Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019Context aware 3D image processing acquisition: A service-oriented system in scope of I4.0 applications
Bhatti, F.; Engel, G.; Engelsberger, M.; Ziebarth, Mathias; Zeller, N.; Beyerer, Jürgen; Greiner, T.; Heizmann, M.; Quint, F.
Journal Article
2019Wahrnehmungsgrenzen kleiner Verformungen auf spiegelnden Oberflächen
Ziebarth, Mathias
Dissertation
2017Creating patterns for phase shifting by rotation in deflectometry
Ziebarth, M.; Stephan, T.; Höfer, S.; Burke, Jan
Journal Article, Conference Paper
2016Multiskalige Oberflächeninspektion mit Wavelets und Deflektometrie
Greiner, T.; Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Heizmann, M.
Journal Article
2016Systematic design of object shape matched wavelet filter banks for defect detection
Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Greiner, T.; Heizmann, M.
Conference Paper
2015Defect perception thresholds on specular surfaces
Ziebarth, M.
Conference Paper
2014Empirical comparison of defect classifiers on specular surfaces
Ziebarth, M.
Conference Paper
2014Obtaining 2D surface characteristics from specular surfaces
Ziebarth, M.; Vogelbacher, M.; Olawsky, S.; Beyerer, Jürgen
Conference Paper
2014Optimized size-adaptive feature extraction based on content-matched rational wavelet filters
Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Greiner, T.; Heizmann, Michael
Conference Paper
2014Segmentierung unterschiedlich stark ausgeprägter Welligkeiten auf lackierten Oberflächen
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, Jürgen
Journal Article
2014Segmentierung unterschiedlich stark ausgeprägter Welligkeiten auf lackierten Oberflächen
Vogelbacher, M.; Ziebarth, M.; Olawsky, S.; Beyerer, Jürgen
Conference Paper
2014Sichtbarkeit von Dellen und Beulen auf spiegelnden Oberflächen
Ziebarth, M.; Heizmann, Michael; Beyerer, Jürgen
Conference Paper
2013Defect classification on specular surfaces using wavelets
Hahn, A.; Ziebarth, M.; Heizmann, Michael; Rieder, A.
Conference Paper
2013Inspection of specular surfaces using optimized M-channel wavelets
Le, T.-T.; Ziebarth, M.; Greiner, T.; Heizmann, Michael
Conference Paper
2013Methods for multiscale evaluation of deflectometric measurements
Ziebarth, Mathias
Conference Paper
2013Multiskalige Oberflächen-Inspektion mit Wavelets und Deflektometrie
Ziebarth, M.; Le, T.-T.; Greiner, T.; Heizmann, Michael
Journal Article
2012Inspektion spiegelnder Oberflächen mit Wavelet-basierten Verfahren
Ziebarth, M.; Le, T.-T.; Greiner, T.; Heizmann, Michael
Conference Paper