Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2016Adhesion quality of evaporated aluminum layers on passivation layers for rear metallization of silicon solar cells
Kumm, J.; Hartmann, P.; Eberlein, D.; Wolf, A.
Journal Article
2016Analysis of Al diffusion processes in TiN barrier layers for the application in silicon solar cell metallization
Kumm, J.; Samadi, H.; Chacko, R.V.; Hartmann, P.; Wolf, A.
Journal Article
2016Entwicklung eines PVD-Metallisierungskonzeptes für industrielle rückseitenpassivierte und -kontaktierte Silicium-Solarzellen
Kumm, Julia
: Paul, O.; Weber, E.; Zacharias, M.
Dissertation
2016Low-temperature interconnection of PVD-aluminium metallization
Geipel, T.; Kumm, J.; Moeller, M.; Kroely, L.; Kraft, A.; Eitner, U.; Wolf, A.; Zhang, Z.; Wolfahrt, P.
Journal Article, Conference Paper
2015Long-term and annealing stable, solderable PVD metallization with optimized Al diffusion barrier
Kumm, J.; Chacko, R.V.; Samadi, H.; Hartmann, P.; Eberlein, D.; Jäger, U.; Wolf, A.
Journal Article, Conference Paper
2015Photovoltaische Solarzelle und Verfahren zum Herstellen einer metallischen Kontaktierung einer photovolatischen Solarzelle
Kumm, Julia; Samadi, Hassan; Reinwand, Dirk; Wolke, Winfried; Hartmann, Philip
Patent
2013Comparison of cleaning processes for enabling solderability of LFC-PERC silicon solar cells with evaporated Al as rear side metallization
Samadi, H.; Kumm, J.; Eberlein, D.; Hartmann, P.; Wolf, A.; Mack, S.
Conference Paper
2013Development of temperature-stable, solderable PVD rear metallization for industrial silicon solar cells
Kumm, J.; Samadi, H.; Hartmann, P.; Nold, S.; Wolf, A.; Wolke, W.
Conference Paper
2013Investigation of methods for adhesion characterization of evaporated aluminum layers
Kumm, J.; Eberlein, D.; Hartmann, P.; Wolke, W.; Wolf, A.; Preu, R.
Conference Paper
2001Akzeptanz, Stand der Technik und Perspektiven ausgewählter multimedialer Anwendungen. Dokumentation der Ergebnisse 2000
: Fleckstein, T.; Gurzki, T.; Kumm, J.; Ott, S.; Schubje, A.; Müller, A.
Study
2001Technologiemanagement
: Erhardt, K.; Ilg, R.; Kumm, J.
Report