Fraunhofer-Gesellschaft

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Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.
2014Analysis of the topography and the sub-surface damage of Cz- and mc-silicon wafers sawn with diamond wire
Buchwald, R.; Würzner, S.; Fröhlich, K.; Fuchs, M.; Retsch, S.; Lehmann, T.; Möller, H.J.
Conference Paper
2014Nanoscale characterization of TiO2 films grown by atomic layer deposition on RuO2 electrodes
Murakami, Katsuhisa; Rommel, Mathias; Hudec, Boris; Rosová, Alica; Hušeková, Krístina; Dobročka, Edmund; Rammula, Raul; Kasikov, Arne; Han, Jeong Hwan; Lee, Woongkyu; Song, Seul Ji; Paskaleva, Albena; Bauer, Anton J.; Frey, Lothar; Fröhlich, Karol; Aarik, Jaan; Hwang, Cheol Seong
Journal Article
2013Analysis of the sub-surface damage of mc- and Cz-Si wafers sawn with diamond-plated wire
Buchwald, R.; Fröhlich, K.; Würzner, S.; Lehmann, T.; Sunder, K.; Möller, H.J.
Journal Article
2012Nanoscale characterization of TiO2 films grown by atomic layer deposition
Murakami, Katsuhisa; Rommel, Mathias; Bauer, Anton J.; Frey, Lothar; Hudec, Boris; Rosova, A.; Hueková, K.; Fröhlich, Karol; Kasikov, A.; Ramula, R.; Aarik, J.; Han, J.H.; Han, S.; Lee, W.; Song, S.J.; Hwang, C.S.
Poster
2012TiO2-based metal-insulator-metal structures for future DRAM storage capacitors
Fröhlich, K.; Hudec, B.; Tapajna, M.; Hueková, K.; Rosova, A.; Eliá, P.; Aarik, J.; Rammula, R.; Kasikov, A.; Arroval, T.; Aarik, L.; Murakami, Katsuhisa; Rommel, Mathias; Bauer, Anton J.
Conference Paper
2007Guided wave based structural health monitoring of piping systems
Schubert, F.; Frankenstein, B.; Fröhlich, K.-J.; Küttner, M.
Conference Paper
2007Structural health monitoring of industrial piping systems using guided elastic waves
Schubert, F.; Frankenstein, B.; Hentschel, D.; Fröhlich, K.-J.; Küttner, M.; Lamek, B.; Schwenkkros, J.; Kerkhof, K.; Petricevic, R.
Conference Paper
2005Microsystem for signal processing applications
Frankenstein, B.; Fröhlich, K.-J.; Hentschel, D.; Reppe, G.
Conference Paper
2005Statistical signal parameters of acoustic emission for process monitoring
Stephan, M.; Fröhlich, K.-J.; Frankenstein, B.; Hentschel, D.
Conference Paper
2005Verfahren zur aktiven Anregung von elastischen Wellen in Bauteilen
Koehler, B.; Froehlich, K.
Patent
2004Ansätze zur permanenten Betriebs-Überwachung von Drehgestellen
Hentschel, D.; Frankenstein, B.; Fröhlich, K.-J.; Liewers, P.; Trepte, M.
Journal Article
2004Approaches to the continuous monitoring of bogies in service
Hentschel, D.; Fröhlich, K.-J.; Liewers, P.; Frankenstein, B.; Trepte, M.
Journal Article
2004Verfahren zum Ueberwachen gegebenenfalls auch Vermessen der Unrundheit eines im Betrieb befindlichen, laengs eines Schienenstranges abrollenden Rades, das am Drehgestell eines schienengebundenen Fahrzeuges angebracht ist
Frankenstein, B.; Froehlich, K.; Hentschel, D.; Liewers, P.; Trepte, M.
Patent
2003Ansätze zur permanenten Betriebs-Überwachung von Drehgestellen
Hentschel, D.; Frankenstein, B.; Fröhlich, K.-J.; Liewers, P.; Trepte, M.
Conference Paper
2003Defects in (La(0.7)Sr(0.3)Mno(3)/SrTiO3)(15) superlattices grown by pulsed injection MOCVD
Rosina, M.; Audier, M.; Dubourdieu, C.; Fröhlich, K.; Weiss, F.
Journal Article
2002Verfahren zur Qualitaetspruefung von Bauteilen
Froehlich, K.; Frankenstein, B.
Patent
2000Akustische Prozeßüberwachung mit Hilfe statistischer Signalkenngrößen
Fröhlich, K.-J.; Stephan, M.
Conference Paper
2000Thermisch isolierendes Bauelement
Froehlich, K.; Plenzig, S.; Sedlbauer, K.; Hoffmann, J.; Koenig, N.; Wichtler, A.
Patent
2000Verfahren zur Kontrolle eines Saegeprozesses
Schwirtlich, I.; Weber, K.; Froehlich, K.; Stephan, M.; Pridoehl, E.
Patent