Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2012Optical and structural properties of Nb2O5-SiO2 mixtures in thin films
Janicki, V.; Sancho-Parramon, J.; Yulin, S.; Flemming, M.; Chuvilin, A.
Zeitschriftenaufsatz
2011Three-dimensional GaN for semipolar light emitters
Wunderer, T.; Feneberg, M.; Lipski, F.; Wang, J.; Leute, R.A.R.; Schwaiger, S.; Thonke, K.; Chuvilin, A.; Kaiser, U.; Metzner, S.; Bertram, F.; Christen, J.; Beirne, G.J.; Jetter, M.; Michler, P.; Schade, L.; Vierheilig, C.; Schwarz, U.T.; Dräger, A.D.; Hangleiter, A.; Scholz, F.
Zeitschriftenaufsatz
2009The correlation between mechanical stress, thermal shift and refractive index in HfO2, Nb2O5, Ta2O5 and SiO2 layers and its relation to the layer porosity
Stenzel, O.; Wilbrandt, S.; Kaiser, N.; Vinnichenko, M.; Munnik, F.; Kolitsch, A.; Chuvilin, A.; Kaiser, U.; Ebert, J.; Jakobs, S.; Kaless, A.; Wuethrich, S.; Treichel, O.; Wunderlich, B.; Bitzer, M.; Grössl, M.
Zeitschriftenaufsatz
2009Highly dense amorphous Nb2O5 films with closed nanosized pores
Vinnichenko, M.; Rogozin, A.; Grambole, D.; Munnik, F.; Kolitsch, A.; Möller, W.; Stenzel, O.; Wilbrandt, S.; Chuvilin, A.; Kaiser, U.
Zeitschriftenaufsatz
2009Oxygen induced strain field homogenization in AlN nucleation layers and its impact on GaN grown by metal organic vapor phase epitaxy on sapphire: An X-ray diffraction study
Bläsing, J.; Krost, A.; Hertkorn, J.; Scholz, F.; Kirste, L.; Chuvilin, A.; Kaiser, U.
Zeitschriftenaufsatz
2008Optical and structural properties of LaF3 thin films
Bischoff, M.; Gäbler, D.; Kaiser, N.; Chuvilin, A.; Kaiser, U.; Tünnermann, A.
Zeitschriftenaufsatz
2008Optimization of semipolar GaInN/GaN blue/green light emitting diode structures on {1-101} GaN side facets
Wunderer, T.; Hertkorn, J.; Lipski, F.; Brückner, P.; Feneberg, M.; Schirra, M.; Thonke, K.; Knoke, I.; Meissner, E.; Chuvilin, A.; Kaiser, U.; Scholz, F.
Konferenzbeitrag