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| 2009 | The application of energy dispersive diffraction for nondestructive analysis of large material depths and for residual stress determination
Kämpfe, B.; Luczak, F.; Urban, M. | Conference Paper, Journal Article |
| 2007 | Application of energy dispersive X-ray Diffraction for the efficient investigation of internal stresses in thin films
Zschenderlein, D.; Kämpfe, B.; Schultrich, B.; Fritsche, G. | Conference Paper, Journal Article |
| 2007 | Evaluation of Diffraction Patterns in High Energy X-Ray Analysis
Luczak, F.; Kämpfe, B.; Urban, M. | Conference Paper |
| 2007 | Possibilities and Application Fields of Energy-Dispersive X-Ray Diffraction for the Investigation of Microsystems
Kämpfe, B.; Zimny, F.; Petrick, H.; Böhme, H. | Conference Paper |
| 2007 | Röntgenoptiken aus mikrostrukturiertem Silizium
Zschenderlein, U.; Frühauf, J.; Straube, H.; Gärtner, E.; Kämpfe, B.; Luczak, F.; Zimny, F.; Petrick, H.; Böhme, H. | Conference Paper |
| 2007 | X-Ray Optics Manufactured by Microtechnology for ED XRD Systems
Zschenderlein, U.; Frühauf, J.; Straube, H.; Gärtner, E.; Kämpfe, B.; Luczak, F.; Zimny, F.; Petrick, H.; Böhme, H. | Conference Paper |
| 2006 | Energy dispersive X-ray diffraction
Kämpfe, B.; Luczak, F.; Michel, B. | Journal Article |
| 2005 | Investigation of Intrinsic Stress in Diamond Films using Raman Spectroscopy and X-ray Diffraction
Krawietz, R.; Kämpfe, B.; Auerswald, E.; Brücher, M. | Conference Paper |
| 2005 | Raman spectroscopic and x-ray investigation of stressed states in diamond-like carbon films
Krawietz, R.; Kämpfe, B.; Auerswald, E.; Brücher, M. | Journal Article |
| 2004 | Verfahren und Vorrichtung zum synchronen und mobilen Pruefen von Materialien, insbesondere Prueflingen groesserere Dicke und/oder komplizierter Geometrie, mittels Roentgenstrahlen
Kaempfe, B.; Petrick, H.; Holz, T.; Scheel, W.; Halser, K. | Patent |
| 2003 | Verfahren zum Steuern und Kontrollieren von Prozessparametern und Anordnung hierfuer
Yacoub, T.; Kourosh, A.; Kaempfe, B.; Grosser, V. | Patent |
| 2002 | Verfahren und Vorrichtung zum mobilen und synchronen Bestimmen von Struktur und chemischen Elementen aus durch Roentgenstrahlen generierten Fluoreszenz- und Beugungserscheinungen an kristallinen Prueflingen, Bauteilen oder dergleichen
Kaempfe, B.; Arnhold, R.; Hannig, W. | Patent |
| 2002 | Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung hochenergetischer Ionenstrahlen und/oder kurzwelliger elektromagnetischer Strahlung
Vogel, D.; Vogel, N.; Kaempfe, B. | Patent |
| 2001 | Verfahren zur roentgendiffraktometrischen, zerstoerungsfreien Bestimmung von dehnungsfreien Gitterparametern und/oder mechanischen Spannungszustaenden
Kaempfe, A.; Predecki, P.; Kaempfe, B.; Eigenmann, B. | Patent |
| 2000 | µ-XRF - A new powerful analytic tool for microstructures
Haschke, M.; Kämpfe, B. | Conference Paper |
| 2000 | BGA packaging technology for rapid prototyping supported by advanced analytics
Becker, K.-F.; Ansorge, F.; Aschenbrenner, R.; Krause, F.; Kämpfe, B.; Reichl, H. | Conference Paper |
| 2000 | Determination of Residual Stresses in Microsystems Using X-Ray Diffraction
Kämpfe, B.; Auerswald, E. | Conference Paper |
| 2000 | Investigation of residual stresses in microsystems using X-ray diffraction
Kämpfe, B. | Journal Article |
| 2000 | Residual stress determination in microsystems using X-ray diffraction
Kämpfe, B.; Kämpfe, A.; Auerswald, E.; Kassem, M.E. | Conference Paper |
| 2000 | Verfahren und Einrichtung zum Erkennen und Separieren von durch energiereiche Strahlen, insbesondere Roentgenstrahlen, generierten Fluoreszenz- und Beugungserscheinungen in kristallinen Prueflingen
Kaempfe, B.; Hanschke, M. | Patent |
| 2000 | X-ray texture and residual stress analysis on photoactivated electroless plated Cu-layers
Kämpfe, A.; Löhe, D.; Stolle, T.; Kämpfe, B. | Conference Paper |
| 1999 | A review about fifteen years of x-ray analysis of our department
Auerswald, E.; Schubert, A.; Kämpfe, B. | Book Article |
| 1999 | Two-dimensional detectors for x-ray stress analysis on polycrystalline materials
Kämpfe, A.; Kämpfe, B.; Goldenbogen, S.; Eigenmann, B.; Macherauch, E.; Löhe, D. | Book Article |
| 1998 | Characterization of surface metallization for printed circuit boards
Auerswald, E.; Hannemann, M.; Kämpfe, B.; Schmidt, R. | Conference Paper |
| 1997 | Area detector for single crystal evaluation
Goldenbogen, S.; Kämpfe, B.; Krause, F. | Conference Paper |
| 1997 | Characterization of packages for laser diodes
Auerswald, E.; Döring, R.; Nechansky, H.; Kämpfe, B.; Michel, B. | Conference Paper |
| 1997 | Verfahren zur Bestimmung von Abstaenden zwischen einkristallinen Prueflingen und flaechenhaften Detektionseinrichtungen fuer Roentgenstrahlung
Kaempfe, B.; Goldenbogen, S.; Michel, B.; Krause, F.; Diezko, R.H. | Patent |
| 1997 | Verfahren zur Ermittlung von Materialkennwerten in mikroskopisch dimensionierten Prueflingsbereichen
Dost, M.; Kaempfe, B.; Kuehnert, R.; Michel, B.; Traenkner, K. | Patent |
| 1997 | Verfahren zur feldmaessigen Bestimmung von Deformationszustaenden in mikroskopisch dimensionierten Prueflingsbereichen
Kuehnert, R.; Schubert, A.; Dost, M.; Vogel, D.; Kaempfe, B.; Michel, B. | Patent |
| 1997 | X-ray stress analysis by use of an area detector
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Goldenbogen, S. | Journal Article |
| 1996 | Stress analysis using an area detector
Schubert, A.; Michel, B.; Kämpfe, B. | Conference Paper |
| 1996 | Verfahren zur roentgendiffraktometrischen Bestimmung von mechanischen Spannungen in einkristallinen Prueflingen
Kaempfe, B.; Kaempfe, A.; Kunath, J. | Patent |
| 1996 | Zuverlässigkeitsuntersuchungen an AlN-Cu-Verbunden
Auerswald, E.; Kämpfe, B.; Dudek, R.; Faust, W. | Book Article |
| 1995 | Einsatzmöglichkeiten des Flächendetektors zur röntgenographischen Spannungsmessung in der Mikrosystemtechnik
Kämpfe, B.; Schubert, A.; Goldenbogen, S.; Tränkner, K. | Conference Paper |
| 1995 | Röntgendiffraktometrische Analyse von mechanischen Spannungen zur Bewertung von Materialien und Technologien im Fertigungsprozeß der Mikroelektronik
Kämpfe, B.; Opper, D. | Conference Paper |
| 1995 | Röntgendiffraktometrische Analyse von mechanischen Spannungen zur Bewertung von Materialien und Technologien im Fertigungsprozeß der Mikroelektronik
Kämpfe, B.; Opper, D.; Krause, F. | Conference Paper |
| 1995 | Röntgenfeinstrukturanalyse
Kämpfe, B.; Hunger, H.-J. | Book Article |
| 1995 | Röntgenographische Spannungsanalyse mit dem Flächendetektor
Kämpfe, B.; Schubert, A.; Krause, F.; Goldenbogen, S.; Auerswald, E. | Book Article |
| 1995 | Zuverlässigkeitsuntersuchungen an AlN-Verbunden, angewendet auf die Mikrosystem-Modultechniken
Auerswald, E.; Dudek, R.; Faust, W.; Kämpfe, B. | Conference Paper |
| 1994 | Bestimmung mechanischer Spannungen in Mikrosystemen mit röntgendiffraktometrischen Verfahren
Kämpfe, B. | Conference Paper |
| 1994 | Röntgenographische Analyse von mechanischen Eigenspannungen in Mikrosystemen - Anwendungsmöglichkeiten, Beispiele und gerätetechnische Voraussetzungen
Kämpfe, B.; Opper, D. | Conference Paper |
| 1994 | Use of an x-ray imaging plate for stress analysis
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Ermrich, M.; Auerswald, E.; Tränkner, K. | Conference Paper |
| 1994 | X-ray residual stress analysis in components of microsystem technology
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Michel, B. | Conference Paper |
| 1993 | Analysis of stress distributions in the crack tip surrounding
Auerswald, E.; Schubert, A.; Auersperg, J.; Kämpfe, B. | Book Article |
| 1993 | Determination of residual stress in a ceramic multilayer chip capacitor
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Dudek, R.; Skurt, L. | Conference Paper |
| 1993 | X-ray analysis of residual stress gradients and textures in thin coatings
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Auerswald, E.; Michel, B. | Conference Paper |
| 1993 | X-ray analysis of residual stress gradients and textures in thin coatings
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Auerswald, E. | Conference Paper |
| 1992 | Vorrichtung zur Aufnahme eines Prueflings in einem stationaeren Diffraktometer
Kaempfe, B.; Hirsch, T.; Auerswald, E.; Koertel, G. | Patent |