Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2009The application of energy dispersive diffraction for nondestructive analysis of large material depths and for residual stress determination
Kämpfe, B.; Luczak, F.; Urban, M.
Conference Paper, Journal Article
2007Application of energy dispersive X-ray Diffraction for the efficient investigation of internal stresses in thin films
Zschenderlein, D.; Kämpfe, B.; Schultrich, B.; Fritsche, G.
Conference Paper, Journal Article
2007Evaluation of Diffraction Patterns in High Energy X-Ray Analysis
Luczak, F.; Kämpfe, B.; Urban, M.
Conference Paper
2007Possibilities and Application Fields of Energy-Dispersive X-Ray Diffraction for the Investigation of Microsystems
Kämpfe, B.; Zimny, F.; Petrick, H.; Böhme, H.
Conference Paper
2007Röntgenoptiken aus mikrostrukturiertem Silizium
Zschenderlein, U.; Frühauf, J.; Straube, H.; Gärtner, E.; Kämpfe, B.; Luczak, F.; Zimny, F.; Petrick, H.; Böhme, H.
Conference Paper
2007X-Ray Optics Manufactured by Microtechnology for ED XRD Systems
Zschenderlein, U.; Frühauf, J.; Straube, H.; Gärtner, E.; Kämpfe, B.; Luczak, F.; Zimny, F.; Petrick, H.; Böhme, H.
Conference Paper
2006Energy dispersive X-ray diffraction
Kämpfe, B.; Luczak, F.; Michel, B.
Journal Article
2005Investigation of Intrinsic Stress in Diamond Films using Raman Spectroscopy and X-ray Diffraction
Krawietz, R.; Kämpfe, B.; Auerswald, E.; Brücher, M.
Conference Paper
2005Raman spectroscopic and x-ray investigation of stressed states in diamond-like carbon films
Krawietz, R.; Kämpfe, B.; Auerswald, E.; Brücher, M.
Journal Article
2004Verfahren und Vorrichtung zum synchronen und mobilen Pruefen von Materialien, insbesondere Prueflingen groesserere Dicke und/oder komplizierter Geometrie, mittels Roentgenstrahlen
Kaempfe, B.; Petrick, H.; Holz, T.; Scheel, W.; Halser, K.
Patent
2003Verfahren zum Steuern und Kontrollieren von Prozessparametern und Anordnung hierfuer
Yacoub, T.; Kourosh, A.; Kaempfe, B.; Grosser, V.
Patent
2002Verfahren und Vorrichtung zum mobilen und synchronen Bestimmen von Struktur und chemischen Elementen aus durch Roentgenstrahlen generierten Fluoreszenz- und Beugungserscheinungen an kristallinen Prueflingen, Bauteilen oder dergleichen
Kaempfe, B.; Arnhold, R.; Hannig, W.
Patent
2002Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung hochenergetischer Ionenstrahlen und/oder kurzwelliger elektromagnetischer Strahlung
Vogel, D.; Vogel, N.; Kaempfe, B.
Patent
2001Verfahren zur roentgendiffraktometrischen, zerstoerungsfreien Bestimmung von dehnungsfreien Gitterparametern und/oder mechanischen Spannungszustaenden
Kaempfe, A.; Predecki, P.; Kaempfe, B.; Eigenmann, B.
Patent
2000µ-XRF - A new powerful analytic tool for microstructures
Haschke, M.; Kämpfe, B.
Conference Paper
2000BGA packaging technology for rapid prototyping supported by advanced analytics
Becker, K.-F.; Ansorge, F.; Aschenbrenner, R.; Krause, F.; Kämpfe, B.; Reichl, H.
Conference Paper
2000Determination of Residual Stresses in Microsystems Using X-Ray Diffraction
Kämpfe, B.; Auerswald, E.
Conference Paper
2000Investigation of residual stresses in microsystems using X-ray diffraction
Kämpfe, B.
Journal Article
2000Residual stress determination in microsystems using X-ray diffraction
Kämpfe, B.; Kämpfe, A.; Auerswald, E.; Kassem, M.E.
Conference Paper
2000Verfahren und Einrichtung zum Erkennen und Separieren von durch energiereiche Strahlen, insbesondere Roentgenstrahlen, generierten Fluoreszenz- und Beugungserscheinungen in kristallinen Prueflingen
Kaempfe, B.; Hanschke, M.
Patent
2000X-ray texture and residual stress analysis on photoactivated electroless plated Cu-layers
Kämpfe, A.; Löhe, D.; Stolle, T.; Kämpfe, B.
Conference Paper
1999A review about fifteen years of x-ray analysis of our department
Auerswald, E.; Schubert, A.; Kämpfe, B.
