Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2011Comparison of optical and tactile layer thickness measurements of polymers and metals on silicon or SiO2
Brand, U.; Beckert, E.; Beutler, A.; Dai, G.; Stelzer, C.; Hertwig, A.; Klapetek, P.; Koglin, J.; Thelen, R.; Tutsch, R.
Journal Article
2003Verformungsmessung an Schweißkonstruktionen unter Einsatz des Objektrasterverfahrens
Petz, M.; Tutsch, R.; Brand, M.; Michailov, V.
Conference Paper
2002Verfahren und Vorrichtung zur interferometrischen Erfassung der Form und/oder Formveraenderung von Prueflingen
Evertz, J.; Tutsch, R.; Pfeifer, T.
Patent
2000Verfahren und Vorrichtung zum optischen Pruefen der Mantelflaeche zylindrischer Koerper
Tutsch, R.; Gloeckner, C.; Pfeifer, T.
Patent
2000Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle der Augenbewegung einer ein dreidimensionales bewegtes Bild betrachtenden Person
Barry, J.C.; Tutsch, R.
Patent
1999Verfahren und Vorrichtung zum Lesen optischer Speichermedien
Tutsch, R.; Mischo, H.; Pfeifer, T.
Patent
1999Verfahren und Vorrichtung zur Abstandsmessung nach dem Triangulationsprinzip
Tutsch, R.; Sowa, P.; Pfeifer, T.
Patent
1998Verfahren und Vorrichtung zum Lesen und/oder Beschreiben optischer Speichermedien mit zwei Informationstraegerschichten
Tutsch, R.; Mischo, H.; Pfeifer, T.
Patent
1996Aspheric formtesting using multiple-wavelength approaches in combination with Sub-Nyquist-techniques
Pfeifer, T.; Mischo, H.; Evertz, J.; Tutsch, R.
Conference Paper
1996Umweltgerecht produzieren, Kosten sparen - ein Widerspruch? Spektroskopische Überwachung von Kühlschmierstoffen
Pfeifer, T.; Tutsch, R.; Treutlein, P.
Journal Article
1996Verfahren und Vorrichtung zur interferometrischen Erfassung der Form und/oder Formveraenderung von Prueflingen
Evertz, J.; Tutsch, R.; Pfeifer, T.
Patent
1995Generalized aspects of multiple-wavelength techniques in optical metrology
Pfeifer, T.; Tutsch, R.; Evertz, J.; Weres, G.
Journal Article
1995Meßtechnik nach Maß
Tutsch, R.
Journal Article
1995Phase-shifting moiré deflectometry
Pfeifer, T.; Wang, B.; Evertz, J.; Tutsch, R.
Journal Article
1994Formprüfung allgemeiner asphärischer Oberflächen durch Interferometrie mit synthetischen Hologrammen und Mehrwellenlängeninterferometrie
Tutsch, R.
Dissertation
1994Multiple wavelength interferometric testing of aspherical mirrors
Pfeifer, T.; Tutsch, R.
Conference Paper
1992Interferometrische Formprüfung nicht-rotationssymmetrischer Asphären mit Hilfe synthetischer Hologramme
Pfeifer, T.; Tutsch, R.
Conference Paper
1992Signalfilterung nach einem modifizierten Lock-in-Prinzip. Nutzsignal auch bei sehr hohem Störpegel noch wiedergewinnbar
Pfeifer, T.; Tutsch, R.; Vocke, C.
Journal Article
1992Vorrichtung zur Dateneingabe
Tutsch, R.; Pfeifer, T.
Patent
1989Anwendung synthetischer Hologramme zur hochgenauen Formprüfung asphärischer Oberflächen
Pfeifer, T.; Tutsch, R.
Journal Article
1989Eindimensionale optische Abstandsmessverfahren
Pfeifer, T.; Tutsch, R.
Journal Article
1989Interferometric methods for surface metrology
Broermann, E.; Pfeifer, T.; Tutsch, R.
Conference Proceedings
1989Laser in der Fertigungsmeßtechnik
Pfeifer, T.; Tutsch, R.
Book Article
1988A brief discourse upon laser technology.
Tutsch, R.; Pfeifer, T.
Conference Paper
1988Fertigungsmeßtechnik
Tutsch, R.; Pfeifer, T.
Conference Paper
1988Geometrieerfassung mit optoelektronischen Bildsensoren
Tutsch, R.
Conference Paper
1988Synthetic holograms for the testing of aspheric surfaces
Pfeifer, T.; Hantel, P.; Tutsch, R.
Conference Paper
1986Hochflexible Messstation fuer Verbindungsteile. Die Anforderungen an die Qualitaetsueberwachung steigen
Pfeifer, T.; Jobs, G.; Tutsch, R.
Journal Article