Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
1994Industrieroboter - Messen und Prüfen
Ahlers, R.-J.
Aufsatz in Buch
1991Experiences with transputer systems for high speed image processing
Kille, K.; Schneider, B.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1991Industrielle Bildverarbeitung
Warnecke, H.-J.; Ahlers, R.-J.
Buch
1991Integration of an application accelerator for high speed inspection
Hager, K.; Kille, K.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990Anwendungen - Industrieroboter messen und prüfen
Ahlers, R.-J.
Aufsatz in Buch
1990Bedeutung, Möglichkeiten und Grenzen musterverarbeitender Systeme
Melchior, K.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990CAD/CAM-coupled image processing systems
Rauh, W.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990Die elektronische Bildverarbeitung wird zum unentbehrlichen Hilfsmittel der Produktion. Wie kann man diese Verfahren am besten in die Fertigungs- und Prüfprozesse einbinden
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990Industrial robots and vision systems - applications and trends
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990Measurement and inspection aspects of industrial robots and sensors.
Ahlers, R.-J.; Schraft, R.D.
Konferenzbeitrag
1990New stereoscopic approach for the electro-optical coordinate measurement
Lu, J.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990New stereoscopic vision system for the automated visual inspection
Lu, J.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990Optische Meßtechnik
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990Opto-elektronische Koordinatenmeßgeräte und ihre Einbindung in Qualitätssicherungssysteme
Rauh, W.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990Projektmanagement bei der Einführung von Bildverarbeitungssystemen
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990Standardisation efforts related to industrial robots for measurement and inspection purposes
Kimmelmann, W.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1990Stereoscopic vision - an application oriented overview
Lu, J.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1989Bildverarbeitende Sensor-Systeme
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1989Bildverarbeitung '89. Forschen, Entwickeln, Anwenden
: Ahlers, R.-J.
Tagungsband
1989Die Bildverarbeitung im industriellen Umfeld
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1989Image processing systems for industrial applications - need for intense cooperation between system developer and user
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1989Industrielle Qualitätsprüfung mit Hilfe bildverarbeitender Systeme
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1989Koordinatenmeßtechnik mit Bildverarbeitung
Rauh, W.; Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1989Meß- und Prüfsysteme
Oberdorfer, B.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1989Meß- und Prüfverfahren. FAMETA '88
Oberdorfer, B.; Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1989Moderne Sensoren für die Prozeß- und Fertigungsautomatisierung
Warnecke, H.-J.; Drunk, G.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1989Moderne Sensoren für die Prozeß- und Fertigungsautomatisierung
Warnecke, H.-J.; Drunk, G.; Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1989Sensorintegration
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1989Systeme der Bildverarbeitung zum Prüfen von Blechteilen. Roboter als Automatisierungshelfer
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1989Three-dimensional image analysis for quality inspection
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
19883-D Sensorsysteme zum Messen und Pruefen mit Industrie-Robotern
Ahlers, R.-J.; Schmidberger, E.
Konferenzbeitrag
1988Automated inspection and high speed vision architectures
: Chen, M.J.; Ahlers, R.-J.
Tagungsband
1988Bildverarbeitung in der Qualitaetssicherung
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1988Einsatzbeispiele von Mess- und Pruefsystemen in einer CIM-Umgebung
Ahlers, R.-J.; Melchior, K.
Zeitschriftenaufsatz
1988Einsatzfelder fuer die Bildverarbeitung - Optische Pruefsysteme fuer die industrielle Praxis
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1988Electro-Optical sensors in industrial applications
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1988Mess- und Pruefsysteme
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1988New-electro-optical coordinate measurement system.
Rauh, W.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1988Opto-Elektronische Mess- und Pruefsysteme. Berichte ueber die Hannover-Messe Industrie '88
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1988Qualitaetspruefung mit Hilfe bildverarbeitender Sensorsysteme
Ahlers, R.-J.
Aufsatz in Buch
1988Zukuenftige Strategien der Qualitaetspruefung
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1987Automated inspection and high speed vision architectures
: Chen, M.J.W.; Ahlers, R.-J.
Tagungsband
1987Beeldverwerking in de industriele omgeving - Een universeel controle - en meetsysteem
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1987Bildverarbeitende Sensorsysteme
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1987Bildverarbeitung in der Blechteilepruefung
Ahlers, R.-J.; Warnecke, H.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1987Einfluss der Oberflaechenrauheit auf die optische Antastung
Warnecke, H.-J.; Ahlers, R.-J.; Kim, H.S.
Zeitschriftenaufsatz
1987Expertensystem zur Systemanalyse und Mustererkennung
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1987Expertensysteme auf Systemanalyse und Musterverarbeitung. Fortschrittliche Sensorsysteme fuer die Zukunft der Qualitaetspruefung
Ahlers, R.-J.
