Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2015Reactively sputtered hafnium oxide on silicon dioxide: Structural and electrical properties
Kolkovsky, V.; Lukat, K.; Kurth, E.; Kunath, C.
Journal Article
2013Influence of copper on the diffusion length of the minority carriers in devices based on n-type Si/SiO2
Kolkovsky, V.; Lukat, K.
Journal Article, Conference Paper
2010Temperature measurement on MOEMS micromirror plates under illumination
Wullinger, I.; Rudloff, D.; Lukat, K.; Dürr, P.; Krellmann, M.; Kunze, D.; Narayana Samy, A.; Dauderstädt, U.; Wagner, M.
Conference Paper
1999Übersicht Projektarbeiten FhG-IMS im Verbundprojekt Smart Fabrication QM
Dreizner, A.; Florenz, W.; Lange, U.; Lukat, K.; Miskowiec, P.; Scharfe, R.; Stephan, R.; Wagner, H.
Conference Paper
1998Fast WLR test for model parameter estimation for lifetime prediction of lines
Lukat, K.
Book Article
1997Zuverlässigkeitstest auf Waferebene
Dreizner, A.; Lukat, K.
Journal Article
1996Zuverlässigkeitstest auf Waferebene
Dreizner, A.; Scharfe, R.; Lukat, K.; Florenz, W.; Lange, U.
Book Article
1995Ausbeute-Zuverlässigkeits-Korrelation für Leitbahnsysteme in hochintegrierten Schaltungen
Dreizner, A.; Kück, H.; Lukat, K.; Pahlitzsch, J.
Conference Paper
1995Metallisierung für Hochtemperatur-Bauelemente
Leiberg, W.; Werner, R.; Lukat, K.
Book Article
1994Defect monitoring and layout related yield and reliability prediction for VLSI interconnects
Dreizner, A.; Lukat, Klaus; Pahlitzsch, J.; Kück, H.
Conference Paper
1993Schnelle Testverfahren zur Charakterisierung von Ausbeute und Zuverlässigkeit hochintegrierter Leitbahnsysteme
Dreizner, A.; Kück, H.; Lukat, K.; Pahlitzsch, J.
Conference Paper
1993Wafer-Level-Processmonitoring für Zuverlässigkeit und Ausbeute integrierter Schaltungen
Dreizner, A.; Lukat, K.; Pahlitzsch, J.
Book Article