Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2020Zerstörungsfrei und berührungslos: robotergestützte Schichtdicken­messung in der Fertigung
Klier, Jens; Weber, Stefan; Molter, Daniel; Freymann, Georg von; Jonuscheit, Joachim
Journal Article
2019Zerstörungsfreie Schichtdickenmessung an Nassfilmen
Klier, Jens; Weber, Stefan; Molter, Daniel; Freymann, Georg von; Jonuscheit, Joachim
Journal Article
2018Four-channel terahertz time-domain spectroscopy system for industrial pipe inspection
Klier, Jens; Kharik, Dmytro; Zwetow, Wladimir; Gundacker, Dominic; Weber, Stefan; Molter, Daniel; Ellrich, Frank; Joachim Jonuscheit; Freymann, Georg von
Conference Paper
2018Interferometry-aided terahertz time-domain spectroscopy for robust measurements in reflection
Molter, Daniel; Weber, Stefan; Pfeiffer, Tobias; Klier, Jens; Bachtler, Sebastian; Ellrich, Frank; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von
Conference Paper
2018Vorrichtung und Verfahren zum zeitaufgelösten Erfassen gepulster elektromagnetischer Hochfrequenzstrahlung
Jonuscheit, Joachim; Klier, Jens; Molter, Daniel; Freymann, Georg von
Patent
2016Highly accurate thickness measurement of multi-layered automotive paints using terahertz technology
Krimi, Soufiene; Klier, Jens; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von; Urbansky, Ralph; Beigang, René
Journal Article
2016Photoconductive antennas based on low temperature grown GaAs on silicon infstrates for broadband terahertz generation and detection
Klos, Matthias; Bartholdt, Richard; Klier, Jens; Lampin, Jean François; Beigang, René
Conference Paper
2016Self-calibrating approach for terahertz thickness measurements of ceramic coatings
Krimi, Soufiene; Klier, Jens; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von; Urbansky, Ralph; Beigang, René
Conference Paper
2016Terahertz time-domain technology for thickness determination of industrial relevant multi-layer coatings
Ellrich, Frank; Klier, Jens; Weber, Stefan; Jonuscheit, Joachim; Freymann, Georg von
Conference Paper
2016Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen der Schichtdicken einer mehrschichtigen Probe
Krimi, Soufiene; Klier, Jens; Jonuscheit, Joachim
Patent
2015An evolutionary algorithm based approach to improve the limits of minimum thickness measurements of multilayered automotive paints
Krimi, Soufiene; Klier, Jens; Ellrich, Frank; Jonuscheit, Joachim; Urbansky, R.; Beigang, René; Freymann, Georg von
Conference Paper