.; Straube, B.; Vermeiren, W.; Lindig, M.; Grobelny, L.; Lerch, A.
Konferenzbeitrag
2006Modellierung des dynamischen Verhaltens nichtlinearer analoger Komponenten für die semi-formale Mixed-Signal-Verifikation
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Straube, B.; Ludwig, S.
Konferenzbeitrag
2006A network theoretical approach to analog DC-fault diagnosis
Claus, M.; Coym, T.; Reibiger, A.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Selbstreparatur von Logik-Baugruppen in hochintegrierten Schaltungen - Möglichkeiten und Grenzen
Kothe, R.; Habermann, S.; Vierhaus, H.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B.
Konferenzbeitrag
2006Simulatorgestützte Verhaltensmodellierung nichtlinearer analoger Komponenten für die semi-formale Mixed-Signal-Verifikation
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Ludwig, S.; Straube, B.; Kock, E.
Konferenzbeitrag
2006Verification-oriented behavioral modeling of non-linear analog parts of mixed-signal circuits
Freibothe, M.; Döge, J.; Coym, T.; Ludwig, S.; Straube, B.; Kock, E.
Konferenzbeitrag