Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2013AFM based methods for mechanical characterization of Nanothin films in electronics
Kopycinska-Müller, Malgorzata; Striegler, André; Kuzeyeva, Nataliya; Köhler, Bernd; Wolter, Klaus-Jürgen
Conference Paper
2012Dual resonance excitation system for the contact mode of atomic force microscopy
Kopycinska-Müller, M.; Striegler, A.; Schlegel, R.; Kuzeyeva, N.; Köhler, B.; Wolter, K.-J.
Journal Article
2011Detection of buried reference structures by use of atomic force acoustic microscopy
Striegler, A.; Köhler, B.; Bendjus, B.; Röllig, M.; Kopycinska-Müller, M.; Meyendorf, N.
Journal Article
2009Characterization of nano-thin films and membranes by use of atomic force acoustic microscopy methods
Kopycinska-Müller, M.; Striegler, A.; Köhler, B.; Meyendorf, N.; Wolter, K.-J.
Conference Paper
2009Elastic properties of nano - thin films by use of atomic force acoustic microscopy
Kopycinska-Müller, M.; Striegler, A.; Hürrich, A.; Köhler, B.; Meyendorf, N.; Wolter, K.-J.
Conference Paper
2009Flexibel verschiebbare Kopplungseinrichtung fuer die akustisch angeregte Rasterkraftmikroskopie mit akustischer Anregung der Probe
Striegler, A.; Naumann, S.
Patent
2009Hochaufgelöste Visualisierung verborgener Strukturen mit der akustisch angeregten Rasterkraftmikroskopie (AFAM)
Striegler, A.; Köhler, B.; Bendjus, B.; Meyendorf, N.
Conference Paper
2009New methods of characterisation of metallic fibre structures
Bendjus, B.; Schreiber, J.; Striegler, A.; Cikalova, U.
Conference Paper
2009Rasterkraftmikroskopie mit akustischer Probenanregung als Verfahren zur höchstaufgelösten Charakterisierung verborgener Strukturen und von Schichteigenschaften
Striegler, A.; Kopycinska-Müller, M.; Bendjus, B.; Köhler, B.; Meyendorf, N.; Wolter, K.-J.
Journal Article
2008Anwendung der akustischen Rasterkraftmikroskopie zur Abbildung verdeckter Referenzstrukturen
Striegler, A.; Köhler, B.; Bendjus, B.; Meyendorf, N.
Conference Paper
2008Characterization of thin oxide layers by use of the atomic force acoustic microscopy
Striegler, A.; Kopycinska-Mueller, M.; Koehler, B.; Wolter, K.-J.; Meyendorf, N.
Conference Paper
2007Determination of deformation fields and visualization of buried structures by atomic force acoustic microscopy
Köhler, B.; Bendjus, B.; Striegler, A.
Conference Paper
2007Herstellung von Teststrukturen zur Validierung zerstörungsfreier Prüfverfahren
Bendjus, B.; Striegler, A.; Köhler, B.; Schubert, F.
Conference Paper
2007Visibility of buried structures in atomic force acoustic microscopy
Striegler, A.; Pathuri, N.; Köhler, B.; Bendjus, B.
Conference Paper
2007Visualization of buried structures in atomic force acoustic microscopy
Striegler, A.; Köhler, B.; Bendjus, B.; Pathuri, N.; Meyendorf, N.
Conference Paper
2006Determination of deformation fields by atomic force acoustic microscopy
Bendjus, B.; Köhler, B.; Heuer, H.; Rabe, U.; Striegler, A.
Conference Paper