Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2018Total Synthesis and Structural Revision of the Antibiotic Tetrapeptide GE81112A
Jürjens, G.; Schuler, S.M.M.; Kurz, M.; Petit, S.; Couturier, C.; Jeannot, F.; Nguyen, F.; Wende, R.C.; Hammann, P.E.; Wilson, D.N.; Bacqué, E.; Pöverlein, C.; Bauer, A.
Journal Article
2016Mobilität im Quartier trotz Demenz. Abschlussbericht
: Becker, Dietmar; Brüstle, Karoline; Weweler, Martin; Forstner, Johanna Maria; Vasilev, Helena; Gaugisch, Petra; Risch, Beate; Krezdorn, Livia; Heusel, Christof; Maczollek, Jürgen; Schiffer, Karin; Kurz, Manfred; Eberhardt, Michaela; Lechler, Jürgen; Zimmermann, Andreas; Badstöber, Katja; Rapp, Rebekka; Hülsken-Giesler, Manfred; Kricheldorff, Cornelia; Oswald, Cornelia
Report
2013Advances in the compensation of dynamic machine tool errors for compliant machine tool frames
Uhlmann, Eckart; Eßmann, Jörg; Langmack, Malte; Kurz, Martin
Conference Paper
2013Integration optischer Messtechnik in Ultrapräzisionsmaschinen für die Korrekturbearbeitung beim Drehen mit Slow-Slide-Servo
Kurz, Martin
: Uhlmann, Eckart
Dissertation
2012Two approaches to use phase measuring deflectometry in ultra-precision machine tools
Faber, C.; Kurz, M.; Röttinger, C.; Olesch, E.; Domingos, D.; Löwenstein, A.; Häusler, G.; Uhlmann, E.
Conference Paper
2011Deflectometry setup for machine integrated measurement of specular surfaces miniaturized phase measuring
Häusler, G.; Uhlmann, E.; Faber, C.; Olesch, E.; Röttinger, C.; Kurz, M.
Conference Paper
2010Measurement of tool temperatures in the tool-chip contact region by embedded thin film thermocouples
Kurz, M.; Geisert, C.; Oberschmidt, D.; Werschmoeller, D.; Uhlmann, E.
Conference Paper
2009Machine-integrated measurement of specular free-formed surfaces using phase-measuring deflectometry
Richter, C.; Kurz, M.; Knauer, M.C.; Faber, C.; Olesch, E.; Häusler, G.; Oberschmidt, D.; Eßmann, J.; Uhlmann, E.
Conference Paper
2009Mit schnellem Algorithmus zur perfekten Freiformoptik
Kurz, M.; Oberschmidt, D.; Siedow, N.; Feßler, R.; Jegorovs, J.
Journal Article
2008Taktiles Messen optischer Funktionsflächen
Kurz, M.; Eßmann, J.; Oberschmidt, D.
Journal Article
2008Ultra precision machine integrated measurement of spheres and aspheres with a twyman-green interferometer
Uhlmann, E.; Kurz, M.; Bluemel, T.; Neubert, R.; Oberschmidt, D.
Conference Paper
2008Ultra precision machine-integrated approach to measuring aspheres interferometrically
Uhlmann, E.; Kurz, M.; Bosse, M.; Neubert, R.; Bluemel, T.; Oberschmidt, D.
Conference Paper
2007Hochpräzise Werkzeug- und Werkstückvermessung - Kompensieren heißt, Fehler vermeiden
Hohwieler, E.; Kurz, M.; Essmann, J.; Oberschmidt, D.
Journal Article
2007Kompensieren heißt Fehler vermeiden
Hohwieler, E.; Kurz, M.; Essmann, J.; Oberschmidt, D.
Journal Article
2006A new approach to the measurment of free form surfaces for micro optical applications
Uhlmann, E.; Kurz, M.; Oberschmidt, D.; Blümel, T.; Kafka, R.; Osten, S.; Krüger, S.
Conference Paper
2006Ultraprecision turning with binderless CBN
Oberschmidt, D.; Kurz, M.
Conference Paper
2003Advanced recipe management for hard disk manufacturing
Kobusch, I.; Röhrsheim, O.; Frauenhoffer, F.; Kurz, M.; Schreblowsky, L.; Uebner, M.; Muckenhirn, R.
Journal Article
2000Control of thermal conditions during crystal growth by inverse modeling
Kurz, M.; Müller, G.
Journal Article
2000Process modeling of the industrial VGF growth process using the software package CrysVUN++
Backofen, R.; Kurz, M.; Müller, G.
Journal Article
1999Development of a new powerfull computer code crysVUN++ especially designed for fast simulation of bulk crystal growth processes
Kurz, M.; Pusztai, A.; Müller, G.
Journal Article