Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2019EPMA-Analyse dünner PVD- und CVD-Schichten
Schiffmann, K.I.; Steinberg, C.
Journal Article
2019SIMS depth profile analysis of tribological coatings on curved surfaces
Schiffmann, K.I.
Journal Article
2014Quantitative SIMS Tiefenprofil Analyse
Schiffmann, K.I.
Journal Article
2013Characterization of 31 nonperiodic layers of alternate SiO2/Nb2O5 on glass for optical filters by SIMS, XRR, and ellipsometry
Schiffmann, K.I.; Vergöhl, M.
Journal Article, Conference Paper
2011Determination of fracture toughness of bulk materials and thin films by nanoindentation
Schiffmann, K.I.
Journal Article
2008Microtribological/mechanical testing in 0, 1 and 2 dimensions
Schiffmann, K.I.
Journal Article
2008Optical modeling and XRR/AFM characterization of highly conductive thin Ag layers
Ulrich, S.; Pflug, A.; Schiffmann, K.I.; Szyszka, B.
Journal Article
2008Tribological improvement of moving microparts by application of thin films and micropatterning
Bandorf, R.; Paulkowski, D.M.; Schiffmann, K.I.; Küster, R.L.A.
Journal Article
2007Area function calibration in nanoindentation using the hardness instead of Young's modulus of fused silica as a reference value
Schiffmann, K.I.
Journal Article
2007Development of a piezoelectric lead titanate thin film process on silicon substrates by high rate gas flow sputtering
Jacobsen, H.; Jung, T.; Ortner, K.; Schiffmann, K.I.; Quenzer, H.-J.; Wagner, B.
Journal Article
2007Testing the viscoelastic properties of SU8 photo resist thin films at different stages of processing by nanoindentation creep and stress relaxation
Schiffmann, K.I.; Brill, C.
Journal Article
2006Nanoindentation creep and stress relaxation tests of polycarbonate
Schiffmann, K.I.
Journal Article
2005Analysis of perforating and non-perforating micro-scale abrasion tests on coated substrates
Schiffmann, K.I.; Bethke, R.; Kristen, N.
Journal Article
2005Ball cratering an efficient tool for 3 body microabrasion of coated systems
Leroy, C.; Schiffmann, K.I.; Acker, K. van; Stebut, J. von
Conference Paper, Journal Article
2004Comparison of hardness and Young's modulus by single indentation and multiple unloading indentation
Schiffmann, K.I.; Küster, R.
Journal Article
2004INO® - Oberflächentechnik im Internet
Petrik, M.; Brand, J.; Schiffmann, K.I.; Fetzer, H.-J.; Gemmler, A.; Schwarz, S.; Griepentrog, M.; Reiners, G.
Journal Article
2004Nano-scratch testing on thin diamond-like carbon coatings for microactuators: Friction, wear and elastic-plastic deformation
Küster, R.; Schiffmann, K.I.
Journal Article
2003Info-Center Internet - Informationssystem für die Oberflächentechnik
Gemmler, A.; Schwarz, S.; Binder, B.; Schiffmann, K.I.; Petrik, M.; Brand, J.; Reiners, G.; Griepentrog, M.
Journal Article
2002INO® - Informationssystem für die wirkungsvolle Nutzung der Oberflächentechnik durch kleine und mittelständische Unternehmen (KMU)
Gemmler, A.; Schwarz, S.; Fetzer, H.-J.; Brand, J.; Schiffmann, K.I.; Reiners, G.
Journal Article
2001Influence of tipradius and substrate on the nanotribological characterization of thin DLC coatings
Staedler, T.; Schiffmann, K.I.
Conference Paper
2000Mikrotribologische und mikromechanische Eigenschaften dünner CNX- und DLC-Schichten
Staedler, T.; Schiffmann, K.I.
Conference Paper
2000Mikrotribologische und mikromechanische Eigenschaften dünner CNx‐ und DLC‐Schichten
Staedler, T.; Schiffmann, K.I.
Journal Article
1998Coalescence and overgrowth of diamond grains for improved heteroepitaxy on silicon (001)
Jiang, X.; Schiffmann, K.I.; Klages, C.-P.; Wittorf, D.; Jia, C.L.; Urban, K.; Jager, W.
Journal Article
1998Microfriction and macrofriction of metal containing amorphous hydrocarbon hard coatings determined by AFM and pin-on-desk tests
Schiffmann, K.I.
Journal Article
1998Microfriction and microwear AFM experiments on metal containing amorphous hydrocarbon hard coatings
Schiffmann, K.I.
Conference Paper
1998Microwear experiments on metal containing amorphous hydrocarbon hard coatings by AFM. Wear mechanisms and models for the load and time dependence
Schiffmann, K.I.
Journal Article
1997Mikrobalken mit integrierter Abtast- bzw. Pruefspitze aus Diamant fuer den Einsatz in Rastersondenmikroskopen
Schiffmann, K.I.; Jiang, X.; Luethje, H.
Patent
1997Mikrostruktur und Mikrotribologie von amorphen metallhaltigen Kohlenwasserstoffschichten
Schiffmann, K.I.
Dissertation
1997Untersuchung von metallhaltigen amorphen Kohlenwasserstoff-Nanokompositen mittels Rastersondenmikroskopie und Röntgenkleinwinkelstreuung
Fryda, M.; Goerigk, G.; Schiffmann, K.I.
Journal Article, Conference Paper
1996Einsatz des Rastertunnelmikroskops und des Rasterkraftmikroskops zur Untersuchung von amorphen Metall-Kohlenstoff-Nanocompositschichten. Abschlußbericht zum Projekt der Volkswagenstiftung
Schiffmann, K.I.
Report
1996Röntgenkleinwinkelstreuung (ASAXS) an metallischen Clustern in amorphen Kohlenwasserstoff-Matrizen. HASYLAB-Jahresbericht 1996
Fryda, M.; Goerigk, G.; Schiffmann, K.I.
Report
1994Investigation of heteroepitaxial diamond films by scanning tunneling and atomic force microscopy
Jiang, X.; Schiffmann, K.I.
Journal Article
1994Nucleation and initial growth phase of diamond thin films on (100) silicon
Jiang, X.; Klages, C.-P.; Schiffmann, K.I.
Journal Article
1993Atomic-force-microscopic study of heteroepitaxial diamond nucleation on (100) silicon
Jiang, X.; Schiffmann, K.I.; Westphal, A.; Klages, C.-P.
Journal Article
1993Elektronenstrahl-Mikroanalyse zur Charakterisierung dünner Schichten
Willich, P.; Bethke, R.; Schiffmann, K.I.
Journal Article
1993Investigation of fabrication parameters for the electron-beam induced deposition of contamination tips used in atomic force microscopy
Schiffmann, K.I.
Journal Article
1992Influence of a RF plasma on the nucleation of aluminium using n-trimethy lamine-alane -TMAA- as precursor
Bringmann, U.; Klages, C.-P.; Weber, A.; Schiffmann, K.I.
Conference Paper
1992Programs for data processing of electron probe microanalysis applied to thin films and multilayers
Willich, P.; Schiffmann, K.I.
Conference Paper
1992Simultane Bestimmung von Schichtdicke und Zusammensetzung bei dünnen Filmen und Mehrschichtsystemen mit Hilfe der Elektronenstrahl-Mikrosonde
Schiffmann, K.I.
Conference Paper
1991EPMA of surface oxide films
Willich, P.; Schiffmann, K.I.
Conference Paper