Aufsatz in Buch
1987Expertensysteme zur Systemanalyse und Musterverarbeitung
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1987Grundlagen der Bildverarbeitung und Mustererkennung
Ahlers, R.-J.; Rueff, M.
Zeitschriftenaufsatz
1987Industrial applications of automatic optical inspection. A European point of view
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1987Industrieroboter messen und prüfen
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1987Kuenstliche Intelligenz, automatisierte Bildverarbeitung und Industrieroboter
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1987Neue Methoden und Verfahren zur Qualitaetsprüfung
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1987New sensor system for optoelectronic microprofilometry
Warnecke, H.-J.; Ahlers, R.-J.; Kim, H.
Konferenzbeitrag
1987Optics applications in measurement technique
Warnecke, H.-J.; Ahlers, R.-J.; Dutschke, W.; Oberdorfer, B.
Konferenzbeitrag
1987Die optische Rauheitsmessung in der Qualitaetstechnik
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1987Optische Sensoren für die Blechteileprüfung
Ahlers, R.-J.; Schreiber, L.
Konferenzbeitrag
1987Opto-elektronische Sensoren in der Qualitaetstechnik - Aspekte des Einsatzes musterverarbeitender Systeme bei der Blechteilepruefung
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1987Vision integrated optoelectronic coordinate measurement
Ahlers, R.-J.; Rauh, W.; Schreiber, L.
Konferenzbeitrag
1986Automated visual inspection. Tutorial T12
Batchelor, B.G.; Ahlers, R.-J.
Tagungsband
1986Derzeitige und zukuenftige Rolle der Bildverarbeitung in der Qualitaetssicherung
Ahlers, R.-J.; Warnecke, H.-J.
Aufsatz in Buch
1986New Aspects of Image Processing Systems in Flexible Production
Ahlers, R.-J.; Melchior, K.
Konferenzbeitrag
1986Qualitaetssicherung mit Bildverarbeitungssystemen
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1986Robot-guided image sensors for quality testing
Ahlers, R.-J.; Schmidberger, E.
Zeitschriftenaufsatz
1985Applied pattern recognition in sensor systems for quality-control and automated production systems
Ahlers, R.-J.; Melchior, K.; Schreiber, L.; Warnecke, H.-J.; Schraft, R.D.
Zeitschriftenaufsatz
1985Automatisierte Bildverarbeitung - Mess- und Pruefmittel mit Zukunft
Ahlers, R.-J.
Aufsatz in Buch
1985Intelligente Bildsensorsysteme zur automatisierten Sichtpruefung von Elektronik-Produkten mittlerer und grosser Stueckzahlen
Ahlers, R.-J.
Aufsatz in Buch
1985Optische Sensoren und Indutrie-Roboter
Ahlers, R.-J.; Ahrens, U.
Aufsatz in Buch
1985Qualitaetssicherung - Prueftechnik auf neuen Wegen. Mit optoelektronischen Sensoren auf ein hoeheres messtechnisches Niveau
Ahlers, R.-J.
Aufsatz in Buch
1985Robotergefuehrte Bildsensoren - eine neuer Weg zur automatisierten Qualitaetspruefung
Strauch, R.; Ahlers, R.-J.; Schmidberger, E.
Zeitschriftenaufsatz
1985White-light method - a new sensor for the optical evaluation of rough surfaces
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1984Applied pattern recognition in senor systems for quality control and automated production systems
Warnecke, H.-J.; Melchior, K.; Ahlers, R.-J.; Schreiber, L.; Schraft, R.D.
Konferenzbeitrag
1984Berührungslose Rauheitsmessung: Der Optische Rauheitssensor Ors I
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1984Bildverarbeitungs-Systeme in der Qualitaetspruefung
Ahlers, R.-J.; Schmidberger, E.
Aufsatz in Buch
1984The interaction of light with rough surfaces - New methods of optical roughness measurement
Warnecke, H.-J.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1984Oberflaechentechnik in Theorie und Praxis
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1984Oberflaechentechnik in Theorie und Praxis
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1984Optische Verfahren der Rauheitsmessung - Ueberblick
Dutschke, W.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1984Optische Verfahren zur Oberflaechenpruefung
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1984Quality control with a robot-guided electro-optica sensor
Schmidberger, E.; Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1984Sensors and flexible production
Ahlers, R.-J.; Melchior, K.; Schraft, R.D.
Aufsatz in Buch
1983Optische Rauheitsmesstechnik
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1983Optisches Verfahren zur Bestimmung der Oberflaechenrauheit
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1983Sensorsysteme: Stand der Technk und Ausblick. Messebericht
Ahlers, R.-J.
Zeitschriftenaufsatz
1982Einsatz von Halbleiterlasern in der Messtechnik - Optische Rauheitsmessung mittels Speckle-Kontrastverfahren
Ahlers, R.-J.
Konferenzbeitrag
1982Optical procedures for the measurement of surface roughness
Ahlers, R.-J.
Aufsatz in Buch