Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2016Patterning and Imaging with Electrons: Assessing Multi-Beam SEM for e-Beam Structured CMOS Samples
Garbowski, Tomasz; Panteleit, Friedhelm; Dellemann, Gregor; Gutsch, Manuela; Hohle, Christoph; Reich, Elke; Rudolph, Matthias; Steidel, Katja; Thrun, Xaver; Zeidler, Dirk
Conference Paper
2015Verification of E-Beam direct write integration into 28nm BEOL SRAM technology
Hohle, Christoph; Choi, Kang-Hoon; Gutsch, Manuela; Hanisch, Norbert; Seidel, Robert; Steidel, Katja; Thrun, Xaver; Werner, Thomas
Conference Paper
2014Integration of e-beam direct write in BEOL processes of 28nm SRAM technology node using mix and match
Gutsch, Manuela; Choi, Kang-Hoon; Hanisch, Norbert; Hohle, Christoph; Steidel, Katja; Thrun, Xaver; Seidel, Robert; Werner, Thomas
Conference Paper
201315 days electron beam exposure for manufacturing of large area silicon based NIL master
Thrun, X.; Choi, K.-H.; Freitag, M.; Gutsch, M.; Hohle, C.; Paul, J.; Rudolph, M.; Steidel, K.
Journal Article
2013Effects on electron scattering and resist characteristics using assisting underlayers for e-beam direct write lithography
Thrun, Xaver; Choi, Kang-Hoon; Hanisch, Norbert; Hohle, Christoph; Steidel, Katja; Guerrero, Douglas; Figueiro, Thiago; Bartha, Johann W.
Conference Paper
2013Influence of high-energy electron irradiation on ultra-low-k characteristics and transistor performance
Steidel, Katja; Choi, Kang-Hoon; Freitag, Martin; Gutsch, Manuela; Hohle, Christoph; Seidel, Robert; Thrun, Xaver; Werner, Thomas
Conference Paper
2013Scaling and optimization of high-density integrated Si-capacitors
Weinreich, W.; Seidel, K.; Rudolph, M.; Koch, J.; Paul, J.; Riedel, S.; Sundqvist, J.; Steidel, K.; Gutsch, M.; Beyer, V.; Hohle, C.
Conference Paper
2011Untersuchung der Auflösungsgrenzen eines Variablen Formstrahlelektronenschreibers mit Hilfe chemisch verstärkter und nicht verstärkter Negativlacke
Steidel, K.
Dissertation
2011Variable-shaped e-beam lithography enabling process development for future copper damascene technology
Jaschinsky, P.; Erben, J.-W.; Choi, K.-H.; Schulze, K.; Gutsch, M.; Freitag, M.; Schulz, S.E.; Steidel, K.; Hohle, C.; Gessner, T.; Kücher, P.
Journal Article, Conference Paper
2009Verfahren zur Bestimmung von Parametern einer Proximity-Funktion, insbesondere fuer die Korrektur des Proximity-Effekts bei der Elektronenstrahllithografie
Hauptmann, M.; Steidel, K.; Jaschinsky, P.; Choi, K.; Gutsch, M.
Patent