Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Laser speckle photometry - Optical sensor systems for condition and process monitoring
Chen, Lili; Cikalova, Ulana; Bendjus, Beatrice; Gommlich, Andreas; Sudip, Shohag Roy; Schott, Carolin; Steingroewer, Juliane; Belting, Matthias; Kleszczynski, Stefan
Zeitschriftenaufsatz
2018Defect detection during laser welding by Laser Speckle Photometry
Cikalova, Ulana; Bendjus, Beatrice; Stüwe, Tobias; Reyes de Acosta, Ruth Veronica
Konferenzbeitrag
2018Laser Speckle Photometry - an advanced method for defect detection in ceramics
Chen, Lili; Cikalova, Ulana; Bendjus, Beatrice
Konferenzbeitrag
2018Laser Speckle Photometry for Stress Measuring at Industrial Components
Chen, Lili; Cikalova, Ulana; Münch, Stefan; Röllig, Mike; Bendjus, Beatrice
Konferenzbeitrag
2018Laser-Multi-Pass-Narrow-Gap-Schweißen - Eine neue Technologie zum Fügen von dickwandigen Bauteilen in Kraftwerken
Keßler, Benjamin; Brenner, Berndt; Dittrich, Dirk; Maier, G.; Oesterlin, H.; Bendjus, Beatrice
Zeitschriftenaufsatz
2018Verfahren zur Bestimmung von mechanischen Spannungen in Substraten oder Schaltungsträgern, die mit einem keramischen Werkstoff gebildet sind
Bendjus, Beatrice; Cikalova, Ulana; Münch, Stefan; Röllig, Mike
Patent
2017Crack detection of ceramics based on laser speckle photometry
Bendjus, Beatrice; Cikalova, Ulana; Chen, Lili
Zeitschriftenaufsatz
2017A laser speckle photometry based non-destructive method for measuring stress conditions in direct-copper-bonded ceramics for power electronic application
Münch, Stefan; Röllig, Mike; Cikalova, Ulana; Bendjus, Beatrice; Chen, Lili; Lautenschläger, Georg; Sudip, Shohag Roy
Konferenzbeitrag
2016Laser Speckle Photometry (LSP) - optical sensor system for monitoring of material condition and processing
Cikalova, Ulana; Bendjus, Beatrice; Sudip, Shohag Roy; Chen, Lili
Konferenzbeitrag
2016Materialdiagnose und integrale Prüfverfahren für keramische Bauteile
Opitz, Jörg; Wunderlich, Christian; Bendjus, Beatrice; Cikalova, Ulana; Wolf, Christian; Naumann, Sascha; Lehmann, Andreas; Barth, Martin; Duckhorn, Frank; Köhler, Bernd; Tschöke, Kilian; Tschöpe, Constanze; Moritz, Tassilo; Scheithauer, Uwe; Windisch, Thomas
Zeitschriftenaufsatz
2012Laser speckle photometry - Contactless nondestructive testing technique
Cikalova, Ulana; Nicolai, Jürgen; Bendjus, Beatrice; Schreiber, Jürgen
Konferenzbeitrag
2012Laser-Speckle-Photometrie - eine Methode für kontaktlose Charakterisierung der Materialermüdung, Härte und Porosität
Cikalova, U.; Bendjus, B.; Schreiber, J.
Zeitschriftenaufsatz
2012Material characterization by laser speckle photometry
Bendjus, B.; Cikalova, U.; Schreiber, J.
Konferenzbeitrag
2012Surface functionalization with nanodiamond particles for corrosion protection and corrosion monitoring
Opitz, J.; Michael, J.; Bendjus, B.; Hannstein, I.; Schreiber, N.; Abud, S.; Adler, A.-K.; Lapina, V.; Meyendorf, N.; Schreiber, J.
Abstract
2011Detection of buried reference structures by use of atomic force acoustic microscopy
Striegler, A.; Köhler, B.; Bendjus, B.; Röllig, M.; Kopycinska-Müller, M.; Meyendorf, N.
Zeitschriftenaufsatz
2010Application of contactless and fast speckle-photometry technique for materials characterization and quality control of cellular materials
Schreiber, J.; Bendjus, B.; Cikalova, U.; Khilo, N.
Konferenzbeitrag
2010Zerstörungsfreie Charakterisierung der Material- und Spannungsveränderungen beim Schweißen höherfester schweißbarer Baustähle
Schreiber, J.; Bendjus, B.; Cikalova, U.; Köhler, U.
Konferenzbeitrag
2009Bewertung des Spannungszustandes und der Materialschädigung von Komponenten industrieller Anlagen
Cikalova, U.; Bendjus, B.; Schreiber, J.
Zeitschriftenaufsatz
2009Hochaufgelöste Visualisierung verborgener Strukturen mit der akustisch angeregten Rasterkraftmikroskopie (AFAM)
Striegler, A.; Köhler, B.; Bendjus, B.; Meyendorf, N.
