Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2014Anti-counterfeiting technique in the micro region for micro and nano systems
Luczak, F.; Dost, M.; Seiler, B.; Winkler, T.; Michel, B.
Book Article
2009The application of energy dispersive diffraction for nondestructive analysis of large material depths and for residual stress determination
Kämpfe, B.; Luczak, F.; Urban, M.
Conference Paper, Journal Article
2008Approaches of local stress measurement on microsystem devices
Vogel, D.; Auerswald, E.; Gollhardt, A.; Luczak, F.; Sabate, N.; Michel, B.
Conference Paper
2008Residual stress measurements of high spatial resolution
Vogel, D.; Luczak, F.; Michel, B.
Conference Paper
2008Residual Stress Measurements on Semiconductor Layers Utilizing Stress Relief Techniques
Vogel, D.; Lehr, M.U.; Grillberger, M.; Jaschke, V.; Geisler, H.; Gollhardt, A.; Luczak, F.; Michel, B.
Conference Paper
2007Evaluation of Diffraction Patterns in High Energy X-Ray Analysis
Luczak, F.; Kämpfe, B.; Urban, M.
Conference Paper
2007Röntgenoptiken aus mikrostrukturiertem Silizium
Zschenderlein, U.; Frühauf, J.; Straube, H.; Gärtner, E.; Kämpfe, B.; Luczak, F.; Zimny, F.; Petrick, H.; Böhme, H.
Conference Paper
2007X-Ray Optics Manufactured by Microtechnology for ED XRD Systems
Zschenderlein, U.; Frühauf, J.; Straube, H.; Gärtner, E.; Kämpfe, B.; Luczak, F.; Zimny, F.; Petrick, H.; Böhme, H.
Conference Paper
2006Energy dispersive X-ray diffraction
Kämpfe, B.; Luczak, F.; Michel, B.
Journal Article
2004Zuverlässigkeitsbewertung elektronischer Baugruppen mit modernen Mikro- und Nanomesstechniken in Kopplung zur Simulation
Michel, B.; Dudek, R.; Keller, J.; Luczak, F.
Conference Paper
2002A modular fluidic demonstrator for the Match-X framework
Schindler-Saefkow, F.; Amiri Jam, K.; Luczak, F.; Großer, V.; Michel, B.; Günther, G.
Conference Paper
2002Schulungsunterlagen zur Vermittlung der Grundlagen und anwendungsbezogenen Informationen des mikrotechnischen Baukastensystems
Schünemann, M.; Schüle, A.; Jam, A.K.; Luczak, F.
Report
2000Measurement of material properties by a modified microDAC approach
Vogel, D.; Luczak, F.; Wittler, O.; Gollhardt, A.; Walter, H.; Michel, B.
Conference Paper
1999MicroDAC deformation analysis on solder interconnects for flip chip
Vogel, D.; Luczak, F.; Schubert, A.; Michel, B.
Conference Paper