Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2020Ellipsometric inline inspection of dielectric substrates with nonplanar surfaces
Hartrumpf, Matthias; Chen, Chia-Wei; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen
Journal Article
2020Retroreflex ellipsometry for isotropic substrates with nonplanar surfaces
Chen, Chia-Wei; Hartrumpf, Matthias; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen
Journal Article
2019Measurement of ellipsometric data and surface orientations by modulated circular polarized light
Chen, Chia-Wei; Hartrumpf, Matthias; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen
Journal Article, Conference Paper
2018Leitfaden zur Bildverarbeitung in der zerstörungsfreien Prüfung
Aderhold, Jochen; Beran, Philip; Ernst, Jürgen; Getto, Sascha; Goetz, Jürgen; Hanke, Randolf; Hartrumpf, Matthias; Heinrich, Matthias; Hildenbrand, Markus; Hiller, Karl-Heinz; Jonuscheit, Joachim; Jungmann, Christian; König, Niels; Koster, Dirk; Krause, Julius; Lugin, Sergey; Meinlschmidt, Peter; Meyer, Johannes; Movahed, Ali; Mörchel, Philipp; Negara, Christian; Nüßler, Dirk; Oswald, Jan; Rabe, Ute; Rick, Rainer; Salamon, Michael; Schöberl, Michael; Henning, Schulte; Spies, Martin; Szielasko, Klaus; Tschuncky, Ralf; Valeske, Bernd; Waschkies, Thomas
: Sackewitz, Michael
Book
2018SNR-optimized image fusion for transparent object inspection
Meyer, J.; Melchert, Wolfgang; Hartrumpf, Matthias; Längle, Thomas; Beyerer, Jürgen
Conference Paper
2017Automatische Sichtprüfung komplex geformter, transparenter Objekte
Hartrumpf, Matthias; Meyer, J.
Book Article
2017Ellipsometrische Inline-Prüfung
Hartrumpf, Matthias; Negara, Christian
Book Article
2017Vorrichtung zur Bestimmung des Polarisationszustandes durch Messung von mindestens drei Stokes-Parametern
Hartrumpf, Matthias; Negara, Christian
Patent
2014Ellipsometrie an gekrümmten Oberflächen
Negara, Christian; Hartrumpf, Matthias
Conference Paper
2011Process for inspection and sorting of colored and transparent materials
Längle, Thomas; Hartrumpf, Matthias; Vieth, Kai-Uwe; Heintz, R.; Struck, Günter
Book Article