Konferenzbeitrag
2009New methods of characterisation of metallic fibre structures
Bendjus, B.; Schreiber, J.; Striegler, A.; Cikalova, U.
Konferenzbeitrag
2009Rasterkraftmikroskopie mit akustischer Probenanregung als Verfahren zur höchstaufgelösten Charakterisierung verborgener Strukturen und von Schichteigenschaften
Striegler, A.; Kopycinska-Müller, M.; Bendjus, B.; Köhler, B.; Meyendorf, N.; Wolter, K.-J.
Zeitschriftenaufsatz
2008Anwendung der akustischen Rasterkraftmikroskopie zur Abbildung verdeckter Referenzstrukturen
Striegler, A.; Köhler, B.; Bendjus, B.; Meyendorf, N.
Konferenzbeitrag
2007Determination of deformation fields and visualization of buried structures by atomic force acoustic microscopy
Köhler, B.; Bendjus, B.; Striegler, A.
Konferenzbeitrag
2007Herstellung von Teststrukturen zur Validierung zerstörungsfreier Prüfverfahren
Bendjus, B.; Striegler, A.; Köhler, B.; Schubert, F.
Konferenzbeitrag
2007Konzept für eine zerstörungsfreie Bewertung der Materialschädigung und Restlebensdauer von kritischen Stahl-Komponenten
Schreiber, J.; Wolf, B.; Bendjus, B.; Cikalova, U.; Köhler, U.
Konferenzbeitrag
2007Visibility of buried structures in atomic force acoustic microscopy
Striegler, A.; Pathuri, N.; Köhler, B.; Bendjus, B.
Konferenzbeitrag
2007Visualization of buried structures in atomic force acoustic microscopy
Striegler, A.; Köhler, B.; Bendjus, B.; Pathuri, N.; Meyendorf, N.
Konferenzbeitrag
2006Determination of deformation fields by atomic force acoustic microscopy
Bendjus, B.; Köhler, B.; Heuer, H.; Rabe, U.; Striegler, A.
Konferenzbeitrag
2005Möglichkeiten der Optimierung an Stromabnehmerkontakten der Bahn
Gustke, U.; Bärsch, R.; Bendjus, B.; Lotze, G.
Konferenzbeitrag
2005Utilization of wet chemical etching for revealing defects in GaAs x-ray detector arrays
Skriniarová, J.; Perdochová, A.; Hrúzik, M.; Veselý, M.; Bendjus, B.; Haupt, L.; Besse, I.; Herms, M.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2005Zerstörungsfreie Prüfverfahren für die Elektronik, mikrobearbeitete Strukturen und Baugruppen
Köhler, B.; Schreiber, J.; Bendjus, B.; Herms, M.; Melov, V.G.; Krüger, P.; Meyendorf, N.
Zeitschriftenaufsatz
2004Carbon buffer layers for smoothing substrates of EUV and X-ray multilayer mirrors
Braun, S.; Bendjus, B.; Foltyn, T.; Menzel, M.; Schreiber, J.; Weißbach, D.
Konferenzbeitrag
2004Materials characterization of micro-devices
Schreiber, J.; Bendjus, B.; Köhler, B.; Melov, V.; Baumbach, T.
Konferenzbeitrag
2004Micro- and nano-NDE in the laboratory for acoustic diagnosis and quality assurance EADQ Dresden
Köhler, B.; Schreiber, J.; Bendjus, B.; Herms, M.; Melov, V.; Helfen, L.; Mikulik, P.; Baumbach, T.
Konferenzbeitrag
2004Smoothing of substrate roughness by carbon-based layers prepared by pulsed laser deposition (PLD)
Braun, S.; Bendjus, B.; Foltyn, T.; Menzel, M.; Schreiber, J.; Leson, A.
Konferenzbeitrag
2003Verbesserung der Qualität von Elektrode und Düse für das Plasmaschneiden
Krink, V.; Lotze, G.; Laurisch, F.; Möhler, W.; Jochim, M.; Wiedemann, R.; Bendjus, B.; Weißbach, A.
Konferenzbeitrag
2002Improvement of Ta-based thin-film barriers on copper by ion- implantation of nitrogen and oxygen
Wieser, E.; Peikert, M.; Wenzel, C.; Schreiber, J.; Bartha, J.W.; Bendjus, B.; Melov, V.V.; Reuther, H.; Mucklich, A.; Adolphi, B.; Fischer, D.
Zeitschriftenaufsatz
1996Nondestructive testing of coatings
Köhler, B.; Bendjus, B.; Vetterlein, T.
Konferenzbeitrag
1994Application of optothermal hybrid microscopy in nondestructive and noncontacting testing of coatings
Vetterlein, T.; Bendjus, B.
Konferenzbeitrag