Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2005Test circuits for fast and reliable assessment of CDM robustness of I/O stages
Stadler, W.; Esmark, K.; Reynders, K.; Zubeidat, M.; Graf, M.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Qu, N.; Mettler, S.; Etherton, M.; Nuernbergk, D.; Wolf, H.; Gieser, H.; Soppa, W.; Heyn, V. de; Natarajan, M.; Groeseneken, G.; Morena, E.; Stella, R.; Andreini, A.; Litzenberger, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Foss, C.; Konrad, A.; Frank, M.
Zeitschriftenaufsatz
2004Characterization and modeling of transient device behavior under CDM ESD stress
Willemen, J.; Andreini, A.; Heyn, V. de; Esmark, K.; Etherton, M.; Gieser, H.; Groeseneken, G.; Mettler, S.; Morena, E.; Qu, N.; Soppa, W.; Stadler, W.; Stella, R.; Wilkening, W.; Wolf, H.; Zullino, L.
Konferenzbeitrag, Zeitschriftenaufsatz
2004Internal behavior of BCD ESD protection devices under TLP and very-fast TLP stress
Blaho, M.; Zullino, L.; Wolf, H.; Stella, R.; Andreini, A.; Gieser, H.A.; Pogany, D.; Gornik, E.
Zeitschriftenaufsatz
2004Study of CDM Specific Effects for a Smart Power Input Protection Structure
Etherton, M.; Qu, N.; Willemen, J.; Wilkening, W.; Mettler, S.; Dissegna, M.; Stella, R.; Zullino, L.; Andreini, A.; Gieser, H.; Wolf, H.; Fichtner, W.
Konferenzbeitrag
2004A Traceable Method for the Arc-free Characterization and Modeling of CDM testers and Pulse Metrology Chains
Gieser, H.A.; Wolf, H.; Soldner, W.; Reichl, H.; Andreini, Antonio; Natarajan, Mahadeva Iyer; Stadler, Wolfgang
Konferenzbeitrag
2003Electrical characterisation of a power SO-package in the context of electrostatic discharge
Dörr, I.; Gieser, H.A.; Sommer, G.; Wolf, H.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Andreini, A.; Salhi, F.; Fotheringham, G.; John, W.; Reichl, H.
Konferenzbeitrag
2003Internal behavior of BCD ESD protection devices under very-fast TLP stress
Blaho, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Zullino, L.; Morena, E.; Stella, R.; Andreini, A.
Konferenzbeitrag
2003Test Circuits for Fast and Reliable Assessment of CDM Robustness of I/O stages
Stadler, W.; Esmark, K.; Reynders, K.; Zubeidat, M.; Graf, M.; Wilkening, W.; Willemen, J.; Qu, N.; Mettler, S.; Etherton, M.; Nuernbergk, D.; Wolf, H.; Gieser, H.; Soppa, W.; Heyn, M. de; Natarajan, M.I.; Groeseneken, G.; Morena, E.; Stella, R.; Andreini, A.; Litzenberger, M.; Pogany, D.; Gornik, E.; Foss, C.; Konrad, A.; Frank, M.
Konferenzbeitrag
2003A traceable method for the arc-free characterization and modeling of CDM-testers and pulse metrology chains
Gieser, H.; Wolf, H.; Soldner, W.; Reichl, H.; Andreini, A.; Natarajan, M.I.; Stadler, W.
Konferenzbeitrag