Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2009Comparison between 65nm bulk and PD-SOI MOSFETs. Si/BOX interface effect on point defects and doping profiles
Bazizi, E.M.; Pakfar, A.; Fazzini, P.F.; Cristiano, F.; Tavernier, C.; Claverie, A.; Burenkov, A.; Pichler, P.
Konferenzbeitrag
2009PD-SOI MOSFETs: Interface effect on point defects and doping profiles
Bazizi, E.M.; Pakfar, A.; Fazzini, P.F.; Cristiano, F.; Tavernier, C.; Claverie, A.; Burenkov, A.; Pichler, P.
Konferenzbeitrag