Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2012SmartSenior - intelligent services for senior citizens
Balasch, Michael C.; Schultz, Martin; Carius-Duessel, Christine; John, Michael; Hänsel, Joachim; Pieth, Norbert; Ernst, Thilo; Kiselev, Jörn; Kock, Gerd; Hennig, Ben; Wagner, Klaus F.; Haesner, Marten; Steinhagen-Thiessen, Elisabeth; Gövercin, Mehmet; Jansen, Jan-Peter; Schröder, Markus; Masur, Matthias; Leipold, Tobias; Busch, Irina; Zeidler, Stefan; Meyer, Sibylle; Böhm, Uta; Fricke, Christa; Spindler, Claudia; Klaus, Harald; Waidelich, Fabienne; Busser, Jens-Uwe; Klasen, Wolfgang; Müller, Katrin
Aufsatz in Buch
2004Realization and metrological characterization of thickness standards below 100 nm
Thomsen-Schmidt, P.; Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stümpel, J.; Busch, I.; Schädlich, S.; Schindler, A.; Frank, W.; Hirsch, D.; Procop, M.; Beck, U.
Zeitschriftenaufsatz
2002About the calibration of thickness standards on the nanometre scale
Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stümpel, J.; Busch, I.; Thomsen-Schmidt, P.; Schädlich, S.; Schindler, A.; Frank, W.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag
2002Ein Beitrag zu kalibrierten Nanometerschichten für unterschiedliche Anwendungsbereiche
Hasche, K.; Herrmann, K.; Thomsen-Schmidt, P.; Krumrey, M.; Ulm, G.; Ade, G.; Pohlenz, F.; Stümpel, J.; Busch, I.; Schädlich, S.; Frank, W.; Hirsch, D.; Schindler, A.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag
2002Film thickness standards on the nanometer scale
Hasche, K.; Ulm, G.; Herrmann, K.; Krumrey, M.; Ade, G.; Stümpel, J.; Busch, I.; Thomsen-Schmidt, P.; Schädlich, S.; Schindler, A.; Frank, W.; Procop, M.; Beck, U.
Konferenzbeitrag