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| 2008 | Implementierung eines konfigurierbaren VHDL-nach-SystemC-Konverters
Schulz, S.
: Vierhaus, H.T.; Einwich, K. | Thesis |
| 2006 | Embedded self repair by transistor and gate level reconfiguration
Kothe, R.; Vierhaus, H.T.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B. | Conference Paper |
| 2006 | Embedded self repair by transistor and gate level reconfiguration - possibilities and limitations
Kothe, R.; Vierhaus, H.T.; Coym, T.; Vermeiren, W.; Straube, B. | Conference Paper |
| 1998 | From chip to system design - a design example
Peters, L.; Röwekamp, T.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1998 | A parallel approach solving the test generation problem for synchronous sequential circuits
Dahmen, H.-C.; Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1997 | A design management system for the WWW
Wilberg, J.; Kuth, A.; Rosenstiel, W.; Vierhaus, H.T. | Book Article |
| 1997 | An efficient dynamic parallel approach to automatic test pattern generation
Dahmen, H.-C.; Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1997 | Kombinierte Registerzuordnung und Instruktionsablaufplanung für irregulaere Architekturen
Theißinger, M.; Vierhaus, H.T. | Book Article |
| 1997 | Logikoptimierung in Synchronen Sequentiellen Schaltungen durch Testgenerierung
Ewert, M.; Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Book Article |
| 1997 | Logikoptimierung in Synchronen Sequentiellen Schaltungen durch Testgenerierungstechniken
Ewert, M.; Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1997 | Retargierbare Laufzeitabschätzungen
Plöger, P.-G.; Vierhaus, H.T. | Book Article |
| 1996 | Automatic test pattern generation with optmal load balancing
Dahmen, H.-C.; Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1996 | Codesign of hardware, software, and algorithms - a case study
Wilberg, J.; Plöger, P.-G.; Langevin, M.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1996 | A design exploration environment
Wilberg, J.; Kuth, A.; Camposano, R.; Rosenstiel, W.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1996 | Ein dynamischer Ansatz zur parallelen Testmustergenerierung in einem Unix-Netzwerk
Dahmen, H.-C.; Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1996 | Mixed-level test generation for synchronous sequential circuits using the FORGBUSTER-algorithms
Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Journal Article |
| 1995 | ATSEC
Vierhaus, H.T. | Book |
| 1995 | A codesign methodology for high performance embedded systems
Langevin, M.; Wilberg, J.; Plöger, P.-G.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1995 | Cosynthesis in CASTLE
Wilberg, J.; Camposano, R.; Plöger, P.-G.; Langevin, M.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1995 | Entwurf Integrierter Schaltungen. 7. E.I.S.-Workshop
: Vierhaus, H.T.; Müller, D. | Conference Proceedings |
| 1995 | FOGBUSTER: An efficient algorithm for sequential test generation
Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1995 | Gate delay test generation for non-scan circuits
Brakel, G. van; Gläser, U.; Kerkhoff, H.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1995 | Hardware/Software Codesign Environment based on the CASTLE and FIRES tools: User of C and VHDL as Specification Languages
Tabuenca, P.; Villar, E.; Veit, H.; Vierhaus, H.T. | Technical Report |
| 1995 | Improving topological ATPG with symbolic techniques
Corno, F.; Gläser, U.; Prinetto, P.; Sonza-Reorda, M.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1995 | Local microcode generation in system design
Langevin, M.; Wilberg, J.; Cerny, E.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1995 | Workshop on High Level Synthesis Algorithms, Tools and Design
: Micheli, G. de; Otten, R.; Vierhaus, H.T. | Book |
| 1994 | Efficient test generation for bridging faults in CMOS ICs based on layout analysis
Kley, M.; Wiederhold, A.; Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Technical Report |
| 1994 | Entwurf hochintegrierter Schaltungen
Großpietsch, K.-E.; Vierhaus, H.T. | Technical Report |
| 1994 | Local Microcode Generation in System Design
Langevin, M.; Wilberg, J.; Vierhaus, H.T.; Cerny, E. | Technical Report |
| 1994 | SYDIS-Synthese Digitaler Systeme: Rechnergestütztes Hardware/Software-Codesign
Vierhaus, H.T.; Günther, H.; Plöger, P.-G.; Stravers, P.; Theißinger, M. | Journal Article |
| 1994 | Systementwurfstechnik in der GMD - weshalb, wozu, für wen?
Vierhaus, H.T. | Journal Article |
| 1994 | Test generation for bridging faults in CMOS ICs based on current monitoring versus signal propagation
Gläser, U.; Vierhaus, H.T.; Kley, M.; Wiederhold, A. | Conference Paper |
| 1994 | Testability analysis for test generation in synchronous sequential circuits
Wolber, R.; Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1994 | Workshop 'Intelligente Entwurfs- und Steuerungssysteme'
Vierhaus, H.T. | Journal Article |
| 1993 | Automatic test pattern generation for hierarchical sequential circuits
Vierhaus, H.T.; Gläser, U. | Report |
| 1993 | CMOS bridges and resistive transistor faults
Vierhaus, H.T.; Meyer, W.; Gläser, U. | Conference Paper |
| 1993 | CMOS circuit design and test patterns for built-in overcurrent testing
Vierhaus, H.T.; Muhlack, L.; Meyer, W.; Gläser, U. | Report |
| 1993 | A comparative analysis of iddp-versus delay fault methods for defect-oriented testing of CMOS circuits
Vierhaus, H.T.; Meyer, W. | Report |
| 1993 | Computer-aided test
Vierhaus, H.T. | Book Article |
| 1993 | Efficient communication in mixed-level hierarchical test pattern generation
Gläser, U.; Hübner, U.; Vierhaus, H.T.; Camposano, R. | Report |
| 1993 | Fault behavior and testability of asynchronous CMOS circuits
Vierhaus, H.T.; Meyer, W.; Camposano, R. | Report |
| 1993 | Mixed-level fault simulation for hierarchical sequential circuits
Meyer, W.; Vierhaus, H.T. | Report |
| 1993 | Testing bridging faults in complex CMOS circuits
Vierhaus, H.T. | Report |
| 1993 | Testing integrated circuits
Vierhaus, H.T. | Journal Article |
| 1992 | 2. ARIADNE-Workshop 1992
: Vierhaus, H.T. | Conference Proceedings |
| 1992 | BMFT-Verbundprojekt 'ARIADNE'
Vierhaus, H.T. | Report |
| 1992 | Efficient partitioning and analysis of digital CMOS-circuits
Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1992 | Ermittlung des Standes und der voraussichtlichen Entwicklung bei Werkzeugen und Programmen zur automatischen Testerzeugung
: Hunger, A. (Hrsg.); Vierhaus, H.T. (Hrsg.) | Report |
| 1992 | MILEF: An efficient approach to mixed level automatic test patterngeneration
Gläser, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1992 | Mixed level hierarchical test generation for transition faults and overcurrent related defects
Gläser, U.; Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1992 | Testvorbereitung und testfreundlicher Entwurf für hochintegrierte Schaltungen
Vierhaus, H.T. | Report |
| 1991 | EXTEST - ein regelbasiertes System für den prüfgerechten Schaltungsentwurf
Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1991 | FEHSIM: Switch-Level Fehlersimulation mit abstrakten Datentypen
Meyer, W.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1991 | Grundlagen der VLSI-Technik. Teil 2
Großpietsch, K.-E.; Vierhaus, H.T. | Report |
| 1990 | CMOS layout generation for improved testability
Stern, O.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper, Journal Article |
| 1990 | Im Chip-Fieber
Vierhaus, H.T.; Reß, M. | Journal Article |
| 1990 | Ein Konzept zur Top-Down Kommunikation eines hierarchischen Testmustergenerators
Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1990 | Possibilities and limitations of test generation for high fault coverage
Vierhaus, H.T. | Book Article |
| 1989 | Alte Fehler - neue Fehler. Hinweise für den Full-Custom-Schaltungsentwurf
Vierhaus, H.T.; Herber, K.-H. | Journal Article |
| 1989 | EXTEST- a knowledge based system for the design of testable logic circuits
Matthäus, C.; Krüger-Sprengel, B.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1989 | Testability of non-trivial CMOS faults under realistic conditions
Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1989 | Testmustergenerierung für kombinatorische CMOS-Schaltungen mit einem Ausgang
Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1988 | CMOS fault modeling, test generation and design for testability
Matthäus, C.; Krüger-Sprengel, B.; Glowacz, C.; Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1988 | Das GMD-Projekt EXTEST - ein Beitrag zur Entwicklung gut testbarer CMOS ICs
Vierhaus, H.T. | Book Article |
| 1988 | Der Las-Vegas-Chip
Glowacz, C.; Vierhaus, H.T. | Journal Article |
| 1987 | Fault modeling and test pattern generation for static CMOS circuits
Hübner, U.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |
| 1987 | Grundlagen der VLSI-Technik. Teil 1
Vierhaus, H.T.; Großpietsch, K.-E. | Book |
| 1986 | The E.I.S. Open Software - an overview
Gorges, M.; Plöger, P.-G.; Vierhaus, H.T. | Conference Paper |