Fraunhofer-Gesellschaft

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2012Influence of beam conditions and energy for SEE testing
Ferlet-Cavrois, V.; Schwank, J.R.; Liu, S.; Muschitiello, M.; Beutier, T.; Javanainen, A.; Hedlund, A.; Poivey, C.; Mohammadzadeh, Ali; Harboe-Sorensen, Reno; Santin, Giovanni; Nickson, Bob; Menicucci, A.; Binois, C.; Peyre, D.; Höffgen, Stefan Klaus; Metzger, Stefan; Schardt, D.; Kettunen, H.; Virtanen, A.; Berger, G.; Piquet, B.; Foy, J.-C.; Zafrani, M.; Truscott, P.; Poizat, M.; Bezerra, F.
Journal Article
2011Influence of beam conditions and energy for SEE testing
Ferlet-Cavrois, V.; Schwank, J.R.; Liu, S.; Muschitiello, M.; Beutier, Th.; Javanainen, A.; Hedlund, A.; Poivey, C.; Zadeh, A.; Harboe-Sorensen, R.; Santin, G.; Nickson, B.; Menicucci, A.; Binois, C.; Peyre, D.; Hoeffgen, S.K.; Metzger, S.; Schardt, D.; Kettunen, H.; Virtanen, A.; Berger, G.; Piquet, B.; Foy, J.-C.; Zafrani, M.; Truscott, P.; Poizat, M.; Bezerra, F.
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