Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2001Comparison of strain/stress measurements on free form surfaces using ESPI and strain gauge technique
Lemos, J. de; Mischo, H.; Pfeifer, T.
Conference Paper
20003D surface inspection with a DMD based sensor
Bitte, F.; Mischo, H.; Pfeifer, T.; Frankowski, G.
Conference Paper
2000Interferometer calibration: An approach with the virtual interferometer
Bitte, F.; Mischo, H.; Pfeifer, T.
Conference Paper
2000Testing acylindrical microlenses at grazing incidence
Schreiner, R.; Lindlein, N.; Dresel, T.; Schwider, J.; Brinkmann, S.; Mischo, H.
Journal Article
2000Using a digital micromirror device for three dimensional microinspection
Bitte, F.; Dussler, G.; Mischo, H.; Pfeifer, T.; Frankowski, G.
Conference Paper
2000Das virtuelle Interferometer - modellgestützte Optimierung
Mischo, Horst Konstantin
Dissertation
1999Aspheric Surface Measurement Using Moire Deflectometry based on Digital Fourier Transform
Wang, B.; Luo, X.; Pfeifer, T.; Mischo, H.
Conference Paper
1999Efficient phase-unwrapping algorithm by using phase blocks
Wang, B.; Lu, T.; Zheng, Z.; Mischo, H.
Conference Paper
1999Error sources, measurement uncertainties and calibration techniques in high-precision metrology
Bitte, F.; Mischo, H.; Pfeifer, T.
Conference Paper
1999Interferometric measurements of aspherical surfaces using automatically aligned nulltests and multiple wavelengths
Pfeifer, T.; Mischo, H.
Conference Paper
1999Moire deflectometry based on Fourier-transform analysis
Wang, B.; Luo, X.; Pfeifer, T.; Mischo, H.
Journal Article
1999Phase unwrapping by blocks
Wang, B.; Shi, Y.; Pfeifer, T.; Mischo, H.
Journal Article
1999Strain/stress measurements using combined ESPI contouring and deformation measurements
Pfeifer, T.; Mischo, H.; Lemos, J. de; Wegner, R.
Conference Paper
1999Verfahren und Vorrichtung zum Lesen optischer Speichermedien
Tutsch, R.; Mischo, H.; Pfeifer, T.
Patent
1999Verfahren und Vorrichtung zur Messung des Abstandes von Grenzflaechen transparenter Medien
Grosser, J.; Mischo, H.
Patent
1998Chamäleon der Prüftechnik. Der Laser mißt genau, flexibel und schnell
Mischo, H.; Glöckner, C.
Journal Article
1998Durchblick und Qualität auf den Nanometer genau
Grosser, J.; Mischo, H.
Journal Article
1998Error compensation by model-based interferometry
Pfeifer, T.; Mischo, H.; Evertz, J.; Manekeller, S.
Journal Article
1998Speckle-Interferometrie mit Diodenlasern zur Formprüfung
Pfeifer, T.; Wegner, R.; Mischo, H.
Journal Article
1998Strain/stress measurements using electronic speckle pattern interferometry
Pfeifer, T.; Mischo, H.; Ettemeyer, A.; Wang, Z.; Wegner, R.
Conference Paper
1998Verfahren und Vorrichtung zum Lesen und/oder Beschreiben optischer Speichermedien mit zwei Informationstraegerschichten
Tutsch, R.; Mischo, H.; Pfeifer, T.
Patent
1997An approach to model based interferometry
Pfeifer, T.; Mischo, H.; Evertz, J.; Manekeller, S.
Conference Paper
1997Coded speckle-interferometric formtesting
Pfeifer, T.; Mischo, H.; Koch, S.; Evertz, J.
Conference Paper
1997A new speckle-interferometric approach to measure the 3D-shape of discontinuous free-form surfaces
Pfeifer, T.; Evertz, J.; Mischo, H.
Conference Paper
1997Qualitätsprüfung in der Glasindustrie
Großer, J.; Mischo, H.; Ottermann, C.; Pfeifer, T.
Journal Article
1996Aspheric formtesting using multiple-wavelength approaches in combination with Sub-Nyquist-techniques
Pfeifer, T.; Mischo, H.; Evertz, J.; Tutsch, R.
Conference Paper