Book Article
1999Two-dimensional detectors for x-ray stress analysis on polycrystalline materials
Kämpfe, A.; Kämpfe, B.; Goldenbogen, S.; Eigenmann, B.; Macherauch, E.; Löhe, D.
Book Article
1998Characterization of surface metallization for printed circuit boards
Auerswald, E.; Hannemann, M.; Kämpfe, B.; Schmidt, R.
Conference Paper
1997Area detector for single crystal evaluation
Goldenbogen, S.; Kämpfe, B.; Krause, F.
Conference Paper
1997Characterization of packages for laser diodes
Auerswald, E.; Döring, R.; Nechansky, H.; Kämpfe, B.; Michel, B.
Conference Paper
1997Verfahren zur Bestimmung von Abstaenden zwischen einkristallinen Prueflingen und flaechenhaften Detektionseinrichtungen fuer Roentgenstrahlung
Kaempfe, B.; Goldenbogen, S.; Michel, B.; Krause, F.; Diezko, R.H.
Patent
1997Verfahren zur Ermittlung von Materialkennwerten in mikroskopisch dimensionierten Prueflingsbereichen
Dost, M.; Kaempfe, B.; Kuehnert, R.; Michel, B.; Traenkner, K.
Patent
1997Verfahren zur feldmaessigen Bestimmung von Deformationszustaenden in mikroskopisch dimensionierten Prueflingsbereichen
Kuehnert, R.; Schubert, A.; Dost, M.; Vogel, D.; Kaempfe, B.; Michel, B.
Patent
1997X-ray stress analysis by use of an area detector
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Goldenbogen, S.
Journal Article
1996Stress analysis using an area detector
Schubert, A.; Michel, B.; Kämpfe, B.
Conference Paper
1996Verfahren zur roentgendiffraktometrischen Bestimmung von mechanischen Spannungen in einkristallinen Prueflingen
Kaempfe, B.; Kaempfe, A.; Kunath, J.
Patent
1996Zuverlässigkeitsuntersuchungen an AlN-Cu-Verbunden
Auerswald, E.; Kämpfe, B.; Dudek, R.; Faust, W.
Book Article
1995Einsatzmöglichkeiten des Flächendetektors zur röntgenographischen Spannungsmessung in der Mikrosystemtechnik
Kämpfe, B.; Schubert, A.; Goldenbogen, S.; Tränkner, K.
Conference Paper
1995Röntgendiffraktometrische Analyse von mechanischen Spannungen zur Bewertung von Materialien und Technologien im Fertigungsprozeß der Mikroelektronik
Kämpfe, B.; Opper, D.
Conference Paper
1995Röntgendiffraktometrische Analyse von mechanischen Spannungen zur Bewertung von Materialien und Technologien im Fertigungsprozeß der Mikroelektronik
Kämpfe, B.; Opper, D.; Krause, F.
Conference Paper
1995Röntgenfeinstrukturanalyse
Kämpfe, B.; Hunger, H.-J.
Book Article
1995Röntgenographische Spannungsanalyse mit dem Flächendetektor
Kämpfe, B.; Schubert, A.; Krause, F.; Goldenbogen, S.; Auerswald, E.
Book Article
1995Zuverlässigkeitsuntersuchungen an AlN-Verbunden, angewendet auf die Mikrosystem-Modultechniken
Auerswald, E.; Dudek, R.; Faust, W.; Kämpfe, B.
Conference Paper
1994Bestimmung mechanischer Spannungen in Mikrosystemen mit röntgendiffraktometrischen Verfahren
Kämpfe, B.
Conference Paper
1994Röntgenographische Analyse von mechanischen Eigenspannungen in Mikrosystemen - Anwendungsmöglichkeiten, Beispiele und gerätetechnische Voraussetzungen
Kämpfe, B.; Opper, D.
Conference Paper
1994Use of an x-ray imaging plate for stress analysis
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Ermrich, M.; Auerswald, E.; Tränkner, K.
Conference Paper
1994X-ray residual stress analysis in components of microsystem technology
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Michel, B.
Conference Paper
1993Analysis of stress distributions in the crack tip surrounding
Auerswald, E.; Schubert, A.; Auersperg, J.; Kämpfe, B.
Book Article
1993Determination of residual stress in a ceramic multilayer chip capacitor
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Dudek, R.; Skurt, L.
Conference Paper
1993X-ray analysis of residual stress gradients and textures in thin coatings
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Auerswald, E.; Michel, B.
Conference Paper
1993X-ray analysis of residual stress gradients and textures in thin coatings
Schubert, A.; Kämpfe, B.; Auerswald, E.
Conference Paper
1992Vorrichtung zur Aufnahme eines Prueflings in einem stationaeren Diffraktometer
Kaempfe, B.; Hirsch, T.; Auerswald, E.; Koertel, G.
